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公开(公告)号：CN117074919A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311078174.5
申请日：2023-08-25
Applicant: 兰州交通大学
Abstract: 本发明涉及芯片检测技术领域，尤其是一种用于数据处理的主控芯片检测设备及其控制方法，包括：测试座本体，所述测试座本体包括座体和翻转弹性压盖；空腔，所述空腔开设在所述座体内部；所述座体顶部开设有用于放置芯片的安装槽，所述座体顶部对应所述芯片检测点的位置上开设有检测孔，所述检测孔与所述空腔内连通；本发明通过设置泄压机构、在弹性伸缩检测杆对让位槽产生的压力超过预设值后，为弹性伸缩检测杆提供滑动空间，使得各处的弹性伸缩检测杆的伸缩量相同，有利于保证各个弹性伸缩检测杆能够与对应位置上的检测点充分接触的同时，避免弹性伸缩检测杆对厚度大的检测点造成损害，从而使得弹性伸缩检测杆适配不同厚度的检测点。
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