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公开(公告)号：CN104570382B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201410388243.7
申请日：2014-08-08
Applicant: 通用电气公司
IPC: G02B27/58
Abstract: 本发明为使用积分移位光学的图像超分辨率的设备和方法。本发明的图像捕获装置包括一种电光器件布置，其中具有偏振器、偏振敏感光学元件和偏振调制元件的布置。提供第一和第二偏振敏感光学元件，具有相对于与电光器件布置的光轴垂直的平面而位移的边缘。耦合到电光器件布置的控制系统控制电压对偏振调制元件的施加，以控制输入到偏振敏感光学元件的光的偏振旋转，使得改变偏振敏感光学元件的光程长度，以提供在不同焦平面的每个的对象图像的捕获。第一和第二偏振敏感光学元件响应对其输入的光的偏振旋转而生成在不同焦平面所捕获的相应对象图像之间的横向图像移位。
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公开(公告)号：CN103116739A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201210286078.5
申请日：2012-08-13
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06K9/00
CPC classification number: H04N5/23219 , G02B27/0075 , G06K9/00033 , G06K2209/40 , G06T7/571
Abstract: 成像系统包括：可定位装置，配置成轴向移动像平面，其中从发自物体并且经过透镜的光子来生成像平面；检测器平面，定位成接收经过透镜的物体的光子；以及计算机，编程为将透镜表征为数学函数，以相对于检测器平面的不同轴向位置的各元素图像的像平面来获取物体的两个或更多元素图像，基于透镜的表征并且基于所获取的两个或更多元素图像来确定物体离透镜的聚焦距离，并且基于所确定距离来生成物体的景深图。
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公开(公告)号：CN103116739B
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201210286078.5
申请日：2012-08-13
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06K9/00
CPC classification number: H04N5/23219 , G02B27/0075 , G06K9/00033 , G06K2209/40 , G06T7/571
Abstract: 成像系统包括：可定位装置，配置成轴向移动像平面，其中从发自物体并且经过透镜的光子来生成像平面；检测器平面，定位成接收经过透镜的物体的光子；以及计算机，编程为将透镜表征为数学函数，以相对于检测器平面的不同轴向位置的各元素图像的像平面来获取物体的两个或更多元素图像，基于透镜的表征并且基于所获取的两个或更多元素图像来确定物体离透镜的聚焦距离，并且基于所确定距离来生成物体的景深图。
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公开(公告)号：CN106064521A
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：CN201610245932.1
申请日：2016-04-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: B32B41/00
CPC classification number: G06T7/0004 , B29C70/386 , B29L2007/007 , G06T2207/30108 , B32B41/00
Abstract: 本发明题为用于监测复合叠层机的带端的系统和方法。提出一种用于识别滚动于复合结构之上的纤维带的端部的装置。该装置包括光源，其设置成接近复合结构，并且配置成将光线以第一角度投射在滚动于复合结构之上的纤维带上。另外，该装置包括图像捕获单元，其设置成接近复合结构，并且配置成以第二角度来捕获纤维带上的光线的图像。此外，该装置包括控制器，其耦合到图像捕获单元，并且配置成处理所捕获图像，以检测纤维带上的光线的间断，并且基于纤维带上的光线中的所检测间断来识别纤维带的端部。
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公开(公告)号：CN106969703A
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：CN201610993226.5
申请日：2016-11-11
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/00
Abstract: 自动测量系统（400）包含多轴线成像器（500），其配置成接收工件（100）的图像，其中图像包含关于多个聚焦面（140‑152）处工件（100）的视觉信息或关于在至少两个聚焦面（140‑152）之间工件（100）的视觉信息。多轴线成像器（500）还配置成确定多个3D数据点（600）的点云，其中多个3D数据点（600）中的每个代表多个聚焦面（140‑152）中的一个与工件（100）的表面的相交或在至少两个聚焦面（140‑152）之间的散焦区域中的工件（100）的位置信息。多轴成像器（500）进一步配置成确定工件（100）的特征的多个维度并且将特征的确定的多个维度与对应于特征的确定的多个维度中的至少一些的制造规范比较。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104570382A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410388243.7
