一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法

    公开(公告)号:CN113203548A

    公开(公告)日:2021-08-03

    申请号:CN202110305891.1

    申请日:2021-03-23

    IPC分类号: G01M11/00 G02B6/255

    摘要: 本发明公开了一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法,涉及光纤测量技术领域,双包层光纤纤芯损耗的测试装置包括光源发生装置、待测双包层光纤、光电探测器和包层光滤除组件,所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤和后置单包层传能光纤;所述前置单包层传能光纤一端接收光源发生装置发出的信号光形成注入端,另一端与待测双包层光纤的始端连接形成连接端;所述后置单包层传能光纤一端向光电探测器传递信号光形成输出端,另一端与待测双包层光纤的末端连接形成连接端。本发明提供的双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法,通过包层光滤除组件确保将包层光完全滤除,消除了因滤除包层光不彻底而造成的干扰,提高了纤芯损耗的测试精度。

    一种全光纤结构的掺镱石英光纤光暗化测试装置及方法

    公开(公告)号:CN111006848A

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201911237700.1

    申请日:2019-12-06

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本发明公开了一种全光纤结构的掺镱石英光纤光暗化测试装置,信号源输出的信号光依次通过光纤法兰、光纤衰减器衰减之后,与第一泵浦源输出的泵浦光经过波分复用器合成合束光;合束光与第二泵浦源输出的泵浦光分别通过光纤合束器的信号端与泵浦端输入,光纤合束器的输出光沿掺镱光纤传输,掺镱光纤的输出端与包层光剥离器的输入端熔接,包层光剥离器的输出光束经过低光子暗化滤光光纤进入光功率探测器;低光子暗化滤光光纤为掺Yb光纤;掺杂Yb2O3的浓度不高于0.1%wt。本发明的有益效果为光暗化测试装置为全光纤结构,测试系统结构紧凑,测试方法简单,器件成本低,可以精确调控信号源功率,优化测试条件,测试信噪比高。

    一种用于电子探针测试的石英光纤样品的制备方法

    公开(公告)号:CN115876818A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202211578913.2

    申请日:2022-12-07

    摘要: 本发明公开了一种用于电子探针测试的石英光纤样品的制备方法,其包括一种光纤载具,光纤载具上设置有与待测光纤相匹配的光纤凹槽;其制备方法包括以下步骤:首先对待测光纤直径进行判断,选取适宜的切割进行切割,在切割时,光纤切割角度不大于1.5°;根据待测光纤的直径选取与之相适配的光纤载具,将切割好的待测光纤转移到与之相适配光纤载具的光纤凹槽中;从待测光纤的切割端面推动待测光纤,使得待测光纤切割端面与光纤载具的上端面平齐;采用导电胶带横跨整个设置有待测光纤的光纤载具端面进行粘贴,导电胶带的粘贴位置低于光纤载具的端面设置;将粘贴有光纤的光纤载具放入真空镀碳仪中进行镀碳处理。

    一种全光纤结构的掺镱石英光纤光暗化测试装置及方法

    公开(公告)号:CN111006848B

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN201911237700.1

    申请日:2019-12-06

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本发明公开了一种全光纤结构的掺镱石英光纤光暗化测试装置,信号源输出的信号光依次通过光纤法兰、光纤衰减器衰减之后,与第一泵浦源输出的泵浦光经过波分复用器合成合束光;合束光与第二泵浦源输出的泵浦光分别通过光纤合束器的信号端与泵浦端输入,光纤合束器的输出光沿掺镱光纤传输,掺镱光纤的输出端与包层光剥离器的输入端熔接,包层光剥离器的输出光束经过低光子暗化滤光光纤进入光功率探测器;低光子暗化滤光光纤为掺Yb光纤;掺杂Yb2O3的浓度不高于0.1%wt。本发明的有益效果为光暗化测试装置为全光纤结构,测试系统结构紧凑,测试方法简单,器件成本低,可以精确调控信号源功率,优化测试条件,测试信噪比高。