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公开(公告)号：CN114689556A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210289638.6
申请日：2022-03-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国科学院半导体研究所
IPC: G01N21/64
Abstract: 本申请公开了一种热原子束流分布的测量装置及方法，利用激光与原子的共振跃迁谱线，通过测量荧光信号强度，获取原子束流沿出射路径的分布。原子炉口及准直狭缝等物理结构的设计影响了原子束流的分布，目前物理结构的设计仅以原子束流分布的仿真结果为依据，实验测量原子束流的分布不仅对原子炉口设计进行了工程验证，而且对炉口的加工装配情况进行了工程测试。此外，为优化炉口的参数设计进一步改善原子束流分布提供了实验参考。根据实测的原子束流分布验证并优化物理系统的结构设计，抑制原子束流的发散角，改善原子束流的准直特性，有利于减少原子损失、提高原子利用效率、增加原子使用寿命，推动对原子束流分布的监测和控制。
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公开(公告)号：CN114659470B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202210290307.4
申请日：2022-03-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国科学院半导体研究所
IPC: G01B11/27
Abstract: 本申请公开了一种钙原子束光钟的原子束流准直特性的测量装置及方法。测量方法为：利用电动位移平台系统，对探测激光与钙原子共振跃迁的辐射荧光信号进行扫描测量，得到原子束流发射路径上不同位置的钙原子分布，实现原子束流准直特性的测量，包括束流发散角α和偏转角β。测量装置包括钙原子束流真空物理系统，激光锁频光路，探测光路，斩波器，锁相放大器及相应的电控装置。本申请在已有的原子炉口准直管设计基础上，利用原子与激光相互作用的荧光信号强度测量原子束流的z向分布边界，得到原子束流发射路径上不同位置的原子分布，以突破工程应用中加工及装配的限制，进一步提高原子束流量及原子束流准直特性。
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公开(公告)号：CN114659470A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202210290307.4
申请日：2022-03-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所 , 中国科学院半导体研究所
IPC: G01B11/27
Abstract: 本申请公开了一种钙原子束光钟的原子束流准直特性的测量装置及方法。测量方法为：利用电动位移平台系统，对探测激光与钙原子共振跃迁的辐射荧光信号进行扫描测量，得到原子束流发射路径上不同位置的钙原子分布，实现原子束流准直特性的测量，包括束流发散角α和偏转角β。测量装置包括钙原子束流真空物理系统，激光锁频光路，探测光路，斩波器，锁相放大器及相应的电控装置。本申请在已有的原子炉口准直管设计基础上，利用原子与激光相互作用的荧光信号强度测量原子束流的z向分布边界，得到原子束流发射路径上不同位置的原子分布，以突破工程应用中加工及装配的限制，进一步提高原子束流量及原子束流准直特性。
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公开(公告)号：CN119966407A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202411941481.6
申请日：2024-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于量子测控技术领域，具体涉及一种芯片原子钟内部ADC采样窗口自动调节电路及方法，旨在解决芯片原子钟温度的精确控制与对各调制解调伺服环路信号的精确控制的问题。本发明包括：DAC输出电平控制子电路、输入信号端、精密仪表放大器、数字电位器和ADC采样子电路；DAC输出电平控制子电路连接精密仪表放大器的反相输入端，输入信号端连接精密仪表放大器的正相输入端；数字电位器连接精密仪表放大器的增益控制端，精密仪表放大器的输出端连接ADC采样子电路。本发明能够对芯片原子钟的温度采集ADC窗口以及解调信号的ADC采集窗口进行自动调节，提升芯片原子钟激光器与原子气室的温度控制能力以及激光电流和压控晶振电流的伺服控制能力。
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公开(公告)号：CN119882389A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202411980324.6
申请日：2024-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种用于原子束光钟的窄线宽探测激光产生装置及方法，包括基于微腔参考的窄线宽激光器、掺镱光学频率梳激光器、第一拍频装置、第一伺服装置、分光器、转移探测基频激光器、第二拍频装置、第二伺服装置、转移探测激光二倍频模块、钟频探测基频激光器、第三拍频装置、第三伺服装置和钟频探测激光二倍频模块。本发明提供了一种用于原子束光钟的窄线宽探测激光产生装置及方法，用以解决现有探测激光产生系统由于体积、重量和功耗较大以及对冲击损伤敏感而导致钙原子束光钟可搬运性较差的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119861224A
