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公开(公告)号：CN110261852A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910221288.8
申请日：2019-03-22
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 一种频率分集逆合成孔径雷达成像系统和方法，包括发射部分和接收部分，发射部分包括频率选择单元、基带信号产生器、上变频器和发射天线，频率选择单元的输出分为两路，一路连接基带信号生成器，一路送至成像算法单元，频率选择单元在每个观测时刻从频率偏置集合中按照线性或随机等规律选择单个频率偏置作为基带信号产生器的频率，经过上变频器进行载波调制，得到射频发射信号由发射天线发射出；接收部分包括接收天线、下变频器、数字采样单元和成像算法单元，通过收到的回波信号经过下变频器和数字采样单元，恢复为携带目标信息的基带信号，送到成像算法单元进行处理。本发明在每个观测时间点仅发射一个单频信号，降低了系统和成像方法的复杂度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110261852B
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN201910221288.8
申请日：2019-03-22
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 一种频率分集逆合成孔径雷达成像系统和方法，包括发射部分和接收部分，发射部分包括频率选择单元、基带信号产生器、上变频器和发射天线，频率选择单元的输出分为两路，一路连接基带信号生成器，一路送至成像算法单元，频率选择单元在每个观测时刻从频率偏置集合中按照线性或随机等规律选择单个频率偏置作为基带信号产生器的频率，经过上变频器进行载波调制，得到射频发射信号由发射天线发射出；接收部分包括接收天线、下变频器、数字采样单元和成像算法单元，通过收到的回波信号经过下变频器和数字采样单元，恢复为携带目标信息的基带信号，送到成像算法单元进行处理。本发明在每个观测时间点仅发射一个单频信号，降低了系统和成像方法的复杂度。
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公开(公告)号：CN109901164A
公开(公告)日：2019-06-18
申请号：CN201910216894.0
申请日：2019-03-21
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种合成孔径雷达的分布式后向投影成像方法，涉及合成孔径雷达大场景成像领域，解决的技术问题是如何实现SAR的大场景高分辨率高精度成像和降低成像时延，包括如下步骤：获得散射点回波数据，对回波数据进行距离压缩处理后添加对应虚拟阵元的位置信息；进行分布式BP算法的Map阶段；进行分布式BP算法的Reduce阶段，获得成像数据。本发明可实现SAR的大场景高分辨率高精度成像并降低成像时延。
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公开(公告)号：CN108983195A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810942099.5
申请日：2018-08-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01S7/41
Abstract: 本发明公开了一种基于子阵列自适应成像的目标雷达散射截面积测量方法，涉及雷达测量技术领域，解决的技术问题是提供一种克服大观测角下出现的回波不相参现象，提高雷达散射截面积测量精度的方法，包括如下步骤：（1）初始化参数；（2）获取回波数据；（3）进行三维成像处理；（4）通过子阵列成像并求互相关系数；（5）确定最佳子阵列；（6）划分剩余子阵列；（7）测量角度计算与判决；（8）获得所有最佳子阵列；（9）进行RCS计算与拟合得到RCS值曲线。采用本发明的技术方案将较大的二维虚拟阵列分成多个子阵列进行局部测量，避免了大观测角度下雷达回波不相参的影响，提高了目标雷达散射截面积的测量准确度。
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公开(公告)号：CN109901164B
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN201910216894.0
申请日：2019-03-21
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种合成孔径雷达的分布式后向投影成像方法，涉及合成孔径雷达大场景成像领域，解决的技术问题是如何实现SAR的大场景高分辨率高精度成像和降低成像时延，包括如下步骤：获得散射点回波数据，对回波数据进行距离压缩处理后添加对应虚拟阵元的位置信息；进行分布式BP算法的Map阶段；进行分布式BP算法的Reduce阶段，获得成像数据。本发明可实现SAR的大场景高分辨率高精度成像并降低成像时延。
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公开(公告)号：CN108983195B
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN201810942099.5
申请日：2018-08-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01S7/41
Abstract: 本发明公开了一种基于子阵列自适应成像的目标雷达散射截面积测量方法，涉及雷达测量技术领域，解决的技术问题是提供一种克服大观测角下出现的回波不相参现象，提高雷达散射截面积测量精度的方法，包括如下步骤：（1）初始化参数；（2）获取回波数据；（3）进行三维成像处理；（4）通过子阵列成像并求互相关系数；（5）确定最佳子阵列；（6）划分剩余子阵列；（7）测量角度计算与判决；（8）获得所有最佳子阵列；（9）进行RCS计算与拟合得到RCS值曲线。采用本发明的技术方案将较大的二维虚拟阵列分成多个子阵列进行局部测量，避免了大观测角度下雷达回波不相参的影响，提高了目标雷达散射截面积的测量准确度。
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