大长径比非球面光学元件凹面加工的装夹装置及装夹方法

    公开(公告)号:CN107817568B

    公开(公告)日:2020-05-26

    申请号:CN201711106573.2

    申请日:2017-11-10

    Abstract: 大长径比非球面光学元件凹面加工的装夹装置及装夹方法,它涉及机加工装夹装置技术领域。本发明为解决现有大长径比非球面光学元件凹面加工时的精密安全装夹及常规加工后难拆卸的问题。装夹装置包括夹具底座、多个定位基体和多个粘结基体,多个定位基体和多个粘结基体沿圆周方向交替设置在夹具底座的上端面,定位基体和粘结基体的内侧壁均为曲面,定位基体的内侧壁所构成的曲线方程与大长径比非球面光学元件外表面的曲线方程相同,粘结基体内侧壁曲面的水平径向尺寸大于相同高度处定位基体内侧壁曲面的水平径向尺寸。装夹方法:涂抹低应力紫外固化胶;辐照成型;拆卸装夹装置。本发明用于大长径比非球面光学元件凹面加工。

    一种基于双圆弧拟合误差补偿的球头砂轮精密修整方法

    公开(公告)号:CN106514494B

    公开(公告)日:2018-09-07

    申请号:CN201610994908.8

    申请日:2016-11-11

    Abstract: 一种基于双圆弧拟合误差补偿的球头砂轮精密修整方法,本发明涉及球头砂轮精密修整方法。本发明是要解决球头砂轮修整成本高,且难以获得较高的面型精度和尺寸精度的问题而提出的一种基于双圆弧拟合误差补偿的球头砂轮精密修整方法。该方法基于碟片形电镀金刚石修整轮磨损量低的特点,设定修整轨迹实现球头砂轮的在位修整,通过对初步修整后球头砂轮面形轮廓的检测及双圆弧拟合得到面形误差方向及大小,最后在精密修整阶段对误差进行补偿,从而修整出表面为标准球面且目标半径为r的球头砂轮,本发明应用于球头砂轮精密修整领域。

    一种用于保形光学整流罩内表面精密加工的装夹装置

    公开(公告)号:CN105643303B

    公开(公告)日:2018-02-02

    申请号:CN201610224898.X

    申请日:2016-04-12

    Abstract: 一种用于保形光学整流罩内表面精密加工的装夹装置,它涉及一种机械加工装夹装置,以解决现有的保形光学整流罩内表面精密加工的装夹装置的接合面为局部接触甚至点接触,这会产生不可预知的总变形量,而且难以实现整流罩的完全固定,导致加工精度难以保证的问题。本发明基体的上端设有法兰,基体的下端设有底座,基体内腔为曲面内腔,曲面内腔的横截面为由上至下逐渐减小的变截面,曲面内腔的内壁上设置有数个环形定位凸台,环形定位凸台的曲面弧度与整流罩外表面的曲面弧度一致,相邻的两个环形定位凸台之间为横向沟槽,数个环形定位凸台上设有纵向沟槽,基体的底部中心处设有与曲面内腔相通的通孔。本发明用于保形光学整流罩内表面精密加工。

    一种用于超精密加工的半球形光整砂轮

    公开(公告)号:CN106863062B

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201710100741.0

    申请日:2017-02-23

    Abstract: 一种用于超精密加工的半球形光整砂轮,本发明涉及半球形光整砂轮。本发明是要解决实际生产中都存在着光整工艺不可避免的抛光加工效率低,研磨无法实现自由曲面光整的缺陷,系统复杂而昂贵,工件光整后的表面粗糙度很难达到超精密精度难以广泛应用于非球面光学元件的超高精密加工的问题。该砂轮由磨料层、砂轮基体和砂轮支撑件组成,砂轮基体由半球体、固定板和定位孔组成;砂轮支撑件由定位凸台、支撑板和砂轮杆组成。本发明应用于半球形光整砂轮领域。

    基于绿碳化硅碟片的金刚石球头砂轮精密在位修整装置及方法

    公开(公告)号:CN106002635A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610318045.2

    申请日:2016-05-13

    Abstract: 基于绿碳化硅碟片的金刚石球头砂轮精密在位修整装置及方法,本发明涉及金刚石球头砂轮的在位精密修整装置及方法。本发明的目的是为了解决现有金刚石球头砂轮磨削加工后工件的加工精度低、成本高、不易于实现、通用性弱的问题。基于绿碳化硅碟片的金刚石球头砂轮精密在位修整装置由绿碳化硅碟片、修整主轴和磨削主轴组成;所述绿碳化硅碟片安装在修整主轴上,绿碳化硅碟片和修整主轴同轴心设置,修整主轴的轴线与磨削主轴的旋转轴线相互垂直。本发明用于精密机械加工领域。

