一种用于集成化VCSEL激光器的性能检测装置及方法

    公开(公告)号:CN119574064A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411941484.X

    申请日:2024-12-26

    Abstract: 本发明属于激光性能检测技术领域,并具体公开了一种用于集成化VCSEL激光器的性能检测装置及方法,包括:上位机下发控制指令至被测激光器控制模块以使被测激光器控制控制被测VCSEL激光器的工作温度、工作电流和工作频率;被测VCSEL激光器在所述工作温度、工作电流和工作频率下,输出特定波长的激光至耦合透镜组;耦合透镜组将接收的激光耦合进光纤传输至光纤分束器;光纤分束器将接收到的耦合的激光进行分束分别传输至法布里珀罗腔和波长计;法布里珀罗腔将接收到的激光分束进行处理得到法布里珀罗腔信号,并传输至上位机,以测量激光器线宽及激光器的调制强度;波长计将接收到的激光分束进行处理得到波长参数并传输至上位机,以测量激光器的波长。

    一种用于原子钟的准确度自动优化方法和装置

    公开(公告)号:CN118174723A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410465957.7

    申请日:2024-04-18

    Abstract: 本发明公开了一种用于原子钟的准确度自动优化方法和装置,用以方便有效地提高原子钟的准确度。所述方法包括:根据恒温晶振输出频率的分频数设定值、原子钟标称输出频率以及参考的原子能级跃迁相关频率,确定分频数整数部分、分频数小数部分的分子和分母,并设置锁相环芯片;确定输出频率平均值,计算准确度;确定当前压控振荡器输出频率;再次计算分频数小数部分分子和分母并对原分子和分母进行更新,并设置锁相环芯片;再次确定当前准确度,判断当前准确度是否优于更新前的准确度;若是,则重复上述步骤,再次对分频数小数部分的分子和分母进行更新,并对更新后准确度进行判断;若否,则确定更新前的分频数小数部分的分子和分母为最优值。

    一种工作温度可调的原子钟及制备方法

    公开(公告)号:CN119987176A

    公开(公告)日:2025-05-13

    申请号:CN202411967062.X

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本发明涉及精密光谱检测技术领域,公开一种工作温度可调的原子钟及制备方法,该原子钟包括封装壳体以及设置在封装壳体内的激光源、光强调节部件、原子气室、温控部件、检测部件和锁频模块,激光源用于产生激光,光强调节部件设置在激光源和原子气室之间,光强调节部件用于调节激光入射进原子气室前的激光光强,原子气室包括透明玻璃泡以及填充在透明玻璃泡内的碱金属和背景气体,温控部件设置在原子气室外,用于加热并维持原子气室至预设温度,预设温度可调,检测部件用于检测激光透过原子气室后的光强,锁频模块用于根据检测部件的检测信号控制激光源发射的激光频率。该原子钟适用范围较广,实用性和使用灵活性较佳。

    一种CPT原子钟磁场线圈常数的标定系统及方法

    公开(公告)号:CN119828434A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411941476.5

    申请日:2024-12-26

    Abstract: 本发明提供一种CPT原子钟磁场线圈常数的标定系统及方法,包括CPT原子钟、频率测量模块和上位机,其中:上位机用于设置测量次数,根据每次测量时的第一数字信号计算每次测量时的第三模拟信号,根据锁相环电路的分频数和每次测量的时钟信号的频率计算每次测量时的实际钟跃迁频率,并根据每次测量时的实际钟跃迁频率计算每次测量时的外磁场,最后根据多次测量时的外磁场和第三模拟信号进行线性拟合,得到磁场线圈常数。本发明提供了一种CPT原子钟磁场线圈常数的标定系统及方法,用以解决CPT原子钟中磁场线圈较小而无法测量以及由于施加了磁屏蔽而导致的电流分布计算比较复杂和仿真时无法准确仿真线圈的实际绕线情况的问题。

    原子吸收光谱检测装置、制作方法及原子气室的检测方法

    公开(公告)号:CN118190851A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410484781.X

