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公开(公告)号：CN102341645B
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201080010798.8
申请日：2010-01-28
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B27/00
CPC classification number: G01N21/8806 , F21S8/006 , G01J1/08 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/12 , G01J2003/1213 , G01J2003/1282 , G01N2021/9511 , G02B6/0018 , G02B6/0038 , G02B19/0028 , G02B19/0047 , G02B27/0994
Abstract: 本发明提供一种照射具有期望的光谱、且方向性被控制的光的光照射装置。本发明所涉及的光照射装置(100)包括光源(101)、导光体(107)、光谱调制用构件(104)，导光体(107)将从光源(101)入射的光从入射面引导至其内部，使该光在导光体(107)的侧面反射，将方向性被控制的光从出射面出射，光谱调制用构件(104)使方向性被控制的所述光的、特定的波长带的光谱衰减，在导光体(107)中，所述入射面小于所述出射面，在导光体(107)的出射面侧包括光谱调制用构件(104)。
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公开(公告)号：CN103376158A
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201310111452.2
申请日：2013-04-01
Applicant: 安捷伦科技有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01J2003/1217
Abstract: 提供了一种包括二向色性光束组合器的光学发射系统。一种光学发射光谱仪系统(100，200)包括光源(101)和二向色性光束组合器(130)。光源在第一方向上发射第一光(115)并且在不同于所述第一方向的第二方向上发射第二光(125)。二向色性光束组合器经由第一光路(110)接收所述第一光并且经由第二光路(120)接收所述第二光，反射一部分所述第一光进入光检测及测量装置(140)的入口孔(145)，并且透射一部分所述第二光进入所述入口孔，使得能够同时分析并且测量第一光和第二光两者的特性。被反射进入所述入口孔的所述第一光的部分主要具有第一波长范围内的波长，并且被透射进入所述入口孔的所述第二光的部分主要具有不同于所述第一波长范围的第二波长范围内的波长。
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公开(公告)号：CN101548151B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200880001006.3
申请日：2008-05-21
Applicant: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
CPC classification number: G01B11/026 , G01B2210/50 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/024 , G01J3/12 , G02B21/0064
Abstract: 本发明设计了一种包括至少一个透镜(2)的光学装置中与温度相关的测量误差的补偿方法，由于与温度相关的测量误差的这种补偿没有明显增加生产费用，故该方法较经济可靠，其中，多色光线(5)穿过光学装置(1、1’)，再聚焦在由于透镜(2)的色差而距透镜(2)的不同距离的点上，以致于光线(5)的至少一部分光谱至少部分地在光学装置(1、1’)内反射，再射向检测装置(12)，借助于检测装置确定光谱，由检测装置(12)所记录的光谱测定装置(1、1’)的温度，再补偿与温度相关的测量误差。
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公开(公告)号：CN101529231B
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN200780016959.2
申请日：2007-05-09
Applicant: ABB瑞士有限公司
Inventor： M·芒德
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/02 , G01J3/0264 , G01J3/12 , G01N21/31 , G01N21/3563 , G01N21/85
Abstract: 一种用于处理散装材料的系统，包括将散装材料从第一处理位置传送至第二处理位置的流的至少一个传送设备；将光投射到该流的表面上的照明源；以及捕获由该流反射，发射或吸收的光的至少一个分光计。
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公开(公告)号：CN102472714A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080029423.6
申请日：2010-06-30
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207 , G21K1/02 , G21K1/06 , G21K3/00 , G21K5/02
CPC classification number: G21K1/06 , B82Y10/00 , G01J3/12 , G21K1/062 , G21K2201/064 , H01J2237/1205 , H01J2237/1516
