公开(公告)号：CN118505675A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410860580.5

申请日：2024-06-28

Applicant: 季华实验室 ,  佛山众陶联供应链服务有限公司

Inventor： 许高 ,  毕海 ,  章锐 ,  聂贤勇

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82

Abstract: 本发明提供了一种表面缺陷检测方法及其系统，所述表面缺陷检测方法包括建立学习模型；获取对照物体分别在多个不同相机类型下的对照图像信息以及所述对照图像信息对应的缺陷类型；将所述对照图像信息导入所述学习模型，通过所述学习模型计算所述缺陷类型对应的相机参数比；获取待测图像信息；根据所述缺陷类型与所述相机参数比计算并输出所述待测图像信息的缺陷图像信息。本发明技术方案通过所述学习模型对不同所述对照图像信息的缺陷进行分类，并根据不同的所述缺陷类型计算对应的所述相机参数比。从而能够结合多种相机进行所述待测图像信息的采集，并根据不同的所述缺陷类型对所述待测图像信息进行分析检测，以提高检测精度，应用于各个检测环境。

公开(公告)号：CN118781113B

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411261497.2

申请日：2024-09-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 许高 ,  章锐 ,  毕海 ,  刘祥 ,  闫晓庆

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06T7/73 ,  G06V10/58 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V20/10

Abstract: 本申请公开了一种表面缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：获取待检测的高光谱图像，对高光谱图像进行子图划分，得到多个初始子图；确定各初始子图的平均光谱，将初始子图的平均光谱输入目标子图分类器中，判断初始子图是否存在缺陷；在初始子图存在缺陷的情况下，确定初始子图的最优特征波段，得到目标子图；将目标子图输入目标缺陷检测器中，得到高光谱图像的缺陷检测结果。本申请实现了提高工业产品表面缺陷检测效率的技术效果。

公开(公告)号：CN118781113A

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202411261497.2

申请日：2024-09-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 许高 ,  章锐 ,  毕海 ,  刘祥 ,  闫晓庆

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06T7/73 ,  G06V10/58 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V20/10

Abstract: 本申请公开了一种表面缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：获取待检测的高光谱图像，对高光谱图像进行子图划分，得到多个初始子图；确定各初始子图的平均光谱，将初始子图的平均光谱输入目标子图分类器中，判断初始子图是否存在缺陷；在初始子图存在缺陷的情况下，确定初始子图的最优特征波段，得到目标子图；将目标子图输入目标缺陷检测器中，得到高光谱图像的缺陷检测结果。本申请实现了提高工业产品表面缺陷检测效率的技术效果。