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公开(公告)号：CN118310966A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410632837.1
申请日：2024-05-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及探测器成像技术领域，尤其涉及一种基于单光子的高性能紫外成像探测器及其成像方法，其中的成像方法包括S1：入射光谱准直后均匀入射并铺满数字微镜器件；S2：根据数字微镜器件与面阵单光子计数器之间的等效映射关系对数字微镜器件的微镜阵列进行翻转，使入射光谱反射到面阵单光子计数器的同一个等效像元内，获得光谱信号。本发明既保留了位敏阳极面阵单光子计数器对于紫外波段的高灵敏度探测能力，又弥补了位敏阳极面阵单光子计数器因等效像元大导致的空间分辨率差的问题，从而有效提高探测分辨能力。
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公开(公告)号：CN114252753B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202111597700.X
申请日：2021-12-24
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于筛选四象限探测器的方法和系统，该方法先对所有待筛选的四象限探测器进行暗电流测试，记录各个四象限探测器各通道的第一暗电流；而后在无光环境下，对所有待筛选的四象限探测器进行加光测试，获取各个待筛选的四象限探测器各通道的第一响应度信息；而后对所有待筛选的四象限探测器进行一项或多项筛选试验，而后再＝进行暗电流测试和加光测试，分别记录第二暗电流和第二响应度信息；而后通过比对第一暗电流和第二暗电流的变化值、以及第一响应度信息和第二响应度信息的变化值筛选出符合要求的四象限探测器。通过本申请的方案可以有效分析出四象限探测器的环境适应性，使得最终筛选出的四象限探测器具有足够的可靠性。
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公开(公告)号：CN113091894A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN201911336341.5
申请日：2019-12-23
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供的极紫外波段成像探测器，在光纤面板窗口上表面镀制极紫外荧光膜，将极紫外辐射转换成可见光辐射，再将可见光辐射做单光子计数成像，其中的光纤面板窗口即起到波长转换与减少光辐射传递过程中传递函数下降作用，又起到对单光子计数成像探测器密封作用，解决了极紫外波段单光子计数成像探测器只能在高真空环境下工作和存储的技术难题，可以广泛应用于空间探测、科学研究、国防建设等在工程研制中具有广阔的应用。
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公开(公告)号：CN113932783A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111217036.1
申请日：2021-10-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本申请属于光机电一体化设备技术领域，提供一种太阳边缘检测仪器，依次包括依次滤光片系统、望远镜主镜、望远镜次镜、分割狭缝、探测器、信号处理单元，太阳光经所述滤光片系统变成单色的太阳光辐射，太阳光辐射经所述望远镜主镜、所述望远镜次镜，并由所述分割狭缝将太阳图像分割成若干小区域，成像到所述探测器的像面上，再经所述信号处理单元对探测器内的光信号放大和处理，得到太阳边缘信息和中心位置信息。本申请的检测仪器具有结构简单，所用光电器件的可靠性高，能够精确监测太阳位置变化。
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公开(公告)号：CN111060289B
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201911377982.5
申请日：2019-12-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，涉及天文目标观测和检测领域，该装置包括：低亮度太阳模拟装置、带通滤光片和单光子计数成像探测器；所述的带通滤光片设置在待测日冕仪和单光子计数探测器中间，所述单光子计数探测器设置在待测日冕仪的焦面上；所述的低亮度太阳模拟装置发出32′全视场的模拟太阳光进入待测日冕仪，带通滤光片对待测波段进行波长选择，单光子计数成像探测器检测待测日冕仪的杂光亮度和太阳日面亮度。本发明通过分别测量太阳日面辐射和日冕仪杂光辐射，即可实现对日冕仪杂光抑制能力的检测，克服了在低海拔地区由于大气散射的影响导致无法利用太阳辐射直接进行日冕仪杂光抑制能力检测的困难。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113043196A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201911373963.5