    申请日:2024-04-22

    Abstract: 本发明公开一种原子吸收光谱检测装置、制作方法及原子气室的检测方法,该装置包括光纤连接模块,用于调制接收的光纤激光光束的功率,并将调制后的光纤激光光束转化为空间激光光束输出;入射光路模块,用于将所述空间激光光束分束为第一线偏振光和第一圆偏振光并分别输出;反馈模块,用于检测所述第一线偏振光的功率,并基于第一线偏振光的功率控制所述光纤连接模块的功率调制;第一光电探测器,用于检测通过待测原子气室而被所述待测原子气室中原子吸收后的所述第一圆偏振光,获得光谱信号。本发明检测装置的体积较小,结构更加紧凑、结实;通过检测装置对原子气室进行在线检测,能够保障原子气室拥有正常的功能及性能。

    一种芯片原子钟内部ADC采样窗口自动调节电路及方法

    公开(公告)号:CN119966407A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202411941481.6

    申请日:2024-12-26

    Abstract: 本发明属于量子测控技术领域,具体涉及一种芯片原子钟内部ADC采样窗口自动调节电路及方法,旨在解决芯片原子钟温度的精确控制与对各调制解调伺服环路信号的精确控制的问题。本发明包括:DAC输出电平控制子电路、输入信号端、精密仪表放大器、数字电位器和ADC采样子电路;DAC输出电平控制子电路连接精密仪表放大器的反相输入端,输入信号端连接精密仪表放大器的正相输入端;数字电位器连接精密仪表放大器的增益控制端,精密仪表放大器的输出端连接ADC采样子电路。本发明能够对芯片原子钟的温度采集ADC窗口以及解调信号的ADC采集窗口进行自动调节,提升芯片原子钟激光器与原子气室的温度控制能力以及激光电流和压控晶振电流的伺服控制能力。

    一种微波源测试装置、系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN119861224A

    公开(公告)日:2025-04-22

    申请号:CN202411941486.9

    申请日:2024-12-26

    Abstract: 本发明提供一种微波源测试装置、系统及其测试方法,微波源测试装置包括:微波器件适配模块和测试装置母板;微波器件适配模块通过接插件与测试装置母板连接;微波器件适配模块用于适配不同封装的待测微波器件,将不同封装的待测微波器件接入微波源测试装置;测试装置母板用于接收与待测微波器件的封装结构和接口类型对应的微波源测试参数模版,根据微波源测试参数模版对待测微波器件进行工作参数适配,并将待测微波器件产生的微波信号输出以对微波信号进行测试。通过简单的结构将不同封装结构的待测微波器件快速接入微波源测试装置;实现对待测微波器件的快速测试,降低器件装联、调试、测试难度、提高测试效率。

    一种CPT原子钟物理部分线宽测试系统及方法

    公开(公告)号:CN119596665A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411910966.9

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明实施例提供的一种CPT原子钟物理部分线宽测试系统及方法,所述系统包括:上位机、线宽测试装置电路板、程控频率计数器及信号连接线;所述上位机、线宽测试装置电路板和程控频率计数器之间通过信号连接线连接;所述线宽测试装置电路板包括:MCU控制器,激光器、微波信号源,10MHz晶振,CPT原子钟物理部分;所述上位机用于通过上位机显控软件显示、设置并保存各种工作数据;所述线宽测试装置电路板,用于进行CPT原子钟物理部分线宽的频率测试;所述程控频率计数器用于读取并输出所述线宽测试装置电路板输出的频率数据,通过上述系统,实现了对CPT原子钟物理部分进行测试,从而促进各型物理部分以及CPT原子钟整机产品的研制生产效率。

    一种激光频率标定装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118149983A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202311861931.6

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本说明书公开了一种激光频率标定装置,解决现有技术无法使用结构简单、性价比高的装置实现激光绝对频率的标定,装置包括:被测激光器,输出激光;第一分束器,将输出激光分为第一输出激光和第二输出激光;电信号产生模块,对第一输出激光进行干涉、光电转换,产生电信号;窗片,接收第二输出激光,并形成第一反射光、第二反射光和透射光;第二分束器反射后的光与第二反射光合并后形成第二合并光;原子气室,接收第二合并光并生成具有多普勒本底的饱和吸收光谱;原子气室还接收第一反射光并产成多普勒吸收谱;差分探测器,产生差分信号;上位机,实现被测激光器的绝对频率测量。本发明装置结构简单、性价比高,并且能实现激光的绝对频率的测量。

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