公开(公告)号：CN103460013B

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：CN201180069773.X

申请日：2011-06-14

Applicant: 日立造船株式会社

Inventor： 原田浩希 ,  森脇荣辅 ,  古林通孝

IPC: G01N1/04 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N1/20 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明提供一种灰中的重金属浓度自动测量装置。灰采集用通道（2）在水平方向上与沿铅垂方向设置的滑道（1）连接，并且在上述灰采集用通道（2）内设置有能够进出滑道（1）内的灰采集用容器（14），并且设置有圆棒状的刮平构件（15），用于刮平贮存在上述灰采集用容器（14）内的灰分，上述刮平构件（15）的半径在5～15mm的范围内、且上述灰采集用容器（14）的移动速度为0.1～0.5m/sec。

公开(公告)号：CN102735705B

公开(公告)日：2014-12-31

申请号：CN201210071895.9

申请日：2012-03-16

Applicant: 奥林巴斯NDT公司

Inventor： P·J·哈德曼

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/301 ,  G01N2223/616

Abstract: 本发明涉及便携式分析仪和XRF分析方法，所述便携式分析仪包括：气压测量装置，用于测量环境气压；以及处理子系统，响应于检测器子系统和所述气压测量装置。所述处理子系统被配置为基于所述检测器子系统检测到的能量水平对应于至少一种低原子序数元素的x射线的强度来计算所述元素在试样内的含量。基于环境气压来校正强度值。所述XRF分析方法包括通过考虑气压来自动确定元素的含量。

公开(公告)号：CN104160261A

公开(公告)日：2014-11-19

申请号：CN201380011916.0

申请日：2013-01-14

Applicant: 斯派超科学股份有限公司

Inventor： P·F·亨宁 ,  T·G·巴勒克拉夫 ,  E·J·奥尔森 ,  S·D·劳伦斯 ,  R·J·约考

IPC: G01N11/00

CPC classification number: G01N23/06 ,  G01N11/04 ,  G01N21/3577 ,  G01N23/223 ,  G01N33/2888 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/301

Abstract: 集成的便携式样本分析系统和方法。粘度计子系统容纳样本的第一部分。光谱仪子系统容纳样本的第二部分。注射器泵子系统容纳样本的第三部分并被配置成推动样本的第三部分流过将所述样本中的粒子收集在其上的过滤器。x射线分析子系统被配置成用x射线照射粒子。x射线分析子系统还容纳样本的第四部分，以便确定样本中的任何已溶物质的成分。处理子系统提供关于样本以及其粘度、物理特性、微粒计数以及大小分布以及样本中的微粒和已溶元素的成分的报告。

公开(公告)号：CN104010985A

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN201280063958.4

申请日：2012-12-20

Applicant: 三菱综合材料株式会社

Inventor： 山下牧生 ,  田中久顺 ,  田中幸生 ,  市原克彦 ,  坂本一夫 ,  太幡一男

IPC: C04B7/38 ,  G01N23/20 ,  G01N23/223

CPC classification number: C04B7/4446 ,  C04B7/425 ,  G01N23/20 ,  G01N23/223 ,  G01N33/38 ,  G01N2223/076 ,  Y02P40/121 ,  C04B7/361

Abstract: 本发明提供一种适于水泥熟料的低温烧成，并且能够获得高品质水泥的水泥熟料制备系统。这种水泥熟料制备系统具备：供给矿化剂的氟源和硫磺源的机构；供给熟料原料的机构；对混合有矿化剂的氟源和熟料原料的调合原料进行粉碎的机构；烧成经粉碎的调合原料的窑；将矿化剂的硫磺源投入到窑中的机构；以及向窑供给燃料的机构，所述水泥熟料制备系统的特征在于，设置有分别采集烧成前的调合原料和烧成后的熟料，并且根据所采集的试样种类测定氟量、主成分量及游离石灰量的试样分析系统，并且基于该测定量，控制氟源和硫磺源的供给量、调合原料的供给量及燃料的供给量中的至少任一供给量。

公开(公告)号：CN103946693A

公开(公告)日：2014-07-23

申请号：CN201280056950.5

申请日：2012-10-03

Applicant: X射线光学系统公司

Inventor： S·M·波梅兰茨 ,  J·H·伯德特 ,  R·D·德莱尼

IPC: G01N23/00

CPC classification number: G21F5/015 ,  G01N23/10 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/074 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/301 ,  G01N2223/308 ,  G01N2223/309 ,  G21K2201/062 ,  G21K2201/064

Abstract: 一种可移动型运输和屏蔽装置，其保持住x-射线分析仪，从而在一些操作场所之间进行运输，并且还用作受屏蔽的操作台，以在其操作期间保持住x-射线分析仪。该x-射线分析仪可移除式地插入到该装置中，并且在可移动型运输及屏蔽装置内或者在该装置的外部可以进行操作。该装置可以提供在该分析仪进行操作期间控制、驱动、冷却和/或充电该x-射线分析仪的装置；以及还提供了运输该分析仪的装置(例如把手)。

