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公开(公告)号：CN117031151A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310923625.4
申请日：2023-07-26
Applicant: 北京无线电测量研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种变频组件输入P‑1指标检测方法、装置、存储介质系统。方法包括：控制信号源向被测变频组件输出第一预设功率的射频信号，使被测变频组件工作在线性区，获取被测变频组件输出信号的第一增益；控制信号源向被测变频组件输出第二预设功率的射频信号，获取被测变频组件输出信号的第二增益；其中，第二预设功率为技术要求规定的最小值P‑1；当第一增益与第二增益的差值小于或等于预设值时，确定被测变频组件P‑1测试值满足技术指标规定要求。本发明大大缩短了变频组件P‑1指标的测试时间，而且还能减少仪器数量，有效提高了自动测试的效率。
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