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公开(公告)号：CN104416290B
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201410429729.0
申请日：2014-08-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: B23K26/38 , B23K26/362 , B23K26/03
Abstract: 本发明提供一种激光加工装置，能够抑制装置的设置面积变大的同时，能够对利用激光加工的加工区域的大范围区域进行观察。附属装置(112)安装在具有利用加工用激光(Lp)进行扫描的电控光束扫描镜(156)的激光头(111)的底面，用于由收容摄像头(161)、透镜(162)以及反射镜(163)构成的观察用光学系统。来自加工面(S)的光被反射镜(163)反射后入射至透镜(162)，借助透镜(162)在摄像头(161)的拍摄器件上形成加工面(S)的像。本发明例如可以适用于激光打标机。
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公开(公告)号：CN104416290A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201410429729.0
申请日：2014-08-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: B23K26/38 , B23K26/362 , B23K26/03
Abstract: 本发明提供一种激光加工装置，能够抑制装置的设置面积变大的同时，能够对利用激光加工的加工区域的大范围区域进行观察。附属装置(112)安装在具有利用加工用激光(Lp)进行扫描的电控光束扫描镜(156)的激光头(111)的底面，用于由收容摄像头(161)、透镜(162)以及反射镜(163)构成的观察用光学系统。来自加工面(S)的光被反射镜(163)反射后入射至透镜(162)，借助透镜(162)在摄像头(161)的拍摄器件上形成加工面(S)的像。本发明例如可以适用于激光打标机。
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公开(公告)号：CN100513991C
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200710136491.2
申请日：2007-07-12
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/25 , G06F3/0482 , G06F3/04845 , G06T7/521
Abstract: 在位移传感器中简化计测处理时的设定作业，该设定处理是，基于与沿着拍摄得到的线状光束的方向相对的高度分布上的多个局部区域或者特征点，而执行的计测处理。将拍摄图像显示在显示部上，通过输入部输入确定指示时，将显示在显示部的拍摄图像作为设定对象图像而执行图像示教，作为计测处理，显示包含有基准位置的计测处理的候补即计测项目，并接受选择而进行设定，并且接受作为一个计测对象区域的切取区域的指定，基于所设定的计测处理以及基准位置的信息，在计测对象区域中，自动设定由用于计测的局部区域或者特征点构成的测定点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101105392A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200710136491.2
申请日：2007-07-12
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/25 , G06F3/0482 , G06F3/04845 , G06T7/521
Abstract: 在位移传感器中简化计测处理时的设定作业，该设定处理是，基于与沿着拍摄得到的线状光束的方向相对的高度分布上的多个局部区域或者特征点，而执行的计测处理。将拍摄图像显示在显示部上，通过输入部输入确定指示时，将显示在显示部的拍摄图像作为设定对象图像而执行图像示教，作为计测处理，显示包含有基准位置的计测处理的候补即计测项目，并接受选择而进行设定，并且接受作为一个计测对象区域的切取区域的指定，基于所设定的计测处理以及基准位置的信息，在计测对象区域中，自动设定由用于计测的局部区域或者特征点构成的测定点。
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公开(公告)号：CN1218159C
公开(公告)日：2005-09-07
申请号：CN02107961.7
申请日：2002-03-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/25
Abstract: 本发明提供一种即使对例如表面反射率不同、在表面上存在凹槽、在表面上存在倾斜面、在表面上存在曲面的这样的计量对像物体上也能使用能高精度的计量断面轮廓线的窄断面光切断法的光学式计量装置。该装置具有：取得摄影条件不同的多幅图像的多图像取得装置、图像合成装置，该图像合成装置在每个预先设定的划分的区域从通过多图像取得装置取得的多幅图像中抽出包含满足规定的鲜明度条件的断面轮廓线部分的图像，并通过收集这些抽出的各划分的区域图像而生成包含一连串的断面轮廓部分像；还包括根据包含在由图像合成装置生成的合成图像中的一连串断面轮廓线图像部分像通过进行规定的计量处理而生成计量值和/或判定值。
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公开(公告)号：CN1376895A
公开(公告)日：2002-10-30
申请号：CN02107961.7
申请日：2002-03-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/25
Abstract: 本发明提供一种即使对例如表面反射率不同、在表面上存在凹槽、在表面上存在倾斜面、在表面上存在曲面的这样的计量对像物体上也能使用能高精度的计量断面轮廓线的窄断面光切断法的光学式计量装置。该装置具有:取得摄影条件不同的多幅图像的多图像取得装置、图像合成装置,该图像合成装置在每个预先设定的划分的区域从通过多图像取得装置取得的多幅图像中抽出包含满足规定的鲜明度条件的断面轮廓线部分的图像,并通过收集这些抽出的各划分的区域图像而生成包含一连串的断面轮廓部分像;还包括根据包含在由图像合成装置生成的合成图像中的一连串断面轮廓线图像部分像通过进行规定的计量处理而生成计量值和/或判定值。
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公开(公告)号：CN301815372S
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201130192711.0
申请日：2011-06-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 1.本外观设计产品的名称：激光制标机。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品是将光纤电缆连接在设置于后表面的光纤电缆连接部上来使用的，该光纤电缆连接在激光制标机用控制器(激发用激光二极管设备)上，使所述激发用激光二极管设备产生的激光通过设置在本外观设计产品的内部的激光发送器放大，然后从设置在下表面上的出射透镜照射出来而在被加工物上描绘文字和图形。3.本外观设计的设计要点在于如图所示的形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。5.主视图中央部的纵向长的矩形部分是根据动作状态发光的发光部，该发光部具有透光性。
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公开(公告)号：CN301813859S
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201130192631.5
申请日：2011-06-16
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 1.本外观设计产品的名称：激光制标机用控制器。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品连接在激光制标机上使用，例如能够对激光制标机的输出进行调节。3.本外观设计的设计要点在于如图所示的形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。5.主视图上部中央的4个小矩形部分和主视图下部右侧的小圆形部分是发光部。覆盖主视图上部的程序段显示部(A)、该程序段显示部下部的两个照射光按钮开关(B)的盖透明。
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