申请日：2019-12-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: B25B11/02
Abstract: 本申请提供了一种微通道板固定装置，包括环形底座，依次叠压在所述底座上的收集极、第二弹性压环、绝缘板、微通道板底座、绝缘定位环、微通道板、弧形定位环、第一弹性压环，所述第二弹性压环和所述底座夹持所述收集极，实现对所述收集极的上表面、侧面、下表面定位；所述弧形定位环、绝缘定位环和所述微通道板底座夹持所述微通道板，实现对所述微通道板的上表面、侧面、下表面定位。本申请的一种微通道通道板的固定装置，可以对微通道板进行减震固定，保证微通道板两面受力均匀，弹性压圈具有一定的弹性缓冲能力，通过设计控制压圈的弹性模量做到对微通道板固定所需压紧力的精准控制。
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公开(公告)号：CN111157108A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201911363202.1
申请日：2019-12-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种空间X射线光度计，其中入光口光阑位于锥形X射线掠入射光学系统的入射侧；重金属中心遮挡板位于入光口光阑的中心，且入光口光阑上设有入光口薄膜滤光片；滤光轮位于锥形X射线掠入射光学系统的出射侧，且滤光轮上设有若干个不同工作波段的出射薄膜滤光片；光电二极管探测器接收经过出射薄膜滤光片滤光后的X射线辐射，并对X射线辐射进行光电转化后输出电信号至电信号采集系统。本发明利用锥形X射线掠入射光学系统滤掉高能部分X射线辐射，同时利用薄膜滤光片滤掉低能部分X射线辐射，实现了对X射线波段辐射绝对辐射亮度的高精度测量，并且本发明的空间X射线光度计具有体积小、重量轻、可靠性高的特点。
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公开(公告)号：CN111060289A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201911377982.5
申请日：2019-12-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，涉及天文目标观测和检测领域，该装置包括：低亮度太阳模拟装置、带通滤光片和单光子计数成像探测器；所述的带通滤光片设置在待测日冕仪和单光子计数探测器中间，所述单光子计数探测器设置在待测日冕仪的焦面上；所述的低亮度太阳模拟装置发出32′全视场的模拟太阳光进入待测日冕仪，带通滤光片对待测波段进行波长选择，单光子计数成像探测器检测待测日冕仪的杂光亮度和太阳日面亮度。本发明通过分别测量太阳日面辐射和日冕仪杂光辐射，即可实现对日冕仪杂光抑制能力的检测，克服了在低海拔地区由于大气散射的影响导致无法利用太阳辐射直接进行日冕仪杂光抑制能力检测的困难。
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公开(公告)号：CN105424176B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201510736505.9
申请日：2015-11-03
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种微光成像探测器包括：壳体（7）、输入窗口（1）、光电阴极层（2）、微通道板像增强器（3）、感应编码阳极（4）、真空电极（6）和电极引线（5），其中，输入窗口（1）和金属制壳体（7）构成密闭的高真空环境，所述光电阴极层（2）、微通道板像增强器（3）、感应编码阳极（4）和阳极引线（5）均置于高真空环境中；该微光成像探测器可以有效降低探测图像的像差，减少使用光学元件数量，提高成像质量，具有结构简单，设计合理，制备过程简单，制备效率高，质量好等优点。
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公开(公告)号：CN106768329A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611131954.1
申请日：2016-12-09
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2823
Abstract: 本发明公开了一种空间远紫外高灵敏度电离层成像仪，包括主体、首镜、次镜、三镜及光子计数探测器，其中，三个反射镜沿光线传递方向依次设置在主体内，其三个反射镜上均镀有窄带反射多层膜或带通反射多层膜；光子计数探测器设置在主体内并位于光路末端；上述成像仪根据成像目标的辐射特性对成像系统的光谱响应带宽要求，直接在反光镜表面镀制相应工作波段的反射多层膜，从而简化系统光路，缩小体积，减轻重量，降低研制难度和成本，而光子计数探测器能够在不增加光学系统口径的前提下提高成像系统响应效率，并且能够以计数形式对微弱目标成像，且暗噪声极低，其成像信噪比远高于一般的微弱目标成像探测器，从而达到提高探测灵敏度的目的。
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