一种连续太赫兹目标散射测量控制系统

    公开(公告)号:CN105676214B

    公开(公告)日:2017-12-15

    申请号:CN201610104496.6

    申请日:2016-02-25

    Abstract: 一种连续太赫兹目标散射测量控制系统,属于太赫兹探测技术领域。为了解决现的测量系统在测量过程中需要手动不断地调整位移台来对信号进行采集,存在浪费时间、操作失误率较高的问题。所述控制系统包括位移台控制模块、采样控制模块和数据存储模块,位移台控制模块包括手动调节子模块和自动测量子模块;手动调节子模块,用于用户通过手动调节利用位移台来控制待测物和校准物的位置;自动测量子模块,用于输入自动测量时需要位移参数和开启自动测量;采样控制模块,用于采集待测物、校准物在太赫兹频段下照射的散射回波信号,以及用于设置采集参数。实现在研究太赫兹目标散射特性时分别准确测量校准物和不同角度的待测物的散射回波信号峰峰值。

    一种连续太赫兹目标散射测量控制系统

    公开(公告)号:CN105676214A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201610104496.6

    申请日:2016-02-25

    CPC classification number: G01S13/02 G01S7/02

    Abstract: 一种连续太赫兹目标散射测量控制系统,属于太赫兹探测技术领域。为了解决现的测量系统在测量过程中需要手动不断地调整位移台来对信号进行采集,存在浪费时间、操作失误率较高的问题。所述控制系统包括位移台控制模块、采样控制模块和数据存储模块,位移台控制模块包括手动调节子模块和自动测量子模块;手动调节子模块,用于用户通过手动调节利用位移台来控制待测物和校准物的位置;自动测量子模块,用于输入自动测量时需要位移参数和开启自动测量;采样控制模块,用于采集待测物、校准物在太赫兹频段下照射的散射回波信号,以及用于设置采集参数。实现在研究太赫兹目标散射特性时分别准确测量校准物和不同角度的待测物的散射回波信号峰峰值。

Patent Agency Ranking