公开(公告)号：CN114112947A

公开(公告)日：2022-03-01

申请号：CN202110987862.8

申请日：2021-08-26

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 村山广大 ,  猿谷敏之 ,  渡边芙美枝 ,  原理纱

IPC: G01N21/31

Abstract: 本公开提供了一种光谱分析设备，该光谱分析设备包括：膜，该膜与接受光谱分析的样品接触；第一照射器，该第一照射器照射具有跃迁能量的第一照射光，以分解附着于膜的边界表面上的附着材料；以及光波导，该光波导传输从第一照射器照射的第一照射光。在光波导的前表面上生成基于第一照射光的第一倏逝波，然后使该第一倏逝波投射在附着材料的附着区域上。

公开(公告)号：CN113466183A

公开(公告)日：2021-10-01

申请号：CN202110352030.9

申请日：2021-03-31

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 原理纱 ,  猿谷敏之 ,  村山广大 ,  渡边芙美枝

IPC: G01N21/552 ,  G01N21/31 ,  G01N21/59

Abstract: 本公开提供了一种光谱分析装置，其包括检测器和处理器。所述检测器检测通过用辐照光辐照包含物质的样品而获得的测量光，所述样品设置于在其上产生表面等离激元的膜上。所述测量光包括关于所述样品的光谱的信息，并且所述信息包括所述表面等离激元的共振光谱和所述样品的吸收光谱。所述处理器：计算出产生所述共振光谱和所述吸收光谱的波长带中的峰值波长；基于所包含的物质的吸收带计算出所包含的物质的峰值吸光度；并且基于所述峰值波长和所述峰值吸光度计算出所包含的物质与所述样品的比率。

公开(公告)号：CN113466183B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202110352030.9

申请日：2021-03-31

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 原理纱 ,  猿谷敏之 ,  村山广大 ,  渡边芙美枝

IPC: G01N21/552 ,  G01N21/31 ,  G01N21/59

Abstract: 本公开提供了一种光谱分析装置，其包括检测器和处理器。所述检测器检测通过用辐照光辐照包含物质的样品而获得的测量光，所述样品设置于在其上产生表面等离激元的膜上。所述测量光包括关于所述样品的光谱的信息，并且所述信息包括所述表面等离激元的共振光谱和所述样品的吸收光谱。所述处理器：计算出产生所述共振光谱和所述吸收光谱的波长带中的峰值波长；基于所包含的物质的吸收带计算出所包含的物质的峰值吸光度；并且基于所述峰值波长和所述峰值吸光度计算出所包含的物质与所述样品的比率。

公开(公告)号：CN117288697A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202310146751.3

申请日：2023-02-15

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 小林航 ,  原理纱 ,  村山広大 ,  下田聡一郎

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供检量装置、检量方法和计算机可读存储介质，能够有效地制作高精度的检量模型。检量装置10生成基准样品的数据集，该基准样品的数据集包括含有多种成分的基准样品的光谱数据、以及由该基准样品的多种成分的各成分含量决定的各目的变量；通过机器学习对机器学习模型进行训练，所述机器学习使用该基准样品的数据集，所述机器学习模型根据光谱数据的输入，输出多种成分的各成分的各目的变量中的至少1个目的变量。

公开(公告)号：CN119534402A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411134214.8

申请日：2024-08-19

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 原理纱 ,  猿谷敏之 ,  村山广大 ,  石井健知

IPC: G01N21/55 ,  G01N21/01 ,  G01N21/03

Abstract: 本发明涉及一种分光分析装置以及分光分析方法。本发明涉及的分光分析装置(1)具有：照射部(10)，其使照射光向被测定对象照射；受光部(40)，其接受基于照射光的来自被测定对象的反射光；以及控制部(80)，其基于反射光而对被测定对象的光学特性进行分析，控制部(80)获取包含将照射光向被测定对象引导的观察窗(W)在内的测定环境的环境信息，根据环境信息而对表示光学特性的参数进行校正。

公开(公告)号：CN115605751A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202180035719.7

申请日：2021-05-21

Applicant: 横河电机株式会社(JP)

Inventor： 原理纱 ,  村山広大

IPC: G01N33/02 ,  A23L11/00 ,  G01N21/359 ,  G01N21/41

Abstract: 本发明提供渗透度推定装置和渗透度推定方法，渗透度推定装置(10)包括：接口(30)，构成为能够与传感器(4)连接，该传感器(4)测量溶出到浸渍浸渍物(3)的浸渍液(2)中的浸渍物(3)的成分浓度；以及控制部(20)，从接口(30)取得成分浓度，基于成分浓度的测量结果来推定浸渍液(2)相对于浸渍物(3)的渗透度。

公开(公告)号：CN114729882A

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN202080078426.2

申请日：2020-10-20

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 村山广大 ,  猿谷敏之 ,  渡边芙美枝 ,  原理纱

IPC: G01N21/41

Abstract: 在本公开所涉及的分光分析装置(1)中，控制部(40)基于分光光谱中的、仅产生表面等离激元的共振光谱的第一波段中的第一分光光谱的信息来获取样品(S)的折射率信息，基于获取到的折射率信息，在分光光谱中的、产生共振光谱以及样品(S)的吸收光谱的第二波段中的第二分光光谱中，决定共振光谱的峰值波长与吸收光谱的峰值波长相互一致的、由照射部(10)照射的照射光(L1)相对于膜(M)的入射角度，并从基于所决定的入射角度得到的第二分光光谱的信息来分析样品(S)的状态。