申请日：2014-08-08
Applicant: 通用电气公司
IPC: G02B27/58
Abstract: 本发明为使用积分移位光学的图像超分辨率的设备和方法。本发明的图像捕获装置包括一种电光器件布置，其中具有偏振器、偏振敏感光学元件和偏振调制元件的布置。提供第一和第二偏振敏感光学元件，具有相对于与电光器件布置的光轴垂直的平面而位移的边缘。耦合到电光器件布置的控制系统控制电压对偏振调制元件的施加，以控制输入到偏振敏感光学元件的光的偏振旋转，使得改变偏振敏感光学元件的光程长度，以提供在不同焦平面的每个的对象图像的捕获。第一和第二偏振敏感光学元件响应对其输入的光的偏振旋转而生成在不同焦平面所捕获的相应对象图像之间的横向图像移位。
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公开(公告)号：CN106064521B
公开(公告)日：2020-07-21
申请号：CN201610245932.1
申请日：2016-04-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: B32B41/00
Abstract: 本发明题为用于监测复合叠层机的带端的系统和方法。提出一种用于识别滚动于复合结构之上的纤维带的端部的装置。该装置包括光源，其设置成接近复合结构，并且配置成将光线以第一角度投射在滚动于复合结构之上的纤维带上。另外，该装置包括图像捕获单元，其设置成接近复合结构，并且配置成以第二角度来捕获纤维带上的光线的图像。此外，该装置包括控制器，其耦合到图像捕获单元，并且配置成处理所捕获图像，以检测纤维带上的光线的间断，并且基于纤维带上的光线中的所检测间断来识别纤维带的端部。
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公开(公告)号：CN106969703B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201610993226.5
申请日：2016-11-11
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01B11/00
Abstract: 自动测量系统（400）包含多轴线成像器（500），其配置成接收工件（100）的图像，其中图像包含关于多个聚焦面（140‑152）处工件（100）的视觉信息或关于在至少两个聚焦面（140‑152）之间工件（100）的视觉信息。多轴线成像器（500）还配置成确定多个3D数据点（600）的点云，其中多个3D数据点（600）中的每个代表多个聚焦面（140‑152）中的一个与工件（100）的表面的相交或在至少两个聚焦面（140‑152）之间的散焦区域中的工件（100）的位置信息。多轴成像器（500）进一步配置成确定工件（100）的特征的多个维度并且将特征的确定的多个维度与对应于特征的确定的多个维度中的至少一些的制造规范比较。
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公开(公告)号：CN103384821B
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201180067744.X
申请日：2011-12-16
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01N21/84
CPC classification number: G01N21/84 , G01N2021/8444 , G02B21/365
Abstract: 一种用于使用试样检查多孔基底（26）的自动系统（10），包括传送装置（20），被放置成沿试样轴（30）将试样施加于多孔基底上的目标点；成像装置（12）和一个或多个透镜（16），被放置使得成像装置和透镜各自具有偏离试样轴的聚焦轴，并且所述成像装置和透镜具有实质上与目标点相同的检视焦点（34）；光源（18），偏离传送装置以便照射表面目标；以及处理器（36），包括协调传送装置和成像装置的自动化和计时并且确定多孔基底的一个或多个特征的数据采集和控制系统。
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公开(公告)号：CN103384821A
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201180067744.X
申请日：2011-12-16
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01N21/84
CPC classification number: G01N21/84 , G01N2021/8444 , G02B21/365
Abstract: 一种用于使用试样检查多孔基底（26）的自动系统（10），包括传送装置（20），被放置成沿试样轴（30）将试样施加于多孔基底上的目标点；成像装置（12）和一个或多个透镜（16），被放置使得成像装置和透镜各自具有偏离试样轴的聚焦轴，并且所述成像装置和透镜具有实质上与目标点相同的检视焦点（34）；光源（18），偏离传送装置以便照射表面目标；以及处理器（36），包括协调传送装置和成像装置的自动化和计时并且确定多孔基底的一个或多个特征的数据采集和控制系统。
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