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公开(公告)号：CN1676102B
公开(公告)日：2010-04-07
申请号：CN200510065145.0
申请日：2005-03-31
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4014 , A61B6/4028 , A61B6/4233 , A61B6/4275 , A61B6/4452
Abstract: 一种放射性成像系统(10)，它包括：一个或多个辐射源(56，58)，它们基本上包围成像体积(51)的所需部分并配置成从围绕成像体积(51)的多个单独辐射源位置(57，59)发射射线束(38)；以及一个或多个检测器(60，62)，它们配置成接收透射的射线束。所述辐射源(56)和所述检测器(60)中的至少一个是可移动的，以便为所述射线束提供一条无阻碍路径，并且更完整地接收透射的射线束。
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公开(公告)号：CN109788926A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201780058188.7
申请日：2017-09-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
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公开(公告)号：CN101480341A
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200910003449.2
申请日：2004-11-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4275 , A61B6/027 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4014 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985
Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。
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公开(公告)号：CN1672637A
公开(公告)日：2005-09-28
申请号：CN200510052906.9
申请日：2005-02-25
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4028 , A61B6/4085
Abstract: 提供一种利用包括两个或多个发射点(70)的X射线源(12)将视场(72)的成像技术。每个发射点(70)配置成发射一个包围小于整个视场(72)的范围的扇形辐射(16)。各发射点(70)被逐一地激活并围绕视场(72)旋转，使得可以围绕视场(72)以各种不同的视角发射相应的辐射流(16)。可以有差异地激活对应于视场(72)的不同的径向区域的各发射点(70)，以便突出视场内所关心的区域(80)。可以以重复或偏移的配置沿着纵向轴外推多个发射点(70)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101480341B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200910003449.2
申请日：2004-11-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4275 , A61B6/027 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4014 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985
Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。
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公开(公告)号：CN101627409A
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200880007264.2
申请日：2008-02-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/5258
Abstract: 提供了一种用于处理图像的方法。该方法包括识别由一组投影数据产生的二维或三维图像中的一个或多个轮廓或表面。基于充分限定一个或多个轮廓或表面的那些数据点的识别来区别地处理该组投影数据。由该组经处理的投影数据来重构增强的图像。
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公开(公告)号：CN1839412A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200380110458.2
申请日：2003-12-29
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/503 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01N2223/612 , G06T7/246 , G06T11/005 , G06T2211/412
Abstract: 提供一种用于对动态物体(例如心脏)采集的投影数据集(120)进行时间内插(134)的技术。利用缓慢旋转台架(54)和分布式X射线源(12)来采集投影数据集(120)。可以对投影数据(120)在每个观察位置对所选瞬间(例如相对于心脏相位)进行内插。所得到的内插投影数据(136)可以表现在每个观察位置在任何瞬间投影数据(120)的特征。然后重构(138)内插投影数据集(136)，产生具有改进的时间分辨率的图像和/或体积(140)。
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公开(公告)号：CN1210000C
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN00800601.6
申请日：2000-04-14
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 描述了一种获得对象的投影数据的计算机X-射线断层成像(CT)系统和方法，其包括X-射线源和检测器。该检测器相对于与CT系统的旋转中心在检测器上的投影相对应的中心位置移动了其宽度的一半。依据本发明的方法，对于每个投影视图，选择表示最靠近成像系统的旋转中心在检测器上的投影的位置的检测器元件的值Va。然后，对于所选择的检测器元件，检测器元件值Vb是从在相同方向所重构的数据的正向投影或相反的方向中估计的。然后选择能够消除Va和Vb之差的平滑函数。应用加权的平滑函数以消除Va和Vb之差。当将真实的投影数据和所估计的投影数据相结合时应用该过程来减小幅值差，由此产生平滑的过渡区。
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公开(公告)号：CN109788926B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN201780058188.7
申请日：2017-09-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
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