公开(公告)号：CN111398777A

公开(公告)日：2020-07-10

申请号：CN202010163778.X

申请日：2020-03-10

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  俞洋 ,  李萌婕 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/316

Abstract: 基于合成偏差的模拟电路测试激励优化方法，涉及模拟电路故障检测领域。本发明是为了解决脉冲激励对于特征微弱的潜在故障不能有效激励的问题。本发明采集被测电路中所有元件的敏感频率，并将所有元件的敏感频率构成被测电路的敏感频率集，采用贪婪算法对敏感频率集进行去冗余处理，获得优化后的测试激励。能够更好激发元器件特征微弱的潜在故障特征，在减少测试激励集规模的同时提高了模拟电路潜在故障的检测率。

公开(公告)号：CN111398777B

公开(公告)日：2022-03-15

申请号：CN202010163778.X

申请日：2020-03-10

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  俞洋 ,  李萌婕 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/316

Abstract: 基于合成偏差的模拟电路测试激励优化方法，涉及模拟电路故障检测领域。本发明是为了解决脉冲激励对于特征微弱的潜在故障不能有效激励的问题。本发明采集被测电路中所有元件的敏感频率，并将所有元件的敏感频率构成被测电路的敏感频率集，采用贪婪算法对敏感频率集进行去冗余处理，获得优化后的测试激励。能够更好激发元器件特征微弱的潜在故障特征，在减少测试激励集规模的同时提高了模拟电路潜在故障的检测率。