多层陶瓷电子元器件的制造方法

    公开(公告)号:CN1314059C

    公开(公告)日:2007-05-02

    申请号:CN02807481.5

    申请日:2002-10-22

    CPC classification number: H01G4/0085 H01C1/14 H01G4/30 Y10T29/435

    Abstract: 一种多层陶瓷电子元器件,具有交互地层叠有陶瓷层和内部电极的多层体、在该陶瓷层和内部电极之间的至少一种或以上的金属氧化物。多层陶瓷电子元器件的制造方法,具备交互地层叠陶瓷片和金属膜制作多层体的第1工序、以及继而烧成前述多层体的第2工序,其中金属膜是在片状的第1金属的表面上具有比第1金属更易于氧化的第2金属的金属膜,且其中第2工序是在几乎不使前述第1金属氧化,但使前述第2金属氧化的氧分压下进行的。

    多层陶瓷电子元器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN1500281A

    公开(公告)日:2004-05-26

    申请号:CN02807481.5

    申请日:2002-10-22

    CPC classification number: H01G4/0085 H01C1/14 H01G4/30 Y10T29/435

    Abstract: 一种多层陶瓷电子元器件,具有交互地层叠有陶瓷层和内部电极的多层体、在该陶瓷层和内部电极之间的至少一种或以上的金属氧化物。多层陶瓷电子元器件的制造方法,具备交互地层叠陶瓷片和金属膜制作多层体的第1工序、以及继而烧成前述多层体的第2工序,其中金属膜是在片状的第1金属的表面上具有比第1金属更易于氧化的第2金属的金属膜,且其中第2工序是在几乎不使前述第1金属氧化,但使前述第2金属氧化的氧分压下进行的。

    陶瓷电子元器件的制造方法

    公开(公告)号:CN1826673A

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:CN200480020695.4

    申请日:2004-07-13

    CPC classification number: H01G13/00 H01G4/12 Y10T29/417

    Abstract: 把主成分为金属的膏加在至少一个绝缘片上,形成至少一层导电层。烧结其上形成有所述至少一层导电层的至少一个绝缘片,得到至少一个烧结体。检测所述至少一个烧结体的至少一层导电层中所含金属的量。根据所测得的金属的量,从所述至少一个烧结体中选择烧结体。在所选出的烧结体上形成外电极,制得陶瓷电子元器件。金属量的检测也可以在绝缘片上形成主成分为金属的导电层之后进行。这种方法能够在制造过程的早期阶段检测缺陷,因此,能高效率制造陶瓷电子元器件。

    叠层陶瓷电子部件的制造方法

    公开(公告)号:CN1484839A

    公开(公告)日:2004-03-24

    申请号:CN02803462.7

    申请日:2002-10-22

    CPC classification number: H01G4/30

    Abstract: 本发明的叠层陶瓷电子元件的制造方法包含有:将陶瓷薄片与内电极通过粘合层相互叠合而形成叠层体的第一步骤;及焙烧叠层体的第二步骤。且上述粘合层含有热塑性树脂以及Cr、Mg、Al、Si、这些元素的化合物或构成陶瓷薄片的无机粉末中的至少一种或以上。根据制造方法,可提高焙烧的陶瓷层与内部电极的粘结性,并抑制诸如层间剥离或纹裂等结构缺陷的产生。

    叠层陶瓷电子部件的制造方法

    公开(公告)号:CN1317722C

    公开(公告)日:2007-05-23

    申请号:CN02803462.7

    申请日:2002-10-22

    CPC classification number: H01G4/30

    Abstract: 本发明的叠层陶瓷电子元件的制造方法包含有:将陶瓷薄片与内电极通过粘合层相互叠合而形成叠层体的第一步骤;及焙烧叠层体的第二步骤。且上述粘合层含有热塑性树脂以及Cr、Mg、Al、Si、这些元素的化合物或构成陶瓷薄片的无机粉末中的至少一种或以上。根据制造方法,可提高焙烧的陶瓷层与内部电极的粘结性,并抑制诸如层间剥离或纹裂等结构缺陷的产生。

Patent Agency Ranking