一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置

    公开(公告)号:CN208206053U

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201820382771.5

    申请日:2018-03-21

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于发散光束光学系统的倍频晶体特征角度的测量装置。该装置由照明光源、定位基准元件、发散透镜、待测晶体、匹配透镜和CCD组成。用于照明的平行光束注入整个测量装置,经过定位基准元件、发散透镜后垂直入射到待测晶体表面。然后通过匹配透镜和CCD组成的光学系统将入射光成像于监视CCD上,通过CCD采集图像中的灰度值最大点的位置坐标来反推使倍频效率最大时对应的倍频晶体偏离准直位的夹角,从而得出倍频晶体的特征角度。本实用新型有效的解决了快速精确测量晶体特征角度的难题,消除了在测量过程中因为入射光束不稳定性引入的光束角漂对测试结果的影响,具有测量原理简单,操作简便等优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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