半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN112420660A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN202010782291.X

    申请日:2020-08-06

    Abstract: 本公开的实施例涉及一种半导体器件。该半导体器件包括:键合焊盘,在第一布线层中形成;以及第一布线和第二布线,在第二布线层中形成,该第二布线层设置在第一布线层下方的一层。此处,电源电位和参考电位将分别被供应给各自的第一布线和第二布线。而且,在透视平面图中,第一布线中的每个第一布线彼此邻近布置,并且布置在第二布线层的第一位置处,该第一位置与第一键合焊盘的键合区重叠。而且,在透视平面图中,第二布线布置在第二布线层的第二位置处,该第二位置与位于第一键合焊盘与第二键合焊盘之间的第一区重叠。进一步地,每个第一布线的宽度小于第二布线的宽度。

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