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公开(公告)号：CN105486646A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510624958.2
申请日：2015-09-25
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01N21/31
CPC classification number: G01N21/274 , A61B5/0075 , A61B5/14532 , A61B5/7235 , G01N21/31 , G01N33/49 , G01N2201/12746
Abstract: 一种信号检测方法、校准线生成方法、定量方法及测量装置，可高精度检测与测量信号中微量包含的目标成分相关的信号。信号检测方法包括：利用测量信号获取部(20)获取包含目标成分的信号即第1信号和干扰成分的信号即第2信号的测量信号的工序；以及利用第1目标成分信号检测部(316)或者第2目标成分信号检测部(322)进行使测量信号相对第2信号正交的正交运算的工序。
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公开(公告)号：CN1823299B
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：CN200480020368.9
申请日：2004-07-22
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G02B27/286 , G02B27/1046 , G02B27/145 , G02B27/149 , G02B27/283 , H04N9/3105
Abstract: 本发明的目的在于提供能够以稳定的状态形成接缝不显著的流畅的像质的投影图像的投影机。经过第1单元(28a)后的像光，偏振方向通过入/2相位差板(28h)适当旋转且像光的一部分通过双折射板(28i)分支到Y方向，若将其原样直接投影，就在屏幕上形成由多个二维地排列的像素(PX0)和对应于其分支像的像素(PX1)和黑矩阵区域(BA)所构成的图像(IM2)。经过第2单元(28b)后的像光，偏振方向通过λ/2相位差板(28j)适当旋转且像光的一部分通过双折射板(28k)分支到Y方向，在屏幕上形成由直到前级的像素(PX0、PX1)和对应于它们的分支像的像素(PX2)和黑矩阵区域(BA)构成的图像(IM3)。
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公开(公告)号：CN101937126A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN201010218085.2
申请日：2010-06-29
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 本发明提供能够防止光线向投影光学系统的无效角度入射、抑制投影光学系统内的发热、抑制焦点移动的投影机。通过控制装置(90)的调光机构驱动部(93)相应于投影光学系统(70)的光圈数而使调光机构(80)的开闭状态发生变化，能够使具有对应于投影光学系统(70)的光圈数的角度分布的照明光入射于投影光学系统(70)，能够防止由投影光学系统(70)的镜筒和/或光阑等遮挡照明光。因此，投影光学系统(70)不会超出需要地发热，能够防止投影光学系统(70)的透镜的焦点移动，能够不改变照明装置(10)本身的明亮度地消除对焦模糊。
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公开(公告)号：CN101592853A
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200910159739.6
申请日：2007-02-16
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: H04N9/3167 , G03B21/14 , G03B21/2073 , G03B21/208 , H04N9/3152
Abstract: 投影机具备均匀照明光学系统(41)。均匀照明光学系统(41)具备通过多个第1透镜(4121)将光束分割为多束部分光束的第1透镜阵列(412)、具有多个第2透镜(4131)的第2透镜阵列(413)和使光束的偏振方向一致为大致1种的偏振变换元件(414)。偏振变换元件(414)具备在第1方向具有较长方向的偏振分离层(4141)、沿大致正交于第1方向的第2方向(B)与偏振分离层交替配置的反射层(4142)和对入射的偏振光的偏振方向进行变换的相位差层(4144)。第1透镜(4121)在第1方向的焦点位置设定于第2透镜阵列(413)附近；第2方向(B)的焦点位置设定于偏振变换元件(414)附近。
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公开(公告)号：CN100541321C
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200710078830.6
申请日：2007-02-16
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: H04N9/3167 , G03B21/14 , G03B21/2073 , G03B21/208 , H04N9/3152
Abstract: 投影机具备均匀照明光学系统(41)。均匀照明光学系统(41)具备通过多个第1透镜(4121)将光束分割为多束部分光束的第1透镜阵列(412)、具有多个第2透镜(4131)的第2透镜阵列(413)和使光束的偏振方向一致为大致1种的偏振变换元件(414)。偏振变换元件(414)具备在第1方向具有较长方向的偏振分离层(4141)、沿大致正交于第1方向的第2方向(B)与偏振分离层交替配置的反射层(4142)和对入射的偏振光的偏振方向进行变换的相位差层(4144)。第1透镜(4121)在第1方向的焦点位置设定于第2透镜阵列(413)附近；第2方向(B)的焦点位置设定于偏振变换元件(414)附近。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1306306C