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202411941486.9
申请日：2024-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种微波源测试装置、系统及其测试方法，微波源测试装置包括：微波器件适配模块和测试装置母板；微波器件适配模块通过接插件与测试装置母板连接；微波器件适配模块用于适配不同封装的待测微波器件，将不同封装的待测微波器件接入微波源测试装置；测试装置母板用于接收与待测微波器件的封装结构和接口类型对应的微波源测试参数模版，根据微波源测试参数模版对待测微波器件进行工作参数适配，并将待测微波器件产生的微波信号输出以对微波信号进行测试。通过简单的结构将不同封装结构的待测微波器件快速接入微波源测试装置；实现对待测微波器件的快速测试，降低器件装联、调试、测试难度、提高测试效率。
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公开(公告)号：CN119828353A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411967065.3
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种饱和吸收谱与线偏振光CPT差分探测系统及方法，系统包括：VCSEL激光器、透镜、偏振片、偏振分光棱镜、原子气室、分光片、光电探测器及差分放大器；偏振片包括第一λ/2波片、第二λ/2波片、第一λ/4波片和第二λ/4波片；光电探测器包括第一、第二、第三光电探测器；偏振分光棱镜包括第一、第二偏振分光棱镜；第二λ/2波片用于调节第二偏振分光棱镜的分光比；第二偏振分光棱镜用于筛选经第二λ/4波片后不同偏振方向的光束；差分放大器用于对第二光电探测器和第三光电探测器接收到第二偏振分光棱镜筛选后光束产生的信号做差分处理，通过上述系统，实现饱和吸收谱与线偏振光CPT信号差分探测有机结合，减小微型原子钟物理系统的体积与功耗。
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公开(公告)号：CN119596665A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411910966.9
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供的一种CPT原子钟物理部分线宽测试系统及方法，所述系统包括：上位机、线宽测试装置电路板、程控频率计数器及信号连接线；所述上位机、线宽测试装置电路板和程控频率计数器之间通过信号连接线连接；所述线宽测试装置电路板包括：MCU控制器，激光器、微波信号源，10MHz晶振，CPT原子钟物理部分；所述上位机用于通过上位机显控软件显示、设置并保存各种工作数据；所述线宽测试装置电路板，用于进行CPT原子钟物理部分线宽的频率测试；所述程控频率计数器用于读取并输出所述线宽测试装置电路板输出的频率数据，通过上述系统，实现了对CPT原子钟物理部分进行测试，从而促进各型物理部分以及CPT原子钟整机产品的研制生产效率。
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公开(公告)号：CN119446887A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411449657.6
申请日：2024-10-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H01J49/42
Abstract: 本申请公开了一种用于多离子囚禁的刀片阱装置和多离子囚禁方法，解决现有技术不能稳定囚禁多离子的问题。一种用于多离子囚禁的刀片阱装置，包含：射频电极、DC补偿电极。所述射频电极和所述DC补偿电极呈片状，且两个所述射频电极相对，两个所述DC补偿电极相对，以离子囚禁区为轴心成X型分布。所述DC补偿电极从靠近所述轴心一侧边沿沿所述轴心的径向分割成至少两个不互联通的分段。使用所述装置，多离子囚禁方法包括：在所述射频电极上施加射频信号及射频偏置电压；在DC补偿电极的多个分段施加不同的直流电压。本申请所提供装置和方法可以稳定地囚禁多离子，并保证较大的通光区域和离子收集区域。
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公开(公告)号：CN116256341B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211633792.7
申请日：2022-12-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N21/64
Abstract: 本申请公开了一种离子阱电极检测装置和检测方法，解决了离子阱电极位置的检测困难的问题。一种离子阱电极检测装置，包含激光器、聚焦透镜组、位移台和高真空离子囚禁系统。所述激光器发射的激光通过聚焦透镜组汇聚到高真空离子囚禁系统内。所述聚焦透镜组设置在位移台上。所述位移台调节聚焦透镜组与高真空离子囚禁系统的相对位置。检测激光光斑，确定是否产生荧光。本申请能够应用于量子精密测量、量子计算及质谱分析等领域，解决装配后离子阱电极位置难以检测，易引起离子囚禁不稳定的问题。
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