基于微系统的电源完整性仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN118194802B

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202410297156.4

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明涉及电源完整性仿真技术领域,具体公开基于微系统的电源完整性仿真方法和系统,该方法包括:获取基于微系统的电源数据集,根据微系统的电源数据集得到基于微系统的电源模型特征值,获取基于微系统的电源模型特征比对偏差值,比对得到基于微系统的电源网络PDN阻抗仿真参数阈值,结合电源网络PDN阻抗仿真数据集得到电源网络PDN阻抗仿真评估值,比对得到电源网络完整性特征值,使工程师能够精确分析电源系统的性能,有助于避免潜在的电源问题,仿真数据可用于优化PDN设计,确保系统在各种负载和工作条件下都能提供稳定的电源,这有助于降低系统中电源噪声、电压下降等问题的发生。

    一种芯片焊盘跌落抗击优化方法

    公开(公告)号:CN118151884A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410278874.7

    申请日:2024-03-11

    Abstract: 本发明公开了一种芯片焊盘跌落抗击优化方法,涉及电路板跌落测试领域。该芯片焊盘跌落抗击优化方法,通过获取历史芯片焊盘测试数据,并进行预处理;对预处理之后的历史芯片焊盘测试数据进行分析,获得芯片焊盘的损害焊点位置数据;基于芯片焊盘损害焊点位置数据剔除芯片焊盘上的损害焊点,并基于随机算法对芯片焊盘上剩余焊点进行初次排列,获得多组焊点位置不同的初次排列芯片焊盘;读取多组焊点位置不同的初次排列芯片焊盘,本发明通过利用历史测试数据和随机算法,通过多次排列和计算,找到最优的焊点位置参数,提高了芯片焊盘的跌落抗击能力,有望减少损害焊点的发生,增强产品的可靠性和耐用性。

    一种数字系统电源分配网络阻抗的优化方法及系统

    公开(公告)号:CN118228681B

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202410223838.0

    申请日:2024-02-28

    Abstract: 本发明公开了一种数字系统电源分配网络阻抗的优化方法及系统,涉及电源分配网络技术领域。该数字系统电源分配网络阻抗的优化方法,基于数字系统电源的寄生参数匹配PDN去耦方案集;利用PDN去耦方案集对数字系统电源的贴装PCB和微系统基板进行去耦,确定PDN去耦效果最好的PDN去耦方案为基准PDN去耦方案;基于基准PDN去耦方案匹配得到优化方案集;利用匹配得到优化方案集对基准PDN去耦方案进行优化,获取最优PDN去耦方案。通过匹配得到的PDN去耦方案集和优化方案集,考虑了数字系统电源的寄生参数、贴装PCB和微系统基板的去耦需求,解决了微系统内部空间有限与去耦电容需求量大的矛盾。

    一种数字系统电源分配网络阻抗的优化方法及系统

    公开(公告)号:CN118228681A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410223838.0

    申请日:2024-02-28

    Abstract: 本发明公开了一种数字系统电源分配网络阻抗的优化方法及系统,涉及电源分配网络技术领域。该数字系统电源分配网络阻抗的优化方法,基于数字系统电源的寄生参数匹配PDN去耦方案集;利用PDN去耦方案集对数字系统电源的贴装PCB和微系统基板进行去耦,确定PDN去耦效果最好的PDN去耦方案为基准PDN去耦方案;基于基准PDN去耦方案匹配得到优化方案集;利用匹配得到优化方案集对基准PDN去耦方案进行优化,获取最优PDN去耦方案。通过匹配得到的PDN去耦方案集和优化方案集,考虑了数字系统电源的寄生参数、贴装PCB和微系统基板的去耦需求,解决了微系统内部空间有限与去耦电容需求量大的矛盾。

    基于微系统的电源完整性仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN118194802A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410297156.4

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明涉及电源完整性仿真技术领域,具体公开基于微系统的电源完整性仿真方法和系统,该方法包括:获取基于微系统的电源数据集,根据微系统的电源数据集得到基于微系统的电源模型特征值,获取基于微系统的电源模型特征比对偏差值,比对得到基于微系统的电源网络PDN阻抗仿真参数阈值,结合电源网络PDN阻抗仿真数据集得到电源网络PDN阻抗仿真评估值,比对得到电源网络完整性特征值,使工程师能够精确分析电源系统的性能,有助于避免潜在的电源问题,仿真数据可用于优化PDN设计,确保系统在各种负载和工作条件下都能提供稳定的电源,这有助于降低系统中电源噪声、电压下降等问题的发生。

    一种芯片焊盘跌落抗击优化方法

    公开(公告)号:CN118151884B

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410278874.7

    申请日:2024-03-11

    Abstract: 本发明公开了一种芯片焊盘跌落抗击优化方法,涉及电路板跌落测试领域。该芯片焊盘跌落抗击优化方法,通过获取历史芯片焊盘测试数据,并进行预处理;对预处理之后的历史芯片焊盘测试数据进行分析,获得芯片焊盘的损害焊点位置数据;基于芯片焊盘损害焊点位置数据剔除芯片焊盘上的损害焊点,并基于随机算法对芯片焊盘上剩余焊点进行初次排列,获得多组焊点位置不同的初次排列芯片焊盘;读取多组焊点位置不同的初次排列芯片焊盘,本发明通过利用历史测试数据和随机算法,通过多次排列和计算,找到最优的焊点位置参数,提高了芯片焊盘的跌落抗击能力,有望减少损害焊点的发生,增强产品的可靠性和耐用性。

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