一种纳秒级脉冲激光波形测量方法

    公开(公告)号:CN109596229A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811532284.3

    申请日:2018-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种纳秒级脉冲激光波形测量方法。该测量方法中,被测平行光束通过会聚透镜后,进入分光镜组,分成多束光,每路光束依次通过衰减器、取样镜、能量计和半导体光电探测器,半导体光电探测器输出电信号通过电缆进入示波器;各路光按顺序与示波器通道一一对应,示波器测试数据通过网线送入计算机。示波器排序最后通道波形为完整脉冲波形,对应光路半导体光电探测器工作于线性动态区间内,其余通道对应光路半导体光电探测器工作于饱和区内;示波器各通道脉冲波形依次拼接获得具有高对比度的脉冲波形。该测量方法在确保测量设备处于安全运行状态下可以获得大的线性测量范围,特别适用于高功率激光装置纳秒级脉冲激光波形的测量。

    基于三阶相关法的激光脉冲波形测量装置

    公开(公告)号:CN106052886A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610549016.7

    申请日:2016-07-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于三阶相关法的激光脉冲波形测量装置。被测的平行激光束经过分光镜后将光变成透射光和反射光,透射光经半透半反镜再一次分成透射光和反射光,所述的透射光和反射光经倍频晶体产生二倍频光,将时间强度信息转换为强度自相关一维空间信息,该二倍频光束与分光镜后的反射光束在和频晶体上实现三倍频转换,将时间强度信息转换为强度三阶相关二维空间信息。本发明通过简单的重构技术,不仅能够获得脉冲宽度信息,还能够精确地获得脉冲波形信息,能够处理皮秒、飞秒脉冲波形。测量装置成本低、结构简单,调节方便。

    基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN103712699B

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201410007476.8

    申请日:2014-01-08

    Abstract: 本发明提供了一种基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中,在高功率激光脉冲入射方向上依次放置准直镜、衰减片、分束镜Ⅰ,在分束镜Ⅰ的透射光路上依次设置倍频晶体、滤波片、分束镜Ⅱ,在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置半波片、分束镜Ⅲ;在分束镜Ⅲ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ、延迟调节器,由倍频晶体产生的倍频光经分束镜Ⅱ分成透射和反射两部分,分别与来自分束镜Ⅲ的透射和反射基频光并行进入两个三阶相关仪,两个三阶相关仪产生的相关信号经CCD采集,最后通过计算机进行数据处理。本发明调节灵活方便,测试动态范围宽。

    单发次超短激光脉冲对比度测量装置

    公开(公告)号:CN101762332B

    公开(公告)日:2011-05-11

    申请号:CN200910263670.1

    申请日:2009-12-17

    Abstract: 本发明提供了一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。所述装置的光路为,被测的平行激光束经过第一半透半反镜后将光变成透射光和反射光,透射光依次经过直角棱镜、第一反射镜、二倍频晶体、滤光片和半波片,反射光经过第二反射镜,两束光以位相匹配角入射到和频晶体上产生三阶自相关信号,三阶自相关信号经第一滤波片和刀口遮挡滤波后用第二半透半反镜将光分成两束,一束光依次经过第一衰减片、第一柱面透镜和第二滤光片后进入第一CCD,另外一束光依次经过遮挡片、第二衰减片、第二柱面透镜和第三滤光片后进入第二CCD,两个CCD对三阶自相关信号分布的主峰和主峰外的区域分别进行测试。本发明可以获得连续的相关信号强度分布信息,可测试单发次超短脉冲对比度达到~106左右。

    一种高对比度纳秒级脉冲激光波形测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN114112076A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111410010.9

    申请日:2021-11-25

    Abstract: 本发明公开了一种高对比度纳秒级脉冲激光波形测量装置,所述装置包括:光纤耦合器、光纤分束器I、可调光纤衰减器、光纤脉冲复制器、光纤分束器II、光纤准直器、能量计、半导体光电探测器、示波器和计算机;所述光纤分束器I连接光纤耦合器,光纤分束器I将待测激光分为能量相等的四束。通过本发明公开的装置可以获取激光波形的不同截断部分的波形数据,最后将数据进行平均和拼接即可获得高对比度纳秒级脉冲激光波形。本发明公开的激光波形测量装置能够实现实现高功率、高对比度纳秒级脉冲激光波形的测量,尤其适用于大型高功率激光装置复杂纳秒脉冲时间波形的精密测量。

    一种单发次皮秒激光脉冲波形测量装置

    公开(公告)号:CN109682483A

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201910101971.8

    申请日:2019-02-01

    CPC classification number: G01J11/00

    Abstract: 本发明公开了一种单发次皮秒激光脉冲波形测量装置。被测的皮秒激光脉冲方形光束经衍射光栅衍射扩束并产生脉冲前沿倾斜,再经柱状透镜组成的共焦系统扩束成方形光束,该方形光束被分光镜分成三路,其中两路从水平方向同时对称入射到非线性晶体Ⅰ进行倍频转换,产生的倍频光束与正交旋转后的第三路基频光束在竖直面上沿固定角度同时入射到非线性晶体Ⅱ进行和频转换,产生的三倍频光束经成像透镜后被CCD接收,CCD输出的双延迟三阶相关信号经过数据处理后即可获得脉冲波形信息。该装置采用衍射光栅进行扩束和脉冲前沿倾斜,加大了非线性晶体内进行频率转换的光束间的夹角,将测量范围从传统的几个皮秒扩大至百皮秒。该装置结构简单,调节方便。

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