试样处理装置以及试样处理装置的异常检测方法

    公开(公告)号:CN104251912A

    公开(公告)日:2014-12-31

    申请号:CN201410302466.7

    申请日:2014-06-27

    CPC classification number: G01N35/1009

    Abstract: 试样处理装置,包括:吸引部,构成为在一端侧具备泵,而能够从另一端侧吸引试样;传感器,构成为能够探测在所述吸引部的规定位置有没有液体;以及控制部,被编程为执行以下的动作:控制所述吸引部,以使吸引试样;取得所述吸引部吸引了试样时的通过所述传感器得到的第1探测结果;在吸引了所述试样之后,控制所述吸引部,以使所述吸引部吸引空气;取得所述吸引部吸引了空气时的通过所述传感器得到的第2探测结果;以及根据所述第1探测结果以及所述第2探测结果,进行试样吸引动作中的异常的检测。

    样本分析装置和分析系统以及异常检测装置和检测方法

    公开(公告)号:CN104251901A

    公开(公告)日:2014-12-31

    申请号:CN201410292759.1

    申请日:2014-06-26

    Abstract: 本发明提供一种无需质控试样及正常样本就能进行质控的样本分析装置、样本分析系统、异常检测装置、以及样本分析装置的异常检测方法。样本分析装置从该样本分析装置获得的测定结果中选择有一定疾病的受检者的测定结果。偏离一定突发值排除范围的测定结果被排除在异常检测用测定结果之外,只储存突发值排除范围内的测定结果作为异常检测用测定结果。当异常检测用测定结果的数目达到一定值时,样本分析装置算出该疾病中与健康时相比变化较小的测定项目的测定值的平均值,比较此平均值与一定管理范围,以此进行异常检测。

    试样分析装置以及试样分析装置的控制方法

    公开(公告)号:CN103033633B

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201210366390.5

    申请日:2012-09-28

    CPC classification number: G01N35/00623 G01N35/026 G01N2035/0415

    Abstract: 试样分析装置包括:搬送部,搬送具有第1数量的用于支承收容有被检者的生物体试样的容器的支承部的第1架子、和具有与所述第1数量不同的第2数量的用于支承收容有标准试样的容器的支承部的第2架子;测定部,测定通过所述搬送部搬送的容器内的试样;以及控制部,判定通过所述搬送部搬送的架子是第1架子还是第2架子,在判定为通过所述搬送部搬送的架子是所述第2架子的情况下,控制所述搬送部以进行与第2架子对应的搬送动作,并且控制所述测定部以按照规定的顺序测定所述第2架子上支承的容器内的标准试样,根据所得到的多个测定结果,控制生物体试样的测定结果的解析中使用的检量线。

    对被检物质进行检测的方法

    公开(公告)号:CN101726527B

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN200910175886.2

    申请日:2009-09-23

    CPC classification number: G01N33/54366 G01N27/305 G01N27/3277 G01N33/54306

    Abstract: 本发明提供一种可以提高被检物质的检测灵敏度的被检物质的检测方法。被检物质的检测方法包括:对检查芯片应用包含上述被检物质的试样,通过探针捕捉上述被检物质的工序;对极,由导电性材料构成;以及还原电极,用于还原电解质;在使包含电解质的电解质介质向上述作用电极、上述对极以及上述还原电极接触的状态下,对修饰由上述探针捕捉的上述被检物质的修饰物质照射使该修饰物质激励的光的工序;以及通过上述还原电极使包含在上述电解质介质中的电解质还原,对由于电子从通过上述光被激励的修饰物质向上述作用电极移动而在上述作用电极与上述对极之间流过的电流进行测定的工序。

    检体处理系统以及检体的搬送方法

    公开(公告)号:CN101726617B

    公开(公告)日:2014-12-03

    申请号:CN200910166677.1

    申请日:2009-08-26

    Inventor: 川村义之

    Abstract: 本发明提供一种一种检体处理系统,其特征在于,包括:多个测定部,从各自不同地对应的多个试剂容器中分别取得试剂,使用该试剂针对共同的测定项目分别进行检体的测定;多个搬送机构,向上述多个测定部分别搬送检体;试剂信息获取部,取得与分别收容在上述多个试剂容器中的试剂相关的试剂信息;搬送目的地确定部,根据由上述试剂信息获取部取得的上述试剂信息,决定检体的搬送目的地;以及搬送控制器,控制上述搬送机构,以根据由上述搬送目的地确定部决定的搬送目的地来搬送检体。

    分析仪
    168.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103257221B

    公开(公告)日:2014-10-22

    申请号:CN201310168724.2

    申请日:2009-06-29

    Abstract: 本发明提供一种在吸移位置吸移标本容器中的标本并对其进行测定的分析仪,包括:运送器件,沿着运送路径运送能够固定标本容器的管架;标本固定部件,能够固定标本容器,并配置在比所述运送路径上的所述管架中固定的标本容器的上缘高的位置;固定部件移动器件,在用户能够将标本容器放置到所述标本固定部件的优先置样位和所述吸移位置之间通过所述运送路径的上方移动所述标本固定部件;以及容器运送器件,将所述运送器件运送到一定位置的标本容器从管架取出并放置到所述标本固定部件。

    粒子分析装置及粒子分析装置用光学系统和透镜

    公开(公告)号:CN104075978A

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201410112669.X

    申请日:2014-03-25

    Abstract: 本发明提供一种粒子分析装置,包括:供含有粒子的试样流动的流动室、将来自光源的光照射到所述流动室的流路的照射光学系统、以及接受来自流路的光的受光光学系统,其中受光光学系统具有:至少包括一个用于聚集来自流经流路的粒子的前向散射光的聚光透镜的聚光透镜系统、用于接受由聚光透镜系统聚集的前向散射光的受光部件、以及配置于聚光透镜系统和受光部件之间的光路且用于遮挡来自光源的直射光的光束制止器,其中,至少一个聚光透镜具有非球面的透镜面,在聚光透镜系统中,通过包括光轴在内的中央区域的前向散射光的焦距比通过中央区域外侧的外围区域的前向散射光的焦距长。本发明提供还提供一种粒子分析装置用光学系统和透镜。

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