Abstract: 本发明提供一种X射线装置、其使用方法以及X射线照射方法，该X射线装置产生能量宽度狭小的虚拟射线源，并能够进行高分解能力的X射线衍射测定。X射线装置(100)包括：分光器(105)，该分光器将发散X射线一边进行分光一边进行集光；以及选择部(107)，该选择部设置于被集光的X射线的集光位置，选择特定范围波长的X射线而使其通过，产生虚拟射线源。由此，能够在焦点(110)上产生具有狭小能量宽度的虚拟射线源，通过该虚拟射线源，能够进行高分解能力的X射线衍射测定。通过使用X射线装置(100)，从而能够充分地分离例如Kα1射线和Kα2射线那样非常狭小能量宽度的X射线。此外，也能够切出连续的X射线的一部分而形成虚拟射线源。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102171544A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200980139151.2
申请日：2009-09-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·A·M·希克梅特 , E·J·梅杰尔 , T·范伯梅尔
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/505 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , G02B5/3016 , G02F1/13718 , G02F2001/133541 , G02F2001/13775
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器，所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置，所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距，使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构，用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。
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公开(公告)号：CN100549669C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200610062554.X
申请日：2006-09-08
Applicant: 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
CPC classification number: G01J3/51 , G01J3/0243 , G01J3/12 , G01J2003/1217 , G01N2201/0453
Abstract: 本发明公开了一种酶标仪分光光度检测光学系统，它包括沿光路顺次分布的复色光光源、透镜、滤光片轮、光纤传光束、光比色单元、光电探测器及控制和信号处理单元，该滤光片轮包括可转动的转轮及安装在该转轮上的至少一个长波滤光片和至少一个短波滤光片，且该长波滤光片面向透镜的前表面贴有光阑，该光阑设有离散分布的多个孔。通过在光阑上设置离散分布的多个孔，可以对应来自不同视场的光线，使不同视场的光线均参与成像，从而保证了像面上光斑的均匀性；通过在长波滤光片前加光阑，使长波和短波光信号的能量实现匹配。
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公开(公告)号：CN101023331A
公开(公告)日：2007-08-22
申请号：CN200580029321.3
申请日：2005-06-30
Applicant: 化学影像公司
CPC classification number: G01N21/6456 , G01J3/12 , G01J3/1256 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J3/44 , G01J2003/1269 , G01N21/3563 , G01N21/3577 , G01N21/65
Abstract: 本发明涉及动态化学成像方法，包括细胞成像方法。所述方法包括用基本单色的光照射细胞的至少一部分并在多个离散时间评估从所述被照射部分散射的拉曼位移光。可以在每个所述离散时间在多个拉曼位移(RS)值评估所述拉曼位移光，并且在每个所述离散时间可以选择RS值以表征预选组分。如此得到图像的拉曼光谱特征的多变量分析可得到视场中组分的位置和化学身份。这种信息可以与从视场得到的其它光谱数据(例如可见显微图像)合并或重叠。
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公开(公告)号：CN1394275A
公开(公告)日：2003-01-29
申请号：CN01803459.4
申请日：2001-01-04
Applicant: 埃科斯弗电光工程公司
Abstract: 光谱分析仪包括：一个衍射光栅(DG)；一个偏振分解单元(PDM)，用于将输入光束分解成具有相互垂直的线偏振态的第一和第二光束；和两个输出端口(EP2/1，EP2/2)，每个输出端口用于在衍射光栅(DG)衍射之后，从光栅基本上只是接收相应的一个偏振光束(LR，LT)。在其线偏振态与衍射光线相应的衍射面成任何规定的角度的情况下，将每个线偏振光束导向衍射光栅。安排是这样的，即在分析仪工作频带内的任何特定波长下，光束的偏振态基本上不随时间而改变。分析仪还可以具有一个反射镜(RAM)，用于反射第一次衍射之后离开衍射光栅的光束，以便使它们返回到衍射光栅进行第二次衍射。
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公开(公告)号：CN1342910A
公开(公告)日：2002-04-03
申请号：CN01131031.6
申请日：2001-09-04
Applicant: 日本板硝子株式会社
CPC classification number: G01J3/12 , B82Y20/00 , G01J3/0256 , G01J3/447 , G02B5/285 , G02B6/10 , G02B6/1225 , G02B6/34 , G02B27/283
Abstract: 一种光学器件,其中周期的多层结构的端面被提供作为光入射表面或作为光出射表面。此光学器件可以在没有增加设备尺寸的情况下,通过利用从多层结构泄漏的光束的好的方向性和泄漏光束的角度的较强的依赖性,能够实现高分辨率的分光镜装置。
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