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公开(公告)号：CN102023170B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201010294435.3
申请日：2010-09-17
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/06 , A61B6/4233 , A61B6/4291 , A61B6/502 , A61B6/5282
Abstract: 一种包括x射线检测器单元(134)的方法、系统和设备，该x射线检测器单元(134)包括没有顶盖和底盖中的至少一个的防散射栅(140)、具有x射线转换层(150)的平板x射线检测器(146)和配置成向该防散射栅(140)提供结构性支撑并且向该平板x射线检测器(146)提供机械保护的集成防散射栅组件(136)。该防散射栅(140)配置成吸收撞击该防散射栅(140)的多个散射的x射线同时基本上允许非散射x射线通过该防散射栅(140)。该x射线转换层(150)配置成将x射线转换成可见光或电信号。该平板x射线检测器(146)关于该防散射栅(140)固定使得该防散射栅(140)在该x射线检测器(134)的运行期间关于该平板x射线检测器(146)保持静止。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1283953A
公开(公告)日：2001-02-14
申请号：CN00120114.X
申请日：2000-07-17
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/583
Abstract: 本申请提供一种X－射线系统参数自动评估系统。生成并保存一个物理模式或模板,每一个模板对应于一个所需模型。该自动系统输入一个灰度X－射线图象,然后处理该图象以确定图象构件。如果构件不匹配,则排除该图象。然后该系统确定输入图象中对应于预期物理结构的标志的位置。所说标志包括一个周边环、垂直和水平线段件、和基准段。该系统利用标志预测在其中进行X－射线系统参数测量的研究区(ROI)。最后,在识别的ROI中测量X－射线系统参数。
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公开(公告)号：CN101551462B
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN200910118727.9
申请日：2009-01-09
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14663 , H01L27/14609 , H01L27/14636 , H04N5/357 , H04N5/374
Abstract: 一种双功能探测器装置，其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术，该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像，包括那些包含时间和空间变化电磁场的。
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公开(公告)号：CN1236656C
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：CN00120114.X
申请日：2000-07-17
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/583
Abstract: 本申请提供一种X-射线系统参数自动评估系统。生成并保存一个物理模式或模板，每一个模板对应于一个所需模型。该自动系统输入一个灰度X-射线图象，然后处理该图象以确定图象构件。如果构件不匹配，则排除该图象。然后该系统确定输入图象中对应于预期物理结构的标志的位置。所说标志包括一个周边环、垂直和水平线段件和基准段。该系统利用标志预测在其中进行X-射线系统参数测量的研究区(ROI)。最后，在识别的ROI中测量X-射线系统参数。
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公开(公告)号：CN102023170A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN201010294435.3
申请日：2010-09-17
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/06 , A61B6/4233 , A61B6/4291 , A61B6/502 , A61B6/5282
Abstract: 一种包括x射线检测器单元(134)的方法、系统和设备，该x射线检测器单元(134)包括没有顶盖和底盖中的至少一个的防散射栅(140)、具有x射线转换层(150)的平板x射线检测器(146)和配置成向该防散射栅(140)提供结构性支撑并且向该平板x射线检测器(146)提供机械保护的集成防散射栅组件(136)。该防散射栅(140)配置成吸收撞击该防散射栅(140)的多个散射的x射线同时基本上允许非散射x射线通过该防散射栅(140)。该x射线转换层(150)配置成将x射线转换成可见光或电信号。该平板x射线检测器(146)关于该防散射栅(140)固定使得该防散射栅(140)在该x射线检测器(134)的运行期间关于该平板x射线检测器(146)保持静止。
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公开(公告)号：CN101551462A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200910118727.9
申请日：2009-01-09
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01L27/14663 , H01L27/14609 , H01L27/14636 , H04N5/357 , H04N5/374
Abstract: 一种双功能探测器装置，其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术，该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像，包括那些包含时间和空间变化电磁场的。
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