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公开(公告)号:CN110069203B
公开(公告)日:2022-04-05
申请号:CN201910202043.0
申请日:2014-07-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/04883 , G06F3/04817 , G06F3/04842 , G06F9/451
Abstract: 提供了一种电子设备和操作电子设备的方法。所述方法包括:接收要针对GUI使用的图像;以及从所述图像选择要针对GUI使用的一个或更多个对象区域;设置与所选对象区域相对应的GUI图标;以及在终端的显示器上输出所设置的GUI,作为用于执行至少一个应用的主页屏幕。
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公开(公告)号:CN110069203A
公开(公告)日:2019-07-30
申请号:CN201910202043.0
申请日:2014-07-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/0488 , G06F3/0481 , G06F9/451
Abstract: 提供了一种提供图形用户界面(GUI)的方法。所述方法包括:接收要针对GUI使用的图像;以及从所述图像选择要针对GUI使用的一个或更多个对象区域;设置与所选对象区域相对应的GUI图标;以及在终端的显示器上输出所设置的GUI,作为用于执行至少一个应用的主页屏幕。
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公开(公告)号:CN109726154A
公开(公告)日:2019-05-07
申请号:CN201810980488.7
申请日:2018-08-27
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种执行多个数据总线倒置(DBI)的方法和执行该方法的存储器器件。多个DBI包括第一至第三DBI操作,其中第一DBI操作确定是否对第一数据倒置组执行数据倒置,其中MxN数据位结构的MxN个数据位被分组,并对第一数据倒置组执行数据倒置,第二DBI操作确定是否对通过对来自MxN个数据位之中的M个数据位进行分组而形成的第二数据倒置组执行数据倒置,并对第二数据倒置组执行数据倒置,以及第三DBI操作确定是否对通过对来自MxN个数据位中的N个数据位进行分组而形成的第三数据倒置组执行数据倒置,并对第三数据倒置组执行数据倒置。
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公开(公告)号:CN106062700A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201580010129.3
申请日:2015-02-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/0488 , G06F3/0484 , G06F3/046 , G06F3/0354
CPC classification number: G06F3/04847 , G06F3/03545 , G06F3/041 , G06F3/046 , G06F3/04842 , G06F3/04845 , G06F3/0488 , G06F2203/04101
Abstract: 提供了一种用于直观地显示内容的终端和由所述终端执行的显示内容的方法。所述方法包括:在显示器上显示第一内容;获得与输入工具到显示在显示器上的第一内容的接近相关的接近信息;基于接近信息在第一内容的区域上显示第二内容。
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公开(公告)号:CN104238909A
公开(公告)日:2014-12-24
申请号:CN201410246736.7
申请日:2014-06-05
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/0484 , G06F3/0488 , H04M1/725
CPC classification number: G06F3/0484 , G06F3/04817 , G06F3/0488 , G06F3/04883 , G06F21/36 , H04M1/67
Abstract: 提供一种快速执行移动装置的锁定屏幕上的应用的方法及移动装置。所述方法包括:显示锁定屏幕,在锁定屏幕上显示有多个可执行的对象;通过输入装置接收解锁命令;确定接收的解锁命令是否与预设的解锁命令一致;如果接收的解锁命令与预设的解锁命令一致,则将锁定屏幕解锁;执行与输入装置最后的位置相应的对象所关联的应用。通过如此,移动装置可在解锁时快速地执行应用。
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公开(公告)号:CN101009141B
公开(公告)日:2010-05-19
申请号:CN200710003745.3
申请日:2007-01-24
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/16
Abstract: 一种半导体存储设备,包括,控制信号发生器,用于组合从外部部分施加的命令信号以生成测试信号;设置/重置信号发生器,用于响应于该测试信号而接收从外部部分施加的模式设置信号,并且当该模式设置信号是指定单个设置/重置的信号时,生成第一设置/重置信号;测试逻辑部分,用于响应于该测试信号而存储并然后输出该模式设置信号;设置/重置主信号发生器,用于接收该第一设置/重置信号以输出用于共同控制该半导体存储设备中的内部块的测试模式的设置/重置主信号;以及测试控制信号发生器,用于组合该测试逻辑部分的输出信号以生成多个控制信号,并响应于所述多个控制信号而生成该设置/重置主信号作为多个测试控制信号。
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