公开(公告)号：CN101900781A

公开(公告)日：2010-12-01

申请号：CN201010187016.X

申请日：2010-05-26

Applicant: 日新电机株式会社

Inventor： 保户田悦生 ,  冈田直喜 ,  大木秀人

IPC: G01R31/12

Abstract: 一种绝缘诊断装置以及绝缘诊断方法，在利用电磁波检测局部放电的情况下，在包括较多突发噪声、通信波的环境中也能够可靠地检测气体绝缘开关器等电气设备的劣化。本发明进行如下的处理：在所检测到的背景噪声值大于基准BGN值的情况下，判断为还存在较多噪声成分，通过依次增加L的值，再次以相同的过程重复进行从信号电平的最大值起去除L个数据的处理，能够检测到埋没于噪声中的局部放电信号。

公开(公告)号：CN101900781B

公开(公告)日：2014-09-24

申请号：CN201010187016.X

申请日：2010-05-26

Applicant: 日新电机株式会社

Inventor： 保户田悦生 ,  冈田直喜 ,  大木秀人

IPC: G01R31/12

Abstract: 一种绝缘诊断装置以及绝缘诊断方法，在利用电磁波检测局部放电的情况下，在包括较多突发噪声、通信波的环境中也能够可靠地检测气体绝缘开关器等电气设备的劣化。本发明进行如下的处理：在所检测到的背景噪声值大于基准BGN值的情况下，判断为还存在较多噪声成分，通过依次增加L的值，再次以相同的过程重复进行从信号电平的最大值起去除L个数据的处理，能够检测到埋没于噪声中的局部放电信号。

公开(公告)号：CN105891234A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610079699.4

申请日：2016-02-04

Applicant: 日新电机株式会社

Inventor： 冈田直喜 ,  大木秀人 ,  藤根正义 ,  宇都宫里佐

IPC: G01N22/00

CPC classification number: G01N22/00

Abstract: 本发明提供一种高分子材料的劣化诊断方法及高分子材料的劣化诊断装置，本发明的高分子材料的劣化诊断方法，进行用于电气设备的高分子材料的劣化诊断，对诊断对象的所述高分子材料照射1GHz～50GHz内的任意的频率的电波，由基于所照射的电波的来自所述高分子材料的出射波测定复介电常数，并根据所述介电常数的至少实数部的值进行所述高分子材料的劣化诊断。藉此，可容易且适当地进行诊断对象的高分子材料的劣化诊断。