-
公开(公告)号:CN106323200B
公开(公告)日:2019-01-29
申请号:CN201610639161.4
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及一种激光大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低;在不稳定测量环境下同样能够测量;以及快速测量的技术优势。
-
公开(公告)号:CN106017360B
公开(公告)日:2019-01-29
申请号:CN201610638789.2
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及便携式阵列调零高频响大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下显著增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下显著增加工作距离的技术优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有小型便携、测量精度高的特点;同时具有很高的测量速度。
-
公开(公告)号:CN106323199B
公开(公告)日:2018-11-09
申请号:CN201610639006.2
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域,具体涉及一种组合调零激光大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下增加工作距离的优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低;在不稳定测量环境下同样能够测量;以及快速测量的技术优势。
-
公开(公告)号:CN106052598B
公开(公告)日:2018-11-06
申请号:CN201610639134.7
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域,具体涉及一种高频响大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下显著增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下显著增加工作距离的技术优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低的特点;同时具有很高的测量速度。
-
公开(公告)号:CN105043988B
公开(公告)日:2017-10-13
申请号:CN201510603485.8
申请日:2015-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明基于扫描振镜的单点去卷积显微系统与成像方法属于光学显微测量领域;该显微系统包括螺旋相位板等元件;第一平行光和第二平行光最终在荧光样品上分别形成环形光斑和圆形光斑;荧光样品表面激发出的荧光被光电探测器接收并成像;在上述系统上实现的成像方法,首先得到坐标为(i,j)的物点的灰度值,再通过调整两个扫描振镜,遍历i和j的所有取值,利用所有物点的灰度值信息,构造完整的二维图像;本发明与传统STED技术的不同在于在不同时刻照射两束波长相同的激光束,并利用两幅图像求差来缩小感兴趣区域的范围,同时引入去卷积运算,去除非焦平面上的模糊,减少探测器的卷积效应带来的测量误差,最终提高成像系统的分辨率。
-
公开(公告)号:CN106352814A
公开(公告)日:2017-01-25
申请号:CN201610638832.5
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及阵列调零高动态精度大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下增加工作距离的优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低;同时能够全程监测被测物装配过程;以及快速测量的技术优势。
-
公开(公告)号:CN106247990A
公开(公告)日:2016-12-21
申请号:CN201610638818.5
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及便携式阵列调零高精度大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同工作范围下增加工作距离的优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有小型便携、测量精度高;尤其低采样频率下具有高测量精度;以及快速测量的技术优势。
-
公开(公告)号:CN106225729A
公开(公告)日:2016-12-14
申请号:CN201610638879.1
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002 , G02B27/30
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及便携式组合调零高动态精度大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同工作范围下增加工作距离的优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有小型便携、测量精度高;同时能够全程监测被测物装配过程;以及快速测量的技术优势。
-
公开(公告)号:CN106225728A
公开(公告)日:2016-12-14
申请号:CN201610638878.7
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002 , G02B27/30
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及阵列调零高精度大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低;尤其低采样频率下具有高测量精度;以及快速测量的技术优势。
-
公开(公告)号:CN106225726A
公开(公告)日:2016-12-14
申请号:CN201610638834.4
申请日:2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002 , G02B27/30
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及阵列调零高精度激光大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低;同时还能监测测量环境稳定性;以及快速测量的技术优势。
-
-
-
-
-
-
-
-
-