    大长径比非球面光学元件凹面加工的装夹装置及装夹方法

    公开(公告)号:CN107817568A

    公开(公告)日:2018-03-20

    申请号:CN201711106573.2

    申请日:2017-11-10

    Abstract: 大长径比非球面光学元件凹面加工的装夹装置及装夹方法,它涉及机加工装夹装置技术领域。本发明为解决现有大长径比非球面光学元件凹面加工时的精密安全装夹及常规加工后难拆卸的问题。装夹装置包括夹具底座、多个定位基体和多个粘结基体,多个定位基体和多个粘结基体沿圆周方向交替设置在夹具底座的上端面,定位基体和粘结基体的内侧壁均为曲面,定位基体的内侧壁所构成的曲线方程与大长径比非球面光学元件外表面的曲线方程相同,粘结基体内侧壁曲面的水平径向尺寸大于相同高度处定位基体内侧壁曲面的水平径向尺寸。装夹方法:涂抹低应力紫外固化胶;辐照成型;拆卸装夹装置。本发明用于大长径比非球面光学元件凹面加工。

    一种基于双圆弧拟合误差补偿的球头砂轮精密修整方法

    公开(公告)号:CN106514494A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610994908.8

    申请日:2016-11-11

    Abstract: 一种基于双圆弧拟合误差补偿的球头砂轮精密修整方法,本发明涉及球头砂轮精密修整方法。本发明是要解决球头砂轮修整成本高,且难以获得较高的面型精度和尺寸精度的问题而提出的一种基于双圆弧拟合误差补偿的球头砂轮精密修整方法。该方法基于碟片形电镀金刚石修整轮磨损量低的特点,设定修整轨迹实现球头砂轮的在位修整,通过对初步修整后球头砂轮面形轮廓的检测及双圆弧拟合得到面形误差方向及大小,最后在精密修整阶段对误差进行补偿,从而修整出表面为标准球面且目标半径为r的球头砂轮,本发明应用于球头砂轮精密修整领域。

    一种用于高陡度保形头罩表面加工的装夹装置及装夹方法

    公开(公告)号:CN106926006A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710277368.6

    申请日:2017-04-25

    CPC classification number: B23Q3/00 B23Q2703/10

    Abstract: 一种用于高陡度保形头罩表面加工的装夹装置及装夹方法,它涉及机加工装夹装置技术领域。本发明为解决现有高陡度保形头罩外表面加工时的精密安全装夹及常规加工后难拆卸的问题。装夹装置包括夹具底座、定位组件和固定机构,定位组件固接在夹具底座的上端面,定位组件的外侧壁上沿轴向方向均布设有多个曲面凸台,每个曲面凸台均沿外圆周方向设置,曲面凸台的外表面所构成的曲线方程与头罩内表面的曲线方程相同,定位组件包括多个夹具基体,多个夹具基体沿圆周方向均布组成一个圆锥形的定位组件,多个夹具基体通过固定机构固接。装夹方法:涂抹低应力胶;粘结成型;拆卸装夹装置;头罩脱离。本发明用于头罩表面加工。

    一种用于超精密加工的半球形光整砂轮

    公开(公告)号:CN106863062A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201710100741.0

    申请日:2017-02-23

    Abstract: 一种用于超精密加工的半球形光整砂轮,本发明涉及半球形光整砂轮。本发明是要解决实际生产中都存在着光整工艺不可避免的抛光加工效率低,研磨无法实现自由曲面光整的缺陷,系统复杂而昂贵,工件光整后的表面粗糙度很难达到超精密精度难以广泛应用于非球面光学元件的超高精密加工的问题。该砂轮由磨料层、砂轮基体和砂轮支撑件组成,砂轮基体由半球体、固定板和定位孔组成;砂轮支撑件由定位凸台、支撑板和砂轮杆组成。本发明应用于半球形光整砂轮领域。

    一种用于保形光学整流罩内表面精密加工的装夹装置

    公开(公告)号:CN105643303A

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201610224898.X

    申请日:2016-04-12

    CPC classification number: B23Q3/00 B23Q2703/10

    Abstract: 一种用于保形光学整流罩内表面精密加工的装夹装置,它涉及一种机械加工装夹装置,以解决现有的保形光学整流罩内表面精密加工的装夹装置的接合面为局部接触甚至点接触,这会产生不可预知的总变形量,而且难以实现整流罩的完全固定,导致加工精度难以保证的问题。本发明基体的上端设有法兰,基体的下端设有底座,基体内腔为曲面内腔,曲面内腔的横截面为由上至下逐渐减小的变截面,曲面内腔的内壁上设置有数个环形定位凸台,环形定位凸台的曲面弧度与整流罩外表面的曲面弧度一致,相邻的两个环形定位凸台之间为横向沟槽,数个环形定位凸台上设有纵向沟槽,基体的底部中心处设有与曲面内腔相通的通孔。本发明用于保形光学整流罩内表面精密加工。

Patent Agency Ranking