一种基于超声TOFD的近表面缺陷识别方法

    公开(公告)号:CN101839895A

    公开(公告)日:2010-09-22

    申请号:CN200910311663.4

    申请日:2009-12-17

    Abstract: 一种基于超声TOFD的近表面缺陷识别方法,涉及超声波无损检测领域,本发明为解决现有超声TOFD检测技术存在对表面及近表面缺陷不敏感的问题,以及现有硬件技术需要附加检测设备,软件技术数据处理过程复杂、耗时长、存在对侧向波抑制不完全及损伤近表面缺陷信号的问题。其过程为:根据被检测体的厚度和探头的角度,选择探头间距,使发射探头激发的纵波主轴声束在被检测体中沿W形声路传播后被另一探头接收。利用选定的探头间距,对被检测体进行A扫描,根据获得的A扫描信号,对被检测体进行D扫描和B扫描,分别获得D扫描图像和B扫描图像,实现缺陷识别并获得缺陷的长度及埋藏深度信息,本发明广泛应用于超声波无损检测领域。

    一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法

    公开(公告)号:CN101806777A

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN201010115420.6

    申请日:2010-03-01

    Abstract: 一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法,涉及超声波检测领域,解决现有采用B扫描实现缺陷定位的方法中,所述B扫描的过程受焊缝的高度和宽度的影响比较大,测量对象受限制的问题,本发明的具体方法为:测定检测系统的时间延迟;在被检测体上标定三维检测坐标系,然后布置两探头位置,并对焊缝进行A扫描,然后根据获取的A扫描信号确定缺陷波在被检测体中传播的距离以及两个超声波探头的声入射点位置获得一个半椭圆方程;移动其中一个超声波探头至新测点处,重复上述操作获得另一个半椭圆方程;联立两半椭圆方程,获得两个半椭圆的交点坐标,根据所述交点坐标获得缺陷端部的横向及埋藏深度位置。本发明适用于超声波检测领域。

    一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法

    公开(公告)号:CN101806777B

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201010115420.6

    申请日:2010-03-01

    Abstract: 一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法,涉及超声波检测领域,解决现有采用B扫描实现缺陷定位的方法中,所述B扫描的过程受焊缝的高度和宽度的影响比较大,测量对象受限制的问题,本发明的具体方法为:测定检测系统的时间延迟;在被检测体上标定三维检测坐标系,然后布置两探头位置,并对焊缝进行A扫描,然后根据获取的A扫描信号确定缺陷波在被检测体中传播的距离以及两个超声波探头的声入射点位置获得一个半椭圆方程;移动其中一个超声波探头至新测点处,重复上述操作获得另一个半椭圆方程;联立两半椭圆方程,获得两个半椭圆的交点坐标,根据所述交点坐标获得缺陷端部的横向及埋藏深度位置。本发明适用于超声波检测领域。

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