有限物距畸变测量方法及系统

    公开(公告)号:CN107063644B

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN201710416016.4

    申请日:2017-06-05

    Abstract: 本发明提出一种有限物距畸变测量方法及系统,该方法包括以下步骤:S1:提供一目标测量平面,所述目标测量平面上阵列式排布有多个测量标识点,所述测量标识点的实际间距已知;S2:镜头调整物距,在调整后的物距下对所述目标测量平面进行图像拍摄;S3:识别拍摄得到图像中的目标测量平面上的测量标识点,选取图像中的测量标识点,根据测量标识点的显示间距与实际间距、及对应物距,计算镜头的近轴焦距和不同视场处的轴外焦距;S4:计算不同视场角处的轴外焦距与近轴焦距的相对值,得到相应视场角下的相对畸变。可对光学镜头畸变指标进行测量。

    一种用于FPGA的抗单粒子翻转加固系统及其方法

    公开(公告)号:CN103325411B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201310246133.2

    申请日:2013-06-20

    Abstract: 本发明提供了一种用于FPGA的抗单粒子翻转加固系统,其包括时钟脉冲源、回读刷新控制器件、外部配置输入、FPGA、PROM、外部通信接口,所述时钟脉冲源、外部配置输入单元、FPGA、PROM以及外部通信接口分别与所述回读刷新控制器件连接;其中所述时钟脉冲源向所述回读刷新控制器件提供时钟脉冲,所述外部配置输入单元通过输入选择信号对系统的初始数据进行配置,所述PROM为可编程只读寄存器,其内存放有所述FPGA的原始配置数据,所述回读刷新控制器件完成对所述FPGA的配置数据的加载、回读以及刷新,所述外部通信接口为用户提供对系统发送遥控指令与接收系统的遥测指令的接口。

    一种用于FPGA的抗单粒子翻转加固系统及其方法

    公开(公告)号:CN103325411A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201310246133.2

    申请日:2013-06-20

    Abstract: 本发明提供了一种用于FPGA的抗单粒子翻转加固系统,其包括时钟脉冲源、回读刷新控制器件、外部配置输入、FPGA、PROM、外部通信接口,所述时钟脉冲源、外部配置输入单元、FPGA、PROM以及外部通信接口分别与所述回读刷新控制器件连接;其中所述时钟脉冲源向所述回读刷新控制器件提供时钟脉冲,所述外部配置输入单元通过输入选择信号对系统的初始数据进行配置,所述PROM为可编程只读寄存器,其内存放有所述FPGA的原始配置数据,所述回读刷新控制器件完成对所述FPGA的配置数据的加载、回读以及刷新,所述外部通信接口为用户提供对系统发送遥控指令与接收系统的遥测指令的接口。

Patent Agency Ranking