公开(公告)号：CN113779498A

公开(公告)日：2021-12-10

申请号：CN202110885606.8

申请日：2021-08-03

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 黄权 ,  邵伟恒 ,  方文啸 ,  王磊 ,  阮建高 ,  黄云 ,  路国光 ,  陈军

IPC: G06F17/14 ,  G06F17/16 ,  G06N3/02 ,  G06N3/08

Abstract: 本申请涉及一种离散傅里叶矩阵重构方法、装置、设备和存储介质。方法包括：获取随机样本数据，并获取前次迭代所得到的矩阵参数；将随机样本数据与矩阵参数进行线性相乘，得到频域输出信号；基于频域输出信号进行域变换处理，得到重构时域信号；基于随机样本数据和重构时域信号，确定当次迭代所对应的损失，根据当次迭代所对应的损失调整矩阵参数；进入下一次迭代，并将调整后的矩阵参数作为下一次迭代所对应的前次迭代所得到的矩阵参数，返回将随机样本数据与矩阵参数线性相乘，得到频域输出信号的步骤继续执行，直至达到停止条件时停止；基于最后迭代所得到的矩阵参数，确定离散傅里叶重构矩阵。采用本方法能够提高信号数据处理的效率。

公开(公告)号：CN112164982B

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN202010928242.2

申请日：2020-09-07

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 方文啸 ,  汪玉龙 ,  张航 ,  刘欣 ,  邵伟恒 ,  黄权 ,  王磊 ,  田欣欣 ,  冯德仁

IPC: H01T1/00 ,  G01R31/00

Abstract: 本申请提供一种电磁脉冲气体开关及电压脉冲源采集装置。该电磁脉冲气体开关包括：瓶体，具有第一端和第二端，及沿瓶体的轴线贯通第一端和第二端的通孔，通孔中充入有压强可变的工作气体；第一端处和第二端处分别设置有用于密封瓶体的瓶盖，以及与瓶盖和瓶体连接的密封补偿件，密封补偿件用于锁紧瓶盖；还包括第一电极，设于通孔中，第一电极通过第一连接杆与第一端处的瓶盖连接；以及第二电极，设于通孔中且与第一电极同轴设置，第二电极通过第二连接杆与第二端处的瓶盖连接，第一电极和第二电极之间具有放电间隙。上述电磁脉冲气体开关能够稳定输出不同幅值的电压脉冲源，且结构简单，制备成本低。

公开(公告)号：CN111044793B

公开(公告)日：2021-12-07

申请号：CN201911149504.9

申请日：2019-11-21

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 邵伟恒 ,  方文啸 ,  黄云 ,  恩云飞 ,  肖美珍 ,  王磊

IPC: G01R29/08

Abstract: 本申请涉及一种近场探头以及近场探测系统；所述近场探头包括柔性探测部以及电路载板；柔性探测部机械连接电路载板；其中，柔性探测部内置有近场探测线，用于感应近场产生电信号；电路载板内置有电连接近场探测线的第一信号传输线和第二信号传输线，用于将电信号传输给网络分析仪，本申请近场探头采用柔性结构的柔性探测部，柔性探测部的厚度尺寸可达到非常小，从而提供了近场探头的空间分辨率。

公开(公告)号：CN112561821A

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN202011499241.7

申请日：2020-12-17

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 黄权 ,  邵伟恒 ,  方文啸 ,  王磊 ,  张航 ,  黄云 ,  路国光 ,  阮建高 ,  陈军

IPC: G06T5/00 ,  G06K7/10

Abstract: 本发明公开了一种基于近场扫描的芯片表面电磁数据降噪方法，包括以下步骤：通过对芯片表面进行近场扫描得到电磁数据；对得到的电磁数据进行信号提取，得到电磁图像；对电磁图像进行局部均值估计和局部噪声方差估计；对电磁图像中的所有相似块的每个像素进行加权平均处理，得到真实图像的基础估计；使用基础估计对电磁图像进行维纳降噪，得到局部估计；使用加权平均对所有得到的局部估计进行聚合，计算出真实图像的最终估计，从而得到最终的降噪图像。本发明的方法能够针对近场扫描的复杂噪声进行有效地降噪。

公开(公告)号：CN110095656B

公开(公告)日：2021-03-09

申请号：CN201910444892.7

申请日：2019-05-27

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 邵伟恒 ,  方文啸 ,  恩云飞 ,  黄云 ,  王磊 ,  邵鄂 ,  曹胜

IPC: G01R29/08 ,  G01R29/14 ,  G01R33/10 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明涉及一种探测模块，其特征在于，包括：依次堆叠设有第一信号层、第一接地层、第二信号层、第二接地层的PCB板。第一信号层设有第一共面波导传输线和信号放大电路；信号放大电路的输入端连接第一共面波导传输线的中心导带的第一端，所信号放大电路的输出端用于连接外部信号分析设备。PCB板还设有带状线，带状线的导体带设置在第二信号层；导体带的第一端用于探测电场或磁场信号；导体带的第二端连接第一共面波导传输线的中心导带的第二端，用于向第一共面波导传输线传输电场或磁场信号。

公开(公告)号：CN112285611A

公开(公告)日：2021-01-29

申请号：CN202010983672.4

申请日：2020-09-18

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 邵伟恒 ,  黄权 ,  方文啸 ,  王磊 ,  黄云 ,  路国光

IPC: G01R31/56 ,  G01R31/52

Abstract: 本申请涉及失效分析技术领域，具体公开一种器件失效分析定位方法，包括：对扫描探头进行校准，获取校准数据；控制扫描探头对待测器件进行扫描，并获得第一参数信息，第一参数信息用于表征待测器件扫描高度平面的电磁场信息；根据第一参数信息和校准数据，确定待测器件目标高度平面的电磁场信息；根据待测器件目标高度平面的电磁场信息，确定待测器件表面的电学分布；根据待测器件表面的电学分布，确定待测器件的失效位置。基于电磁注入和探测的原理，结合待测器件表面的电磁场信息实现对待测器件的失效位置的分析，相对于传统的失效分析方法而言，成本较低，且无需对待测器件进行破坏，整体失效定位方法可靠性较高。