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公开(公告)号：CN114419169B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202210086754.8
申请日：2022-01-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种多波段相机高精度超宽动态成像的优化方法和系统，涉及多波段检测领域，包括标定阶段和测量阶段；在标定阶段形成标定合成图像后，消除光路传输模块的第一层次系统误差，得到修正后的光路传输模块；消除光路传输模块的第二层次系统误差，得到需要被消除的残余色差畸变参数；在测量阶段，待测物辐射光经过修正后的光路传输模块，形成最终合成光路；多波段相机接收最终合成光路，反代入残余色差畸变参数，形成最终合成图像。本申请在标定阶段对光路传输模块中的各光学元件进行调整并消除系统误差，优化光路传输路径，如此，在对待测物进行测量时，可以提高多波段信息的接收准确性，从而能够提高成像质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113340732A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110598649.8
申请日：2021-05-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于图像自动分区的非均质材料多参数反演方法及装置，方法包括：制作散斑试件，将散斑试件固定在试验机上，采集原始散斑图像，通过试验机向散斑试件施加第一载荷，采集M幅第一散斑图像；计算位移场，排除刚体平动和刚体转动，得到M幅校正后的第二散斑图像；在原始散斑图像上选取待测范围；根据位移场计算应变梯度，自动将待测范围划分为第一区域至第N区域，分别计算第一区域至第N区域的弹塑性本构参数。通过计算应变梯度自动将待测范围划分为多个区域，能够在一次加载实验中自动完成待测范围的区域划分，无需在加载试验前通过硬度测试等方法进行人工分区，简化非均质材料弹塑性本构参数测量的过程。
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公开(公告)号：CN113340732B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202110598649.8
申请日：2021-05-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于图像自动分区的非均质材料多参数反演方法及装置，方法包括：制作散斑试件，将散斑试件固定在试验机上，采集原始散斑图像，通过试验机向散斑试件施加第一载荷，采集M幅第一散斑图像；计算位移场，排除刚体平动和刚体转动，得到M幅校正后的第二散斑图像；在原始散斑图像上选取待测范围；根据位移场计算应变梯度，自动将待测范围划分为第一区域至第N区域，分别计算第一区域至第N区域的弹塑性本构参数。通过计算应变梯度自动将待测范围划分为多个区域，能够在一次加载实验中自动完成待测范围的区域划分，无需在加载试验前通过硬度测试等方法进行人工分区，简化非均质材料弹塑性本构参数测量的过程。
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公开(公告)号：CN114419169A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202210086754.8
申请日：2022-01-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种多波段相机高精度超宽动态成像的优化方法和系统，涉及多波段检测领域，包括标定阶段和测量阶段；在标定阶段形成标定合成图像后，消除光路传输模块的第一层次系统误差，得到修正后的光路传输模块；消除光路传输模块的第二层次系统误差，得到需要被消除的残余色差畸变参数；在测量阶段，待测物辐射光经过修正后的光路传输模块，形成最终合成光路；多波段相机接收最终合成光路，反代入残余色差畸变参数，形成最终合成图像。本申请在标定阶段对光路传输模块中的各光学元件进行调整并消除系统误差，优化光路传输路径，如此，在对待测物进行测量时，可以提高多波段信息的接收准确性，从而能够提高成像质量。
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公开(公告)号：CN111351578B
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202010123464.7
申请日：2020-02-27
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法，涉及红外光测力学技术领域，温度测量系统包括双波段阵列图像采集装置和计算装置；在标定阶段，双波段阵列图像采集装置用于获取高温标定装置标定区的双波段辐射光的灰度阵列图像，计算装置用于获取矫正参数矩阵和系统响应参数矩阵；在测量阶段，双波段阵列图像采集装置用于获取待测物的双波段辐射光的灰度阵列图像，计算装置用于对待测物灰度阵列图像进行修正和数据提取，以及计算待测物的温度场。本发明首次在温度测量系统和温度测量方法中消除了各个滤波单元的质量差异、镜头畸变、色差、滤波单元与像元的集成误差等带来的共同影响，提高了测温系统及方法的精度。
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公开(公告)号：CN111351578A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010123464.7
申请日：2020-02-27
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法，涉及红外光侧力学技术领域，温度测量系统包括双波段阵列图像采集装置和计算装置；在标定阶段，双波段阵列图像采集装置用于获取高温标定装置标定区的双波段辐射光的灰度阵列图像，计算装置用于获取矫正参数矩阵和系统响应参数矩阵；在测量阶段，双波段阵列图像采集装置用于获取待测物的双波段辐射光的灰度阵列图像，计算装置用于对待测物灰度阵列图像进行修正和数据提取，以及计算待测物的温度场。本发明首次在温度测量系统和温度测量方法中消除了各个滤波单元的质量差异、镜头畸变、色差、滤波单元与像元的集成误差等带来的共同影响，提高了测温系统及方法的精度。
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