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公开(公告)号：CN111247438A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN201880068269.X
申请日：2018-06-28
申请人： 李诺工业股份有限公司
摘要： 本发明公开一种测试探针模块。所述测试探针模块包括：导电管；探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及绝缘探针支撑部件，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。本发明的测试探针模块在噪声屏蔽效能上得以改良且便于修理探针，乃因探针是通过被非接触式地支撑于金属管中而被安装至探针插座。
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公开(公告)号：CN106796252B
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201580044606.8
申请日：2015-03-26
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 朴商德
摘要： 本发明揭示一种用于检验讲究性质的电子器件的测试插座。用于检验对象的电性性质的测试插座包括：多个探针，被配置以用于在检验方向上缩回；探针支撑体，被配置以用于支撑多个探针，以使多个探针的第一端突出以接触对象的目标接触点；以及印刷电路板(PCB)，被配置成放置于探针支撑体下方，安装有电子部件，形成有供多个探针的第二端穿过的孔，并包括多个探针的至少一个第二端接触的至少一个第一焊垫及形成于与第一焊垫相对的侧上的至少一个第二焊垫，并且形成有自第一焊垫及第二焊垫延伸并连接至所安装电子部件的电气路径。
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公开(公告)号：CN110446930A
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201880020227.9
申请日：2018-03-22
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 郑宰欢
摘要： 本发明揭示一种用于检查待测试对象的电特性的探针插座。探针插座包含：多个电源接脚，用于将电源施加至待测试对象；多个接地接脚，平行于电源接脚布置；支撑块，用于容纳及支撑相平行的多个电源接脚或接地接脚；以及导电板，以横向于电源接脚及接地接脚的纵向方向的方向布置于支撑块内部且具有用于使多个电源接脚共同电连接的电源连接图案及用于使多个接地接脚共同电连接的接地连接图案中的至少一者。
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公开(公告)号：CN103765227B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280041462.7
申请日：2012-08-29
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 李彩允
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06722 , G01R1/06772
摘要： 本发明公开一种可提高耐久性和生产率的同轴探针。所公开的同轴探针的特征在于包括：内部导体，其包括上部接触器、下部接触器和内部弹性构件，所述上部接触器可与半导体装置接触，所述下部接触器可与用以对所述半导体装置进行测试的测试器接触，所述内部弹性构件使所述上部接触器和所述下部接触器中的至少一个弹性偏移；外部导体，其包围所述内部导体；多个间隙构件，其分别插入至所述内部导体与所述外部导体之间的两端；和至少一个外部弹性构件，其插入于所述外部导体的外周面，从而在远离外部导体的方向弹性偏移半导体装置和测试器的至少一个。
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公开(公告)号：CN112020654B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN201980027605.0
申请日：2019-05-22
申请人： 李诺工业股份有限公司
摘要： 揭露一种用于测试高频高速半导体的测试装置。所述测试装置包括：探针支撑区块，沿测试方向形成有管容纳部；可导电的屏蔽管，容纳于所述管容纳部中；以及探针，以不接触的方式容纳并支撑于所述屏蔽管中，所述管容纳部包括用于将接地信号传输至所述屏蔽管的导电接触部。当测试高频高速半导体或类似受试者时，所述测试装置轻易地且廉价地防止相邻信号探针之间发生串扰并改善阻抗特性。
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公开(公告)号：CN116670518A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202180088040.4
申请日：2021-12-27
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 严熙一
IPC分类号： G01R1/04
摘要： 本发明揭示一种用于测试待测试目标的电特性的测试装置。测试装置包含：测试插座，包括经组态以将测试信号传输至待测试目标的探针；推动器主体，耦接至测试插座；推动器单元，支撑于推动器主体上且按压及释放待测试目标；以及热屏蔽盖，用以执行屏蔽暴露于推动器主体的顶部的推动器单元以及释放屏蔽。
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公开(公告)号：CN109425765B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN201810960590.0
申请日：2018-08-22
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 朴雄纪
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 公开一种用于在待测试对象的受试接触点与测试电路的测试接触点之间进行电连接的微机电系统(MEMS)探针。MEMS探针包括：第一端子接触部分；第二端子接触部分，能够靠近和远离第一端子接触部分而移动；以及弹性连接部分，连接第一端子接触部分与第二端子接触部分，弹性连接部分通过第二端子接触部分的接近而弹性变形，且包括在弹性变形方向上堆叠的多个镀覆层。此外，公开一种制作微机电系统探针的方法及测试装置。根据本发明，MEMS探针包括在弹性变形方向上堆叠的多个镀覆层，由此使疲劳失效减少且使耐久性提高。
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公开(公告)号：CN109387763B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN201810876152.6
申请日：2018-08-03
申请人： 李诺工业股份有限公司
发明人： 朴雄纪
摘要： 本发明公开一种用于测试待测试物件的电气特性的测试装置。测试装置包括：第一支撑构件，包括多个导孔；第二支撑构件，包括多个终端孔且配置成与第一支撑构件间隔开且平行；多个主接触探针；以及多个次接触探针，配置成沿纵向方向与主接触探针相邻。根据本公开，通过与测试电路板(插入件)和/或待测试物件的终端的多次接触提高接触可靠性。
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公开(公告)号：CN111279203A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN201880069228.2
申请日：2018-11-22
申请人： 李诺工业股份有限公司
摘要： 本发明公开一种用于高速/高频测试的测试装置。所述测试装置包括：导电块，包括探针孔；至少一个信号探针，无接触地支撑在所述探针孔的内壁中，包括将与待测试对象的测试接触点接触的第一端，且能够沿长度方向缩回；以及同轴缆线，包括将与所述信号探针的第二端电接触的芯线。通过此测试装置，所述同轴缆线直接接触所述信号探针，因而完全阻挡测试电路板中的噪声。
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