公开(公告)号：CN100530287C

公开(公告)日：2009-08-19

申请号：CN200610093699.6

申请日：2006-06-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  宫泽一幸 ,  古贺慎一

IPC: G09G3/00 ,  G02F1/13 ,  G01R31/00 ,  G01M11/00

CPC classification number: G09G3/006 ,  G09G2300/0842 ,  G09G2310/0248 ,  G09G2310/0275

Abstract: 一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。

公开(公告)号：CN1881389A

公开(公告)日：2006-12-20

申请号：CN200610093699.6

申请日：2006-06-13

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 清水目和年 ,  宫泽一幸 ,  古贺慎一

IPC: G09G3/00 ,  G02F1/13 ,  G01R31/00 ,  G01M11/00

CPC classification number: G09G3/006 ,  G09G2300/0842 ,  G09G2310/0248 ,  G09G2310/0275

Abstract: 一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。