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公开(公告)号：CN113838024A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202111106032.6
申请日：2021-09-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及显示OLED面板缺陷预测技术领域，目的在于公开一种OLED面板微缺陷预测方法，所述预测方法包括以下步骤：(1)通过双三次插值的方法来放大未知缺陷信息；(2)通过mosaic方法来扩展数据集，以提高模型对少样本的预测能力；(3)通过残差网络、池化层和上采样层构造低分辨率图像生成器，由残差网络和全连接层构成判别器；(4)由若干从残差模块进行跳跃的连接构成高分辨率图像生成器，由最大池化层和残差网络构造高分辨率图像判别器。本发明通过放大未知缺陷信息、扩展测试数据集，可以在检测之前有效地对样本所含缺陷种类进行预测，以进行有目的性的进行缺陷识别，提升效率。
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公开(公告)号：CN119516293A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411664241.6
申请日：2024-11-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06V10/77 , G01N21/25 , G06V10/82 , G06F17/16 , G06F17/18 , G06V10/764 , G06T5/50 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种基于光谱扩散的环境异常检测方法，所述方法针对高光谱图像目标检测领域，提出了一种基于主成分分析和线性光谱混合模型的异常谱生成方法，解决了存在和不存在异常的配对标记数据不足的问题，以保证学习到的特征的有效性，同时提高了传统异常目标生成方法的真实感；针对高光谱数据设计了双窗口光谱扩散模型，将每个像元的扩散过程视为目标与周围背景的光谱混合，提高了重建过程中空间‑光谱维数估计的精度，使背景估计具有较高的空间和光谱精度；引入双窗口光谱扩散背景重建方法，通过在排除目标的双窗口内对光谱进行迭代积累，减少了异常扩展面积对背景估计的影响，有效抑制目标光谱。
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公开(公告)号：CN117761713B
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202311795749.5
申请日：2023-12-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种目标探测谱段的筛选方法、装置、设备和存储介质，其涉及目标检测技术领域。包括：获取目标的背景起伏尺度，对背景起伏尺度进行杂波量化并建立杂波定量化表征模型；通过杂波定量化表征模型计算目标相对于不同背景的信杂比投影图，选取包括峰值信杂比谱段作为初选探测谱段；将杂波定量化表征模型与天基探测链路进行结合得到目标可检测性表征模型；通过目标可检测性表征模型在初选探测谱段中筛选得到优选探测谱段。本发明考虑了天基探测链路及其各环节多尺度耦合效应，能够解决天基目标可检测性能的多尺度耦合匹配所存在的问题,在保证谱段优选性能的前提下，极大地提升了优选探测谱段选择的效率。
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公开(公告)号：CN117761713A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311795749.5
申请日：2023-12-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种目标探测谱段的筛选方法、装置、设备和存储介质，其涉及目标检测技术领域。包括：获取目标的背景起伏尺度，对背景起伏尺度进行杂波量化并建立杂波定量化表征模型；通过杂波定量化表征模型计算目标相对于不同背景的信杂比投影图，选取包括峰值信杂比谱段作为初选探测谱段；将杂波定量化表征模型与天基探测链路进行结合得到目标可检测性表征模型；通过目标可检测性表征模型在初选探测谱段中筛选得到优选探测谱段。本发明考虑了天基探测链路及其各环节多尺度耦合效应，能够解决天基目标可检测性能的多尺度耦合匹配所存在的问题,在保证谱段优选性能的前提下，极大地提升了优选探测谱段选择的效率。
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