光学拾取器、光学记录再现设备及循轨误差信号检测方法

    公开(公告)号:CN100394493C

    公开(公告)日:2008-06-11

    申请号:CN200610066859.8

    申请日:2006-03-31

    CPC classification number: G11B7/1353 G11B7/0903 G11B7/0912

    Abstract: 提供一种光学拾取器和一种采用该光学拾取器的光学记录和/或再现设备,其中,该光学拾取器包括:光源;物镜,用于聚集入射光束,并且将所述入射光束聚焦在信息存储介质上;全息光栅,用于通过衍射将由光源发射的光分为主光束以及第一和第二副光束,并且在所述第一和第二副光束中提供或产生连续变化的波前,以减小所述第一和第二副光束的副推挽(SPP)信号的交流(AC)分量的振幅;和光电检测器,用于接收聚焦在信息存储介质上并从信息存储介质反射的所述主光束以及第一和第二副光束,以获得所述主光束的主推挽(MPP)信号以及所述第一和第二副光束的SPP信号。

    半导体系统
    13.
    发明公开
    半导体系统 审中-公开

    公开(公告)号:CN117711453A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311175447.8

    申请日:2023-09-12

    Inventor: 朴炫俊 崔佑硕

    Abstract: 一种半导体系统,包括:发送器,被配置为基于矩阵E通过多个信道输出多个数据作为多个数据输入/输出信号;以及接收器,被配置为通过基于矩阵D差分放大通过多个信道接收的多个数据输入/输出信号来生成多个数据,其中,矩阵E和矩阵D的所有分量都是整数,矩阵D和矩阵E的乘积矩阵是对角矩阵,矩阵D的每行的分量之和为0,矩阵D的每列的分量的绝对值之和小于或等于阈值。

    多层记录介质及其制造方法

    公开(公告)号:CN100474422C

    公开(公告)日:2009-04-01

    申请号:CN200610007471.0

    申请日:2006-02-14

    CPC classification number: G11B7/26 G11B7/24038 G11B7/268

    Abstract: 一种防止由于在记录层之间可能产生的镜面效应导致的信号特性恶化的多层记录介质,以及一种制造该多层记录介质的方法,该多层记录介质具有至少两个记录层,其中,相邻记录层之间至少一个隔离层的厚度与其它隔离层的厚度不同,从而防止聚焦在记录层上的光束由于反射聚焦在与镜面层对应的另一记录层上。在所述多层记录介质中,镜面效应被大大降低。另外,仅改变对镜面效应施加最重要影响的隔离层的厚度以防止由于镜面效应导致的信号质量恶化,因此,多层记录介质的结构被简化。

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