公开(公告)号：CN113391188B

公开(公告)日：2022-04-22

申请号：CN202110436697.7

申请日：2021-04-22

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭东辉 ,  刁基东 ,  肖文润

IPC: G01R31/28 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明给出了一种基于神经网络的自校准系统及方法，通过设置自检单元、可调元件阵列和计算单元，自检单元测量与待校准电路关联的低频测量值M，可调元件阵列将计算单元的控制字输入待校准电路，计算单元基于自检单元和可调元件阵列进行校准。本发明能够通过训练神经网络来预测待校准电路的电性能参数，计算期望的电性能参数下所对应的计算单元的控制字，通过控制字控制接入到可调元件阵列的可调元件值，使得待校准电路校准至期望的电性能参数范围内从而有效降低模拟、射频等电路的测试成本和复杂度，提高校准效率。

公开(公告)号：CN113391188A

公开(公告)日：2021-09-14

申请号：CN202110436697.7

申请日：2021-04-22

Applicant: 厦门大学

Inventor： 郭东辉 ,  刁基东 ,  肖文润

IPC: G01R31/28 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明给出了一种基于神经网络的自校准系统及方法，通过设置自检单元、可调元件阵列和计算单元，自检单元测量与待校准电路关联的低频测量值M，可调元件阵列将计算单元的控制字输入待校准电路，计算单元基于自检单元和可调元件阵列进行校准。本发明能够通过训练神经网络来预测待校准电路的电性能参数，计算期望的电性能参数下所对应的计算单元的控制字，通过控制字控制接入到可调元件阵列的可调元件值，使得待校准电路校准至期望的电性能参数范围内从而有效降低模拟、射频等电路的测试成本和复杂度，提高校准效率。