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公开(公告)号：CN111428802A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010242973.1
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法，其特征在于：包括以下：1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库；3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序，所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法，采用有向无环方案构成的多分类模型；4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN109238155A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201811296986.6
申请日：2018-11-01
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明为一种采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法，其特征在于：所述测量SiO2薄膜厚度的方法是基于椭偏法采用微纳米薄膜厚度标准样片结合等效物理结构模型进行测量Si/SiO2薄膜的厚度，所述的等效物理结构模型是根据Si/SiO2薄膜的实际多层膜物理结构模型建立的简化等效物理结构模型，实际多层膜物理结构模型顺序包括表面粗糙层、SiO2薄膜层、中间混合层及Si基底，其中所述的中间混合层为Si基底与SiO2薄膜层之间反应产生的SixOy产物膜层。本发明可保证不同厂家、型号的椭偏仪建立薄膜物理结构模型的统一性与结果的一致性，为建立和完善微纳米薄膜量值溯源体系奠定基础。
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公开(公告)号：CN106017349A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610401870.9
申请日：2016-06-08
Applicant: 中国计量大学 , 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2441
Abstract: 本发明为一种基于白光干涉术的测试系统及其测试方法，其特征在于：所述的测试系统包括显微光学系统、数字CCD摄像机、图像采集卡、干涉系统、压电陶瓷、压电陶瓷控制器、气浮平台、白光卤素光源和PC机。本发明的测试方法通过PC机操作压电陶瓷控制器控制压电陶瓷带动被测样品进行垂直扫描，使干涉条纹扫过被测区域，并由数字CCD摄像机记录采集的图像；PC机对采集的图像滤波后提取单个像素点的白光干涉信号，减去得到的白光干涉条纹的背景光强值，对各像素点的光强进行时域到频域的转换，在频域内做分解，得到波数和相位的关系；通过综合干涉信号频域内波数与相位信息从而得到零光程差的位置，实现表面高度信息的提取。
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公开(公告)号：CN105865389A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610401901.0
申请日：2016-06-08
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 上海计测工程设备监理有限公司
IPC: G01B21/04
CPC classification number: G01B21/042
Abstract: 本发明为一种微纳米标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的微纳米标准样板包括A区域、B区域和C区域三个工作区域；所述的A区域设有向上的箭头形状的循迹标识；所述的B区域设有不同计量尺寸的第一矩阵阵列光栅和第二矩阵阵列光栅；所述的C区域设有不同计量尺寸的第一横向刻度尺、第二横向刻度尺、第三横向刻度尺和第四横向刻度尺，所述的C区域还设有四个等腰直角三角形形状的循迹标识。所述A区域的向上的箭头形状的循迹标识实现了在测量前快速定位微纳米标准样板并确定样板的正交扫描方向，便于快速定位B区域和C区域，并通过坐标关系实现重复性测量。
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公开(公告)号：CN103075951B
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201210557826.9
申请日：2012-12-20
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种基于电容传感器阵列的三维微接触式测头，所述的测头由方形底板、电容传感器阵列、十字梁和测针组成，其特征在于：所述的测头有多个电容传感单元，呈阵列式分布于方形底板上，测针连接在十字梁的中心连接体上，十字梁的悬臂与电容传感器上极板相连，上极板通过微弹簧悬挂单元悬挂，所述上极板的悬挂采用若干个微弹簧实现，微弹簧不仅用于固定电容传感器的上极板，还用于支撑十字梁和测针重量，由测针及十字梁组成的杠杆结构将被测物的横向位移放大并转化为电容上极板的轴向位移，解决单个电容传感器测量时横向分辨力低的问题。本发明弥补了单个电容传感器横向分辨力低的缺陷，提高了分辨力和精度，有效拓展了横向测量范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104457556A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310441883.5
