显示设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104062798A

    公开(公告)日:2014-09-24

    申请号:CN201410072289.8

    申请日:2014-02-28

    CPC classification number: G02F1/133514 G02F2001/133521 G02F2001/136222

    Abstract: 根据一个实施例,显示设备包括被配置成用于透射在第一方向偏振的光的第一偏振层、被配置成用于透射在第二方向偏振的光的第二偏振层、设置在第一偏振层与第二偏振层之间的显示层、设置在第一偏振层与显示层之间的干涉滤光器、以及折射层。折射层包括第一层以及与第一层接触的第二层。第二偏振层布置在折射层与显示层之间。第二层设置在第一层与第二偏振层之间。第一层包括突起,突起沿第一方向延伸并且朝第二偏振层突出。

    平板X射线检测器
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1365448A

    公开(公告)日:2002-08-21

    申请号:CN01800711.2

    申请日:2001-03-27

    CPC classification number: G01T1/243 G01T1/2018 H01L27/14663

    Abstract: 公开了一种平板X射线检测器,包含将射入的X射线变换为电荷的X射线电荷变换薄膜(109)、与X射线电荷变换薄膜(109)相邻的并为每一像素设置的像素电极(504)、与像素电极(504)相连的开关部件(401)、与开关部件(401)相连的信号线以及给开关部件(401)提供驱动信号的扫描线,其中X射线电荷变换薄膜(109)包含磷光体粒子(110)、光敏材料(111)和载流子传输材料(112)。

    放射检测器和放射检测装置

    公开(公告)号:CN104459757A

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201410438440.5

    申请日:2014-08-29

    CPC classification number: H01L27/14663 H01L27/1463 H01L27/14636 H01L31/0224

    Abstract: 本申请公开了放射检测器和放射检测装置。根据实施例的放射检测器包括:半导体衬底;设置在半导体衬底第一表面侧的光检测单元;设置的覆盖光检测单元的第一绝缘膜;覆盖第一绝缘膜的第二绝缘膜;设置在第二绝缘膜上的闪烁体;设置在第一和第二绝缘膜之间的互连,连接到光检测单元;通过第一开口底部部分连接到互连的第一电极;设置在半导体衬底第二表面中的区域上的第二电极,该区域与光检测单元的至少部分相对;设置在围绕第一电极但不围绕第二电极的区域中的第二开口;以及覆盖第一和第二电极与第一和第二开口的绝缘树脂层。

    平板X射线检测器
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1196943C

    公开(公告)日:2005-04-13

    申请号:CN01800711.2

    申请日:2001-03-27

    CPC classification number: G01T1/243 G01T1/2018 H01L27/14663

    Abstract: 公开了一种平板X射线检测器,包含将射入的X射线变换为电荷的X射线电荷变换薄膜(109)、与X射线电荷变换薄膜(109)相邻的并为每一像素设置的像素电极(504)、与像素电极(504)相连的开关部件(401)、与开关部件(401)相连的信号线以及给开关部件(401)提供驱动信号的扫描线,其中X射线电荷变换薄膜(109)包含磷光体粒子(110)、光敏材料(111)和载流子传输材料(112)。

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