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11.

发明授权
半导体元件的驱动电路失效

公开(公告)号：CN101421910B

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：CN200780010820.7

申请日：2007-04-04

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 中武浩 , 石桥诚司 , 井手之上慎介 , 大井健史 , 木之内伸一 , 堀口刚司

IPC: H02M1/08 , H03K17/08

Abstract: 本发明提供一种当在半导体元件(1)的栅电压未下降完毕的状态下，栅开启的命令来到时，防止半导体元件(1)异常的误检测的装置，仅在与向控制电路(2)输入了开启信号时的半导体元件(1)的控制量Qon相对应的期间内允许对半导体元件(1)的控制量(栅电压)进行检测处理，将在该期间内检测的检测控制量Qt和根据上述控制量Qon设定的控制量比较值Qs进行比较来输出异常信号，并以比正常遮断时的速度慢的速度遮断半导体元件(1)。

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