申请日：2013-09-23
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B7/312
Abstract: 本发明公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量装置和方法，所述表座固定在底座上，电感测微仪设置于表座上，弹性体的一端固定在底座上，另一端和连接座的底部相连，连接座的首端和电感测微仪相连，末端和滑轨垂直相连，测头夹具套设在滑轨上，三针套件固定在测头夹具上，安装架固定在底座上，待测工件的圆柱部分夹持于安装架上，三针套件压紧在待测工件的螺纹部上，滚动轴承设置于待测工件的圆柱部分上，质量块压加在滚动轴承上。还公开了一种涡轮部件及螺柱标准件同轴度的测量方法。本发明结构简单，制作方法，能够简单速度的测得待测工件的同轴度，精度高，操作过程简单，易于广泛推广。
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公开(公告)号：CN103075951A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201210557826.9
申请日：2012-12-20
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种基于电容传感器阵列的三维微接触式测头，所述的测头由方形底板、电容传感器阵列、十字梁和测针组成，其特征在于：所述的测头有多个电容传感单元，呈阵列式分布于方形底板上，测针连接在十字梁的中心连接体上，十字梁的悬臂与电容传感器上极板相连，上极板通过微弹簧悬挂单元悬挂，所述上极板的悬挂采用若干个微弹簧实现，微弹簧不仅用于固定电容传感器的上极板，还用于支撑十字梁和测针重量，由测针及十字梁组成的杠杆结构将被测物的横向位移放大并转化为电容上极板的轴向位移，解决单个电容传感器测量时横向分辨力低的问题。本发明弥补了单个电容传感器横向分辨力低的缺陷，提高了分辨力和精度，有效拓展了横向测量范围。
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公开(公告)号：CN111967100B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202010725389.1
申请日：2020-07-24
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于改进蚁群算法拟合螺纹中轴线的方法，其特征在于：步骤1：由光学扫描或螺纹测量仪器获得螺纹表面点云的三维坐标数据作为改进蚁群算法的输入样本；步骤2：根据螺纹表面三维坐标点到中轴线的距离方差最小的原则建立立体几何数学模型，根据两点确定一条直线的原则确定螺纹内部区域内两点共6个坐标值；步骤3：将采集的螺纹三维数据投影到二维面上，估算出中轴线上两点坐标共六个参数的初始区间；步骤4：建立改进蚁群算法框架，算法框架由设置初始状态，信息素更新，设定选择概率，选定转移方法，贪婪处理以及结束原则六部分组成。步骤5：通过拟合程序将上述步骤过程及获得的数据整合后输出螺纹中轴线的两点式。
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公开(公告)号：CN108489401B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN201810563230.7
申请日：2018-05-23
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种分体式校准靶标，在利用激光跟踪仪对激光扫描仪的空间距离示值误差进行校准时与靶镜相配合作为测量靶标使用，包括：靶座；靶镜承托组件，具有锥柄、设置在锥柄上的连接件以及设置在连接件上并用于通过磁性吸附与靶镜相连接的靶镜座；以及靶球组件，具有球侧锥柄、设置在球侧锥柄上的三维调节机构以及设置在三维调节结构上的靶球，其中，锥柄、球侧锥柄均为莫氏锥柄，该莫氏锥柄具有相同的尺寸以及公差，且锥尖向下设置，靶座上设置有莫氏锥套，该莫氏锥套的锥尖向下，开口向上，莫氏锥套与锥柄以及球侧锥柄相匹配。本发明还提供了具有上述分体式校准靶标的校准装置以及利用该校准装置对激光扫描仪进行校准的方法。
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公开(公告)号：CN113310445B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202110576171.9
申请日：2021-05-26
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种多仪器组合测量系统的校准方法，采用多齿分度台作为标准器校准多仪器组合测量系统的坐标系旋转误差；采用带有激光干涉仪的直线导轨作为标准器校准多仪器组合测量系统的坐标系平移误差；采用长度标尺作为标准器校准多仪器组合测量系统的公共测量点和非公共测量点的空间距离长度误差。本发明弥补了现有单台测量仪器的校准方法不能直接应用于多仪器组合测量系统的校准的问题，保障了多仪器组合测量系统的量值统一、准确可靠，助力多仪器组合测量系统的研发升级和现场应用。
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