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公开(公告)号：CN112098754B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202010954067.4
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
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公开(公告)号：CN116871625A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310668797.1
申请日：2023-06-07
Applicant: 北京无线电测量研究所
IPC: B23K3/08
Abstract: 本发明涉及一种自动涂抹端子装置，属于端子涂抹技术领域。自动涂抹端子装置，包括工作台，所述工作台上设有点胶机构和伺服电机，所述点胶机构的下方设有用于夹紧端子的夹紧机构，所述伺服电机的输出端连接所述夹紧机构。有益效果：自动对端子涂抹，不但涂抹均匀，而且防止浪费涂抹材料，节约成本，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN117130304A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311083730.8
申请日：2023-08-25
Applicant: 北京无线电测量研究所
IPC: G05B19/042 , G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种通用型TR组件老化控制器，包括FPGA数字信号处理模块、ARM处理器模块、差分信号输入输出模块和以太网通讯模块，FPGA数字信号处理模块用于产生TR组件的波控信号，接收TR组件的回送信号数据并进行处理和存储；ARM处理器模块用于读取FPGA数字信号处理模块接收的回送信号数据、对FPGA数字信号处理模块产生TR组件波控信号进行控制、进行异常处理以及从以太网通讯模块接收上位机指令；差分信号输入输出模块与TR组件连接，用于对TR组件进行控制；以太网通讯模块用于从外置的上位机接收上位机指令。本发明可以实现TR组件老化的远程自动控制和快速换型，控制精细度高。
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公开(公告)号：CN119595630A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411745508.4
申请日：2024-12-02
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种微波模块智能检测平台和检测方法，所述微波模块智能检测平台包括翻转平台和检测平台，检测平台包括视觉检测设备、滑动导杆、视觉底座、支撑杆和旋转装置，视觉检测设备设置在滑动导杆上，用于拍摄微波模块的图像进行视觉检测，旋转装置设置在支撑杆上并且设置在视觉检测设备的下方，能够带动翻转平台旋转；翻转平台水平设置在支撑杆上并且设置在视觉检测设备的下方，包括气缸、弹性卡头、产品挡块、产品定位块、推动气缸接头、电机联轴器、伺服电机，伺服电机用于通过电机联轴器使旋转装置旋转，从而带动翻转平台旋转，实现微波模块的翻转和双面检测。本发明能够显著提升微波模块检测精度和效率，实现大批量生产过程的质量控制。
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公开(公告)号：CN116930658A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310913336.6
申请日：2023-07-24
Applicant: 北京无线电测量研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种微波组件老化间管理系统，包括物联网平台、数据采集主控系统、流量监控系统和老化温度监测系统，数据采集主控系统包括功率监测模块、组件控制模块和仪器控制模块，数据采集主控系统将采集到的功率数据、组件数据和仪器数据通过MQTT协议传送到物联网平台；流量监控系统用于对老化台的水流量进行监控和数据采集，并将采集到的流量数据通过MQTT协议传送到物联网平台；老化温度监测系统用于对老化过程中的微波组件温度进行监控和采集，并将采集到的温度数据通过MQTT协议传送到物联网平台。本发明能够实现微波组件老化间的关键数据的实时管控，实现微波组件及周围环境状态的实时监控。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112098753B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202010953086.5
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。
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公开(公告)号：CN113642172A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110924745.7
申请日：2021-08-12
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于微组装工艺的仿真操作系统及方法，涉及微组装工艺技术领域。该系统的虚拟漫游巡查系统用于以原始比例尺还原微组装工艺设备，生成虚拟仿真环境；实时监控系统用于对现实中的微组装工艺的操作过程进行监控，获取操作影像；虚拟漫游巡查系统还用于获取现实中的微组装工艺的操作过程中产生的操作数据；虚拟操作培训系统用于根据操作影像和操作数据，让使用者在虚拟仿真环境中进行微组装工艺的虚拟操作。本发明适用于微组装工艺的仿真模拟，在提升培训效率的同时还可以降低物料成本，能够提高操作的真实感和评价的可靠性，对于微组装这种操作要求较高的工艺，能够提高模拟仿真训练的效果。
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公开(公告)号：CN112098754A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202010954067.4
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。
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公开(公告)号：CN112098753A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202010953086.5
申请日：2020-09-11
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。
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公开(公告)号：CN115494822B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202211077780.0
申请日：2022-09-05
Applicant: 北京无线电测量研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种基于VR平台的设备数据分析方法和系统，大数据分析领域。该方法包括：采集多个设备的包括故障现象和故障原因的多个运行数据；对多个运行数据进行数据分类，并对每个运行数据设置阈值；根据分类及设置阈值后的多个运行数据构建故障经验库；通过VR平台采集待分析设备的实时运行数据，根据故障经验库对实时运行数据进行故障比对分析，获得故障判断结果；对故障判断结果、待分析设备的关键运行参数及故障判断结果对应的故障解决措施进行远程实时显示，通过本发明方案设备的运行状态可以实时监控，设备使用时的问题可以进行提前保养维护，对设备的历史数据得到有效利用，不需要人工现场凭借经验进行维修，工作效率高。
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