公开(公告)号：CN108982061A

公开(公告)日：2018-12-11

申请号：CN201810603452.7

申请日：2018-06-12

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 汪洪源 ,  刘祥 ,  康文 ,  颜志强 ,  王秉文 ,  郭雨桐 ,  武少冲

IPC: G01M11/00

Abstract: 自动化点源透过率杂散光测试系统及方法，涉及杂散光测试技术领域，为了解决采用手动操作测试系统测量点源透过率，测量精度低、效率低的问题。脉冲激光器出射的激光经光束整形器整形后入射至平行光管，激光经平行光管准直后入射至旋转台上的待测光学系统；第一探测系统位于待测光学系统的入瞳处，且固定在平移机构上；第二探测系统位于待测光学系统的焦面处，且位于旋转台上；第一探测系统和第二探测系统均用于测量辐照度，信号采集系统采集测量结果并将测量结果发送给计算机；计算机用于接收测量结果并计算点源透过率，还用于控制平移机构、旋转台和信号采集系统实现点源透过率的自动化测量。本发明适用于测试点源透过率。

公开(公告)号：CN108982061B

公开(公告)日：2020-05-12

申请号：CN201810603452.7

申请日：2018-06-12

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 汪洪源 ,  刘祥 ,  康文 ,  颜志强 ,  王秉文 ,  郭雨桐 ,  武少冲

IPC: G01M11/00

Abstract: 自动化点源透过率杂散光测试系统及方法，涉及杂散光测试技术领域，为了解决采用手动操作测试系统测量点源透过率，测量精度低、效率低的问题。脉冲激光器出射的激光经光束整形器整形后入射至平行光管，激光经平行光管准直后入射至旋转台上的待测光学系统；第一探测系统位于待测光学系统的入瞳处，且固定在平移机构上；第二探测系统位于待测光学系统的焦面处，且位于旋转台上；第一探测系统和第二探测系统均用于测量辐照度，信号采集系统采集测量结果并将测量结果发送给计算机；计算机用于接收测量结果并计算点源透过率，还用于控制平移机构、旋转台和信号采集系统实现点源透过率的自动化测量。本发明适用于测试点源透过率。