公开(公告)号：CN103797358A

公开(公告)日：2014-05-14

申请号：CN201280037391.3

申请日：2012-06-14

Applicant: X射线光学系统公司

Inventor： A·博伊默 ,  陈泽武

IPC: G01N23/223 ,  G01N33/22

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N33/2823 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/1003 ,  G01N2223/637 ,  G01N2223/652

Abstract: 一种技术，包括相关的方法和系统，用于精炼厂的原油或重质燃料流中痕量元素的在线测量，在一个实施例中包括：在精炼厂的某点处提供至少一个x-射线荧光（“XRF”）分析器；使用分析器针对氯分析石油流；将结果从分析器提供给精炼厂操作者，以改进精炼厂操作。分析器可以是单色波长XRF分析器，其中，分析器使用x-射线引擎将能量聚焦至流/聚焦来自流的能量，x-射线引擎具有至少一个聚焦、致单色x-射线光学器件。分析器可以是MWDXRF或ME-EDXRF分析器；痕量元素可以是以下元素中的一种或多种：S、Cl、P、K、Ca、V、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb和Se；在一个实施例中，所述流是原油，痕量元素是氯。

公开(公告)号：CN101883980B

公开(公告)日：2013-06-12

申请号：CN200880016090.6

申请日：2008-03-14

Applicant: X射线光学系统公司

Inventor： 陈泽武 ,  李丹红

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 一种确定样品价态的X射线荧光技术。提供了X射线激励路径以使用X射线激励样品；和检测路径以检测样品发射的荧光，并将所发射的荧光聚焦到焦斑。该检测路径可包括单色检测光学器件以聚焦该荧光；还可包括焦斑聚焦于其上的探测器。感应焦斑的精确的位置，从中可确定样品的价态；和/或该检测光学器件可跨越特定入射角度摆动，以改变布拉格条件，由此感应样品内的不同价态。

公开(公告)号：CN102954972A

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：CN201210274401.7

申请日：2012-08-03

Applicant: 精工电子纳米科技有限公司

Inventor： 的场吉毅 ,  中谷林太郎 ,  佐藤恒郎

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明提供一种能够使用荧光X射线正确且迅速地进行由透射X射线装置检测出的异物的位置的元素分析的X射线分析装置。该X射线分析装置（1）具备：透射X射线检查部（10），其具有第一X射线源（12）和检测从第一X射线源透射试料（100）的透射X射线（12x）的透射X射线检测器（14）；荧光X射线检查部（20），其具有第二X射线源（22）和检测当来自第二X射线源的X射线照射试料后该试料放出的X射线（22y）的荧光X射线检测器（24）；试料台（50），其保持试料；移动机构（30），其将试料台在第一X射线源的照射位置（12R）和第二X射线源的照射位置（22R）之间相对移动；异物位置运算装置（60），其运算透射X射线检测器在试料中检测出的异物（101）的位置；移动机构控制装置（61），其控制移动机构以使由异物位置运算装置运算的异物的位置和第二X射线源的光轴（22c）一致。

公开(公告)号：CN102854209A

公开(公告)日：2013-01-02

申请号：CN201210190016.4

申请日：2012-06-08

Applicant: 奥林巴斯NDT公司

Inventor： 唐·萨基特

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 一种XRF分析装置和X射线分析方法，包括壳体，该壳体具有要导向至试样的穿透辐射的源以及用于检测来自试样的荧光辐射的检测器。屏蔽物能够连接到壳体以保护用户免受辐射，以及安全联锁部用于检测屏蔽物是否连接到壳体。控制器对安全联锁部作出响应，用于监测辐射源在屏蔽物未连接到壳体情况下大于或等于预定功率水平的使用，以及在监测到的穿透辐射源在屏蔽物未连接到壳体的情况下的大于或等于预定功率水平的使用超过一个或多个预定阈值时提供输出信号。

公开(公告)号：CN101788687B

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201010119749.X

申请日：2006-11-07

Applicant: 护照系统公司

Inventor： G·博坦 ,  R·J·勒杜 ,  W·贝尔托奇

IPC: G01V5/00 ,  G01N23/04 ,  G01N24/08

CPC classification number: G01V15/00 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G06Q10/0832 ,  G06Q10/0833 ,  G06Q10/0875 ,  G06Q50/28

Abstract: 公开了非侵入性的验证和分析货物的方法。在示范性实施例中，在供应链的第一点确定了元素标记，并将其传输到供应链的第二点。当货品抵达第二点时，可以测量货品的元素标记，并且对比原始的元素标记进行验证。在另一实施例中，可以测量元素标记以验证货品的原产地和标识。在一些实施例中，这种元素标记是运输的货品和/或其包装固有的，在其他实施例中，作为标签材料对运送的货物施加元素标记。