一种基于光腔吸收的衍射杂光抑制比测试系统及方法

    公开(公告)号:CN114235346A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111357278.0

    申请日:2021-11-16

    Abstract: 一种基于光腔吸收的衍射杂光抑制比测试系统及方法,属于航天光学技术领域。本发明系统由太阳模拟器、普通照度计、微光照度计、信号采集处理系统、光陷阱、吸光罩以及待测前挡光板组件系统组成。该系统基于光腔吸收的杂散光测试方法,采用高洁净度环境杂散光测试平台,放置光陷阱内部覆盖超黑材料用于吸收穿过前挡光板顶部直接入射的光,整个系统采用多级挡光板串联方式,具备衍射光杂光抑制能力,在非真空环境中抑制比优于10‑9~10‑11。本发明可以为天基空间太阳探测杂散光抑制提供一种新的手段。

    一种基于光腔吸收的衍射杂光抑制比测试系统及方法

    公开(公告)号:CN114235346B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202111357278.0

    申请日:2021-11-16

    Abstract: 一种基于光腔吸收的衍射杂光抑制比测试系统及方法,属于航天光学技术领域。本发明系统由太阳模拟器、普通照度计、微光照度计、信号采集处理系统、光陷阱、吸光罩以及待测前挡光板组件系统组成。该系统基于光腔吸收的杂散光测试方法,采用高洁净度环境杂散光测试平台,放置光陷阱内部覆盖超黑材料用于吸收穿过前挡光板顶部直接入射的光,整个系统采用多级挡光板串联方式,具备衍射光杂光抑制能力,在非真空环境中抑制比优于10‑9~10‑11。本发明可以为天基空间太阳探测杂散光抑制提供一种新的手段。

Patent Agency Ranking