一种双延迟三阶相关仪
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108775966B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201811030194.4

    申请日:2018-09-05

    Abstract: 本发明公开了一种双延迟三阶相关仪。所述的装置中,被测的水平偏振的空间均匀的方形飞秒基频激光脉冲经过分光镜后分成透射光和反射光,透射光再分成两束,以水平对称角度同时入射到倍频晶体,产生垂直偏振的单次自相关倍频信号,该倍频信号与分光镜的反射光束沿垂直面同时入射到和频晶体上,产生双延迟的三阶强度相关三倍频信号,通过简单的递归算法就可以恢复脉冲时间波形。本发明的双延迟三阶相关仪降低了脉冲恢复算法的复杂性,提高了时间准确度,成本低、结构简单,调节方便。

    一种高功率超短激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN104535201A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201510000961.7

    申请日:2015-01-05

    Abstract: 本发明提供了一种高功率超短激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中,在高功率激光脉冲入射方向上依次设置半波片、扩束镜、分束镜Ⅰ,在分束镜Ⅰ的透射光路上设置延迟调节器,在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ;从延迟调节器出射的平行光与从凸透镜Ⅱ出射的平行光并行进入和频晶体,由和频晶体产生的倍频光经柱状凸透镜会聚,会聚光经分束镜Ⅱ、分束镜Ⅲ沿水平方向分成左、中、右三路,经不同衰减后进入各自的光电探测器采集,获得对比度信息。本发明灵敏度高,测试动态范围宽。

    基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN103712699A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201410007476.8

    申请日:2014-01-08

    Abstract: 本发明提供了一种基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中,在高功率激光脉冲入射方向上依次放置准直镜、衰减片、分束镜Ⅰ,在分束镜Ⅰ的透射光路上依次设置倍频晶体、滤波片、分束镜Ⅱ,在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置半波片、分束镜Ⅲ;在分束镜Ⅲ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ、延迟调节器,由倍频晶体产生的倍频光经分束镜Ⅱ分成透射和反射两部分,分别与来自分束镜Ⅲ的透射和反射基频光并行进入两个三阶相关仪,两个三阶相关仪产生的相关信号经CCD采集,最后通过计算机进行数据处理。本发明调节灵活方便,测试动态范围宽。

    一种用于高功率激光测试系统的光纤耦合方法

    公开(公告)号:CN101819298A

    公开(公告)日:2010-09-01

    申请号:CN200910215304.9

    申请日:2009-12-22

    Abstract: 本发明提供了一种用于高功率激光测试系统的光纤耦合方法。被测高功率平行激光束依次经过衰减器、第一透镜、第二透镜、光纤接收端面后进入光纤;第一透镜与第二透镜构成望远缩束系统,第一透镜表面经第二透镜成像到光纤接收端面;光纤接收端面位于第一透镜和第二透镜组成的望远缩束系统的光轴上,并与该光轴垂直。本发明的光纤耦合方法通过光学望远缩束系统与光学成像系统的结合将具有大指向性漂移、大横向偏移的激光束稳定耦合到光纤,本发明的光纤耦合方法简单易行,操作方便,特别适用于高功率激光脉冲时间波形的测试。

    单发次超短激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN101762332A

    公开(公告)日:2010-06-30

    申请号:CN200910263670.1

    申请日:2009-12-17

    Abstract: 本发明提供了一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。所述装置的光路为,被测的平行激光束经过第一半透半反镜后将光变成透射光和反射光,透射光依次经过直角棱镜、第一反射镜、二倍频晶体、滤光片和半波片,反射光经过第二反射镜,两束光以位相匹配角入射到和频晶体上产生三阶自相关信号,三阶自相关信号经第一滤波片和刀口遮挡滤波后用第二半透半反镜将光分成两束,一束光依次经过第一衰减片、第一柱面透镜和第二滤光片后进入第一CCD,另外一束光依次经过遮挡片、第二衰减片、第二柱面透镜和第三滤光片后进入第二CCD,两个CCD对三阶自相关信号分布的主峰和主峰外的区域分别进行测试。本发明可以获得连续的相关信号强度分布信息,可测试单发次超短脉冲对比度达到~106左右。

    一种纳秒级脉冲激光波形测量方法

    公开(公告)号:CN109596229A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811532284.3

    申请日:2018-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种纳秒级脉冲激光波形测量方法。该测量方法中,被测平行光束通过会聚透镜后,进入分光镜组,分成多束光,每路光束依次通过衰减器、取样镜、能量计和半导体光电探测器,半导体光电探测器输出电信号通过电缆进入示波器;各路光按顺序与示波器通道一一对应,示波器测试数据通过网线送入计算机。示波器排序最后通道波形为完整脉冲波形,对应光路半导体光电探测器工作于线性动态区间内,其余通道对应光路半导体光电探测器工作于饱和区内;示波器各通道脉冲波形依次拼接获得具有高对比度的脉冲波形。该测量方法在确保测量设备处于安全运行状态下可以获得大的线性测量范围,特别适用于高功率激光装置纳秒级脉冲激光波形的测量。

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