基于DOE的入射光束角度标定装置及方法

    公开(公告)号:CN110307807A

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201910494665.5

    申请日:2019-06-10

    Abstract: 一种基于DOE的入射光束角度标定装置及方法,装置包括激光光源模块、DOE及其夹持台、聚焦透镜、图像探测器以及数据处理设备。所述的激光光源模块的激光输出单元输出准直光束,包括基准光束和待测光束;所述的图像探测器与数据处理设备相连;本发明通过监测基准光束和待测光束通过DOE后的中央衍射光束在图像探测器上的偏差,以此标定待测光束是否以预期角度入射DOE,用于解决现存基于DOE的应用系统无法判定入射光束实际入射角度的问题,进一步提升应用系统的精度。

    非接触式光纤表面张力加载测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN110160677A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201910424007.9

    申请日:2019-05-21

    Abstract: 一种非接触式光纤表面张力加载测量装置和测量方法,该装置包括左光纤夹具、右光纤夹具、左光纤压块、右光纤压块、张力传递机构、刚性连接杆、张力传感器、张力测控单元、左侧底板和直线位移台。本发明可以快速感应到光纤表面张力的实时变化,并且能够精确地测量出光纤表面的张力的大小,同时通过计算出的数值能够反应出光纤是否弯曲或者被拉伸,通过这些参数可以采用移动直线位移台进行拉伸或者压缩光纤表面张力,控制光纤表面张力并保持平衡,能够对光纤、光纤合束器、分路器等器件的制备具有重要的应用价值。为高功率光纤器件的制备加载指定张力具有重要的应用价值。

    三色光源共光轴颗粒粒度测量装置

    公开(公告)号:CN110057726A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910206205.8

    申请日:2019-03-19

    Abstract: 一种三色光源共光轴颗粒粒度测量装置,包括三色光源、循环样品池、接收单元和信号处理单元四部分;三色光源由光纤激光光源、He-Ne激光管、LED光源、短焦距傅里叶透镜、闪耀光栅、宽带反射镜和长焦距傅里叶透镜组成;循环样品池以可拆卸方式安装在主光路中,并可沿主光轴方向移动;接收单元包含多个光电探头,以多个分离的方式设置在长焦距傅里叶透镜后焦平面处,以及在以循环样品池为中心的、与光轴成规定角度的圆周上;所述的信号处理单元由数据处理单元和控制单元组成。本发明用于弥补现存衍射散射式颗粒粒度测量法光学结构复杂、校准难度大的不足,解决粒径范围在10nm-3500μm内固体或液体颗粒的粒度测量问题。

    DOE衍射角的测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN109883655A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201910097737.2

    申请日:2019-01-31

    Abstract: 一种DOE衍射角测量装置,包括单频激光器模块、供待测DOE放置的角度旋转台、傅里叶透镜和光斑显示模块;该光斑显示模块由图像探测器和与该图像探测器相连的数据处理设备组成。本发明通过旋转角度旋转台使待测衍射光束光斑在旋转后重新回到原位,可实现DOE各衍射光束衍射角测量,用于弥补现存DOE衍射角直接测量方法的装置结构复杂、测量系统位置精度要求高、数据处理繁杂等不足,解决分光型DOE衍射角直接测量读取问题。

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