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公开(公告)号:CN101050119A
公开(公告)日:2007-10-10
申请号:CN200710072252.5
申请日:2007-05-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C04B35/624 , C04B35/472 , C04B35/48 , H01B3/12
Abstract: 一种高度(111)取向的锆钛酸铅薄膜的制备方法,是为了解决采用溶胶-凝胶法制备锆钛酸铅薄膜过程中存在制备方法复杂,可重复操作性差的问题。本发明中的一种高度(111)取向的锆钛酸铅薄膜的制备方法主要由PZT溶胶的制备、PZT薄膜的沉积、PZT薄膜的预晶化和PZT薄膜的晶化这四个步骤完成。本发明制备工艺简单,制备出的锆钛酸铅薄膜(PZT)为高度(111)取向,薄膜表面平整致密、厚度均匀、晶粒大小均匀,本发明制备出的高度(111)取向的锆钛酸铅铁电薄膜具有高的剩余极化值,剩余极化值为43~60μC/cm2,薄膜具有较小的矫顽场,矫顽场仅为60~75kV/cm;采用本发明制备出的锆钛酸铅反铁电薄膜的饱和极化值高。
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公开(公告)号:CN100432018C
公开(公告)日:2008-11-12
申请号:CN200710072252.5
申请日:2007-05-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: C04B35/624 , C04B35/472 , C04B35/48 , H01B3/12
Abstract: 一种高度(111)取向的锆钛酸铅薄膜的制备方法,是为了解决采用溶胶-凝胶法制备锆钛酸铅薄膜过程中存在制备方法复杂,可重复操作性差的问题。本发明中的一种高度(111)取向的锆钛酸铅薄膜的制备方法主要由PZT溶胶的制备、PZT薄膜的沉积、PZT薄膜的预晶化和PZT薄膜的晶化这四个步骤完成。本发明制备工艺简单,制备出的锆钛酸铅薄膜(PZT)为高度(111)取向,薄膜表面平整致密、厚度均匀、晶粒大小均匀,本发明制备出的高度(111)取向的锆钛酸铅铁电薄膜具有高的剩余极化值,剩余极化值为43~60μC/cm2,薄膜具有较小的矫顽场,矫顽场仅为60~75kV/cm;采用本发明制备出的锆钛酸铅反铁电薄膜的饱和极化值高。
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