公开(公告)号：CN103983910B

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201410244665.7

申请日：2014-06-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 付强 ,  周宇峰 ,  马震 ,  刘晓为 ,  王蔚 ,  张宇峰 ,  王喜莲

IPC: G01R31/26

Abstract: 高频CV特性测试仪，属于半导体器件特性测量领域，本发明为解决目前市面上C-V特性测试仪低分辨率、低线性度的问题。本发明包括电源模块、人机交互模块、USB通讯模块、单片机控制模块、高频信号产生模块、平方率检波模块和电容检测放大模块；待测电容Cx两端信号被电容检测放大模块放大处理后，输出含有正弦波的信号，待测电容Cx的电容值的大小耦合到信号的幅值之中，正弦波的幅值代表了待测电容Cx的电容值的大小，电容检测放大模块输出的信号送至平方率检波模块中，平方率检波模块留下直流分量，并转换为数字信号作为待测电容Cx的电容值的取值结果送到单片机控制模块中，该值可在人机交互模块上显示，也可以通过USB通讯模块上传至电脑中。

公开(公告)号：CN103983910A

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201410244665.7

申请日：2014-06-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 付强 ,  周宇峰 ,  马震 ,  刘晓为 ,  王蔚 ,  张宇峰 ,  王喜莲

IPC: G01R31/26

Abstract: 高频CV特性测试仪，属于半导体器件特性测量领域，本发明为解决目前市面上C-V特性测试仪低分辨率、低线性度的问题。本发明包括电源模块、人机交互模块、USB通讯模块、单片机控制模块、高频信号产生模块、平方率检波模块和电容检测放大模块；待测电容Cx两端信号被电容检测放大模块放大处理后，输出含有正弦波的信号，待测电容Cx的电容值的大小耦合到信号的幅值之中，正弦波的幅值代表了待测电容Cx的电容值的大小，电容检测放大模块输出的信号送至平方率检波模块中，平方率检波模块留下直流分量，并转换为数字信号作为待测电容Cx的电容值的取值结果送到单片机控制模块中，该值可在人机交互模块上显示，也可以通过USB通讯模块上传至电脑中。