一种雷达电路板故障诊断方法
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106779066A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611100004.2

    申请日:2016-12-02

    CPC classification number: G06N3/08 G06F17/30705

    Abstract: 本发明公开了一种雷达电路板故障诊断方法,该方法包含如下步骤:S1,建立一级故障案例库,并对每个一级故障案例库分别建立若干个故障案例子案例库;S2,确定神经网络拓扑结构和网络参数,构建基于神经网络的专家系统,将转化好的新案例输入神经网络进行故障类别辨识,在确定一级故障类别后,在其对应的故障类别子案例库中继续应用次层神经网络计算出新案例与子案例库的相似度,最后输出相似度高于指定值的案例为新案例的目标案例。本发明在充分参考雷达故障诊断实践经验的基础上,综合运用案例库、数据库和多重RBF神经网络信息技术,利用专家经验知识推理出雷达电路板故障诊断结果。

    电路测试方法及适用的测试系统

    公开(公告)号:CN105301481A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510807599.4

    申请日:2015-11-20

    Abstract: 本发明公开一种电路测试方法,该方法包含:被测对象的特性、测试仪器,以及各被测对象与测试仪器之间的连接关系存入数据库,建立被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型;确立当前测试的被测对象,从数据库中查询当前测试的被测对象的被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型;根据被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型,启动测试仪器对当前测试的被测对象进行测试。本发明利用数据库建立系统模型,可灵活地根据测试需求对被测对象测试仪器信息进行编辑,实现测试方法的通用性,缩短开发周期,建立的连接关系模型对开关资源进行智能配置,有效地防止人工错误而造成质量事故。

    一种用于自动测试系统的测试任务管理方法

    公开(公告)号:CN117194223A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310985008.7

    申请日:2023-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种用于自动测试系统的测试任务管理方法,包括:根据待测产品的全生产过程,整理所有的测试项目,以创建测试项目库;将测试方法相近、所使用仪器相同的测试项目划分为一组,以创建测试项目分组库;根据产品的生产阶段,在所有的测试项目中选择对应的一测试项目,记录所选择的测试项目的信息,以创建测试任务库,同一测试任务适配一个或多个生产阶段,一生产阶段仅适配一测试任务。本发明具有较好的可扩展性和灵活性,实现了测试流程、测试设备与测试参数和测试模块独立区分,有效避免由于测试需求更改或者测试设备变更频繁更新软件,缩短了测试软件的开发周期,并且提高了测试软件的稳定性和可靠性。

    一种测量温度的电容式传感器

    公开(公告)号:CN111351596A

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN202010317260.7

    申请日:2020-04-21

    Abstract: 本发明公开了一种测量温度的电容式传感器,为圆柱体形状,包含:圆柱状的内电极;套设于内电极外周的外电极;夹设在内电极和外电极之间的电介质薄膜;所述的内电极的热膨胀系数大于外电极的热膨胀系数;所述的电介质薄膜的厚度需小于等于外电极半径的1/100;当外周温度发生变化时,电介质薄膜因受到内电极的膨胀挤压而使其厚度发生改变,使得电容式传感器的电容值发生改变。本发明具有灵敏度高,结构简单,适用场景多等优点;且电容式传感器的感温介质具有多样选择性。

    一种TR组件波控电路快速定量测试验证系统和方法

    公开(公告)号:CN108051619A

    公开(公告)日:2018-05-18

    申请号:CN201711263273.5

    申请日:2017-12-05

    Abstract: 本发明涉及一种TR组件波控电路快速定量测试验证系统和方法,基于PXIe总线和LAN总线架构,包含:主控计算机;内置测控组件,与主控计算机通过PXIe总线连接,包含控制型测控组件和功能型测控组件;外挂测控组件,与主控计算机通过LAN网线连接;通用测试接口,分别与内置测控组件以及外挂测控组件连接;接口测试适配器,一端与通用测试接口连接,另一端通过测试绑线与被测TR组件波控电路连接;电源模块,一端通过内置测控组件与主控计算机连接,另一端与通用测试接口连接。本发明能全程自动化的对TR组件波控电路的各项参数指标进行快速精确测试和定量验证,有效避免因人工干预而带来的干扰和误差,提高测试结果的准确性和可靠性,降低测试时间。

    一种多片DSP芯片的自动化程序烧写方法

    公开(公告)号:CN106528203A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610883342.1

    申请日:2016-10-10

    Abstract: 本发明涉及一种多片DSP芯片的自动化程序烧写方法,通过串行总线实现上位机与具有多片DSP芯片的处理机之间的数据通信;包含:S1、上位机向处理机发送开始烧写DSP芯片程序的指令,并通过串行总线将需要烧写的数据文件传输至处理机;S2、上位机通过处理机内的FPGA单元对主DSP芯片进行自动程序烧写,并对烧写的中间状态进行监控;S3、上位机通过处理机内的FPGA单元和主DSP芯片对次DSP芯片进行自动程序烧写,并对烧写的中间状态进行监控;S4、重复执行S3,直至完成所有次DSP芯片的自动程序烧写。本发明能实现批量DSP芯片的自动化程序烧写,并且对整个烧写过程进行实时监控以确保准确性。

    测试适配器对被测电路板的智能识别系统及其识别方法

    公开(公告)号:CN103884955A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201410104013.3

    申请日:2014-03-19

    Inventor: 曲海山 龚明 冯云

    Abstract: 本发明公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别系统,包含:主继电器;与主继电器的输入端连接的测量器;主继电器的输入端连接若干输出端中的一个;适配器;适配器包含多个接插件管脚;主继电器的多个输出端分别连接适配器的多个接插件管脚;存储单元;存储单元存储各被测电路板相对应的适配器上连接的接插件的编号;适配器的多个接插件管脚分别连接多个次继电器;与多个次继电器控制端连接的控制器;控制器连接所述存储单元读取其中存储的编号对应关系。本发明还公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别方法。本发明能够有效识别被测电路板,防止人为疏忽造成的误操作,测试效率高。

    测试适配器对被测电路板的智能识别系统

    公开(公告)号:CN203798946U

    公开(公告)日:2014-08-27

    申请号:CN201420126643.6

    申请日:2014-03-19

    Inventor: 曲海山 龚明 冯云

    Abstract: 本实用新型公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别系统,包含:主继电器;与主继电器的输入端连接的测量器;主继电器的输入端连接若干输出端中的一个;适配器;适配器包含多个接插件管脚;主继电器的多个输出端分别连接适配器的多个接插件管脚;存储单元;存储单元存储各被测电路板相对应的适配器上连接的接插件的编号;适配器的多个接插件管脚分别连接多个次继电器;与多个次继电器控制端连接的控制器;控制器连接所述存储单元读取其中存储的编号对应关系。本实用新型能够有效识别被测电路板,防止人为疏忽造成的误操作,测试效率高。

Patent Agency Ranking