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公开(公告)号：CN110187359B
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN201910137272.9
申请日：2019-02-25
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S17/931 , G01S17/48
Abstract: 本发明公开了用于光学地测量距离的方法和设备。在该设备中，光接收元件中的每一个基于来自测量空间的返回光的相应强度来输出强度信号。返回光包括基于目标对象对测量光的反射而反射的反射光。识别单元根据相应光接收元件的强度信号来识别光检测区域中的光接收区域。光接收区域基于多个光接收元件中的指定光接收元件。指定光接收元件被布置成接收反射光。估计单元基于光接收区域的几何构造来估计包括光学系统的状态的设备的状态。
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公开(公告)号：CN110622324A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201880024309.0
申请日：2018-04-09
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/107
Abstract: 光检测器具备：受光部(2)，具备构成为响应光子的入射的SPAD(4)，并构成为若SPAD作出响应则受光部输出脉冲信号；以及脉冲率控制电路(20)，构成为控制受光部的灵敏度，以使来自受光部的脉冲信号的每单位时间的输出数亦即脉冲率成为预先设定的设定值、包含该设定值的设定范围内、该设定值以上、或者该设定值以下。
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公开(公告)号：CN110187360A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201910137567.6
申请日：2019-02-25
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明公开了用于光学地测量距离的方法和设备。在该设备中，光接收元件中的每一个基于来自测量空间的返回光的相应强度来输出强度信号。返回光包括基于目标对象对测量光的反射而反射的反射光。识别单元根据相应光接收元件的强度信号来识别光检测区域中的光接收区域。光接收区域基于多个光接收元件中的指定光接收元件。指定光接收元件被布置成接收反射光。距离测量单元根据由指定光接收元件接收的强度信号来测量目标对象的距离。
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公开(公告)号：CN110622324B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN201880024309.0
申请日：2018-04-09
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/107
Abstract: 光检测器具备：受光部(2)，具备构成为响应光子的入射的SPAD(4)，并构成为若SPAD作出响应则受光部输出脉冲信号；以及脉冲率控制电路(20)，构成为控制受光部的灵敏度，以使来自受光部的脉冲信号的每单位时间的输出数亦即脉冲率成为预先设定的设定值、包含该设定值的设定范围内、该设定值以上、或者该设定值以下。
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公开(公告)号：CN110462846B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN201880019965.1
申请日：2018-03-27
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/10 , G01S7/487 , G01S17/74 , G01S7/4863 , G01S17/10 , H01L27/146
Abstract: 本发明涉及光检测器。受光阵列部(10)具有根据光子的入射而输出脉冲信号的多个受光部(11)，且并行输出从多个受光部分别输出的脉冲信号。比较部(20)对输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数和触发阈值进行比较，并在响应数达到触发阈值的定时输出表示入射到受光阵列部的光信号的受光定时的触发信号。响应获取部(40)在按照触发信号的定时获取响应数，并作为表示光信号的强度的强度信息输出。延迟设定部(60)设定延迟设定值，该延迟设定值用于调整从受光阵列部输出脉冲信号到响应获取部获取响应数为止的时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112154546A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201980034305.5
申请日：2019-05-24
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L31/10 , G01S17/14 , H01L31/107
Abstract: 本发明提供光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置。光检测器(100)具备：脉冲输出部(20)，以具有规定的脉冲宽度的矩形脉冲(A1)输出来自受光元件(10a)的输出；以及脉冲转换电路(22以及24)，将上述矩形脉冲(A1)转换为将上述矩形脉冲(A1)的上升沿和上述矩形脉冲(A1)的下降沿作为基准的、具有与上述规定的脉冲宽度不同的脉冲宽度的矩形脉冲(C1)。
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公开(公告)号：CN113424077B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202080013994.4
申请日：2020-02-12
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S17/10 , H01L31/10 , H01L31/107
Abstract: 本发明涉及光学测距装置。光学测距装置(100)具备：激光二极管(10)，朝向测定对象物反复投射脉冲状的输出光；受光元件(18)，包含通过接受光并以受光信号输出的光子计数型受光元件；测距部(16)，包含将受光信号中超过阈值的信号成分辨别为测定对象物中的反射输出光而产生的反射信号的信号辨别单元、和基于反射信号来推定到测定对象物的输出光的往复传播时间的传播推定单元；以及阈值设定部(32)，基于根据受光信号所包含的噪声的概率分布的平均值求出的基准电平与概率分布中的累积概率成为规定值的边界电平的关系，在信号辨别单元中辨别反射信号时将根据受光信号实际求出的基准电平所对应的边界电平设定为阈值。
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公开(公告)号：CN110187360B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN201910137567.6
申请日：2019-02-25
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01S17/931 , G01S17/48
Abstract: 本发明公开了用于光学地测量距离的方法和设备。在该设备中，光接收元件中的每一个基于来自测量空间的返回光的相应强度来输出强度信号。返回光包括基于目标对象对测量光的反射而反射的反射光。识别单元根据相应光接收元件的强度信号来识别光检测区域中的光接收区域。光接收区域基于多个光接收元件中的指定光接收元件。指定光接收元件被布置成接收反射光。距离测量单元根据由指定光接收元件接收的强度信号来测量目标对象的距离。
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公开(公告)号：CN112136028B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN201980033692.0
申请日：2019-05-16
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01J1/42 , H01L31/107
Abstract: 本发明涉及光检测器以及其控制方法。光检测器(100)具备：受光构件(14)，通过施加比击穿电压高的动作电压而以盖革模式进行动作，并根据光的入射来输出脉冲信号；电压设定部(20)，能够向受光构件选择性地施加动作电压以及比击穿电压低的检查电压中的任意一方；以及异常判定部(40)，进行异常判定处理，若从以检查电压进行动作的受光构件输出的脉冲信号的个数为预先决定的阈值以上则判断为异常，若小于阈值则判断为正常。
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公开(公告)号：CN112136028A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201980033692.0
申请日：2019-05-16
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01J1/42 , H01L31/107
Abstract: 本发明涉及光检测器以及其控制方法。光检测器(100)具备：受光构件(14)，通过施加比击穿电压高的动作电压而以盖革模式进行动作，并根据光的入射来输出脉冲信号；电压设定部(20)，能够向受光构件选择性地施加动作电压以及比击穿电压低的检查电压中的任意一方；以及异常判定部(40)，进行异常判定处理，若从以检查电压进行动作的受光构件输出的脉冲信号的个数为预先决定的阈值以上则判断为异常，若小于阈值则判断为正常。
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