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200410004833.1
申请日：2004-02-09
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 西田和弘
CPC classification number: G02B15/177
Abstract: 一种投影变焦透镜及包括该透镜的光学投影机，所述投影变焦透镜包括：具有负光焦度并包括一个非球面面对物体表面的单个弯月透镜的第一透镜组，具有正光焦度并包括一个单个第二组透镜的第二透镜组，具有负光焦度并包括一个复合透镜的第三透镜组，包括一个单个第四组透镜的第四透镜组以及具有正光焦度并包括一个单个第五组透镜的第五透镜组。第五透镜组保持静止，第一、第二、第三和第四透镜组沿光轴朝向屏幕移动以增大投影变焦透镜的放大率，从而利用较少的透镜满意地减少像差并具有较宽的半视场角。
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公开(公告)号：CN1945110A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200610154188.0
申请日：2005-03-01
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: H01J9/20 , C03B23/0493 , C03B23/07 , C03B33/06 , C03C17/001 , C03C17/09 , C03C17/36 , C03C17/3663 , F21V7/0025 , F21V7/10 , G02B5/0808 , G02B5/10 , G03B21/2026 , G03B21/2066 , H01J9/247 , H01J61/025 , H01J61/35 , H04N9/315
Abstract: 提供一种照明装置以及具备该照明装置的投影机。该照明装置具备具有一对电极的发光管、和将来自所述发光管的光向被照明区域侧反射的反射镜；其中，所述反射镜具有内表面和外表面；所述内表面，相对于以反射的光通过在所述一对电极间产生的电弧像的方式反射来自所述电弧像的光的理想内表面倾斜；所述反射镜的反射膜，被形成在所述反射镜的外表面上。该投影机具备上述的照明装置、调制从照明装置射出的光束的光调制装置、以及投影由所述光调制装置调制过的光束的投影光学系统。
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公开(公告)号：CN1550818A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN200410004833.1
申请日：2004-02-09
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 西田和弘
CPC classification number: G02B15/177
Abstract: 投影变焦透镜，包括：具有负折射率并包括一个非球面面对物体表面的单个弯月透镜的第一透镜组，具有正折射率并包括一个单个第二组透镜的第二透镜组，具有负折射率并包括一个复合透镜的第三透镜组，包括一个单个第四组透镜的第四透镜组以及具有正折射率并包括一个单个第五组透镜的第五透镜组。第五透镜组保持静止，第一、第二、第三和第四透镜组沿光轴朝向屏幕移动以增大投影变焦透镜的放大率。
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公开(公告)号：CN1530707A
公开(公告)日：2004-09-22
申请号：CN200410004692.3
申请日：2004-03-11
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G02F1/1333 , G03B21/00
CPC classification number: G02B27/0961 , G02B3/0056 , G02B5/005 , G02B27/0927 , G03B21/005
Abstract: 本发明提供一种虽然结构不要求较高的定位精度、但却能够可靠地实现对比度的提高的投影机。该投影机包括：光源(100)；第一透镜阵列(131)，利用纵横配置的多个小透镜(131A)将从光源(100)出射的光分割成多个部分光束；第二透镜阵列(132)，具有与第一透镜阵列(131)的多个小透镜(131A)分别对应的多个小透镜(132A)；重叠透镜(134)，使从第一透镜阵列(131)和第二透镜阵列(132)射出的多个部分光束重叠在液晶面板(170)上；以及投射透镜(190)，投射由液晶面板(170)调制的光，其中，具有形状与第二透镜阵列(132)的外形形状大致相似的开口(201)的光圈装置(200)被配置在与上第二透镜阵列(132)共轭的位置的附近。
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公开(公告)号：CN104819939A
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201510046529.1
申请日：2015-01-29
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: A61B5/1455 , A61B5/14532 , A61B5/6816 , A61B5/6826
Abstract: 本发明提供一种旋光计量方法及旋光计量装置。抑制由于反射光在与计量光的入射方向相同的方向上反射而使旋光相抵消的情况。此外，精度良好地计量旋光。构成的旋光计量方法包括：对被检测体以非直角的入射方向入射规定偏光的计量光；辨别来自上述被检测体的、与上述入射方向不同的方向的反射光中的上述规定偏光的旋光反映成分；以及基于上述辨别的结果计量旋光。
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