公开(公告)号：CN101464698B

公开(公告)日：2010-08-11

申请号：CN200710094575.4

申请日：2007-12-19

Applicant: 上海华虹NEC电子有限公司

Inventor： 张宁 ,  王楠 ,  古炯钧 ,  周平

IPC: G05F1/10

Abstract: 本发明公开了一种电源电路，包括电压嵌位电路，所述电压嵌位电路连接到一个带隙基准电路，所述带隙基准电路参考电压和参考电流连接到一个电压校准电路，所述电压校准电路的校准电压连接到所述带隙基准电路。本发明还公开了一种电源供给方法，先由电压嵌位电路为带隙基准电路提供一个粗略的电源电压，带隙基准电路输出参考电压和参考电流，之后电压校准电路向带隙基准电路输出校准电压并关闭电压嵌位电路，此后带隙基准电路由电压校准电压作为电源电压驱动。本发明通过采用电压嵌位电路对带隙基准电路提供粗略电压的方式，大大简化了电路的结构，降低电源电路的成本，并且实现电源的稳定输出，还具有较快的响应速度。

公开(公告)号：CN101738559A

公开(公告)日：2010-06-16

申请号：CN200810043958.3

申请日：2008-11-20

Applicant: 上海华虹NEC电子有限公司

Inventor： 古炯钧 ,  王楠 ,  周平

IPC: G01R31/02

Abstract: 本发明公开了一种使用耗尽型晶体管的开路检测器及其使用方法；包括电压泵模块，电压泵模块连接有耗尽型PMOS管，电压泵模块用于输出一个高于芯片基准电压VDD的电平；耗尽型PMOS管连接有开路检测模块，开路检测模块连接基准电压VDD。它可以使得汽车传感器芯片具有开路检测功能，提高系统可靠性。

公开(公告)号：CN101452048A

公开(公告)日：2009-06-10

申请号：CN200710094350.9

申请日：2007-11-30

Applicant: 上海华虹NEC电子有限公司

Inventor： 古炯钧 ,  王楠 ,  周平

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/073

Abstract: 本发明公开了一种集成电路芯片温度测试装置，包括四根探针，其中第三探针连接到一个模数转换器的模拟信号输入端，所述模数转换器输出的数字信号向被测试电路发送，第四探针连接外部测量仪器。本发明还公开了一种集成电路芯片温度测试方法，所述第三探针以发送模拟信号的方式输出控制信号，所述模数转换器将所述模拟信号转换成数字信号，并发送给所述被测试电路，所述第四探针采集所述被测试电路中的测试信息，并输出给外部测量仪器。本发明利用第三探针输出模拟信号，然后由模数转换器将模拟信号转化成数字信号，解决了现有的电路需要多路信号输入的问题，并且成本低廉，测